안녕하세요.

현재 저는 GaN 기반 MOS cap, transistor 연구 중이며 표면, 계면 트랩에 대한 연구가 필요합니다.

Deep level transient spectroscopy (DLTS), deep level optical spectroscopy (DLOS), photo-assisted C-V measurement가 가능한지 문의드립니다.

감사합니다.