특성평가팀장입니다.
현재 저희 장비중 XPS는 구비가 안되어 있습니다.
차후 도입예정인데 그때까지는 XPS를 분석하지는 못하구요.
표면 분석을 할수 있는 장비는 SIMS를 활용하는 방법이 있습니다.
SIMS의 경우는 표면부터 깊이 방향으로 어떤 원소가 어떻게 분포되어 있는지 확인하는 장비입니다.
SIMS에 대한 자세한 내용은 담당자인 차현구씨와 통화해보시기 바랍니다.
T : 054-279-0315
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↓ 원문 : 성재기 님께서 2015-01-19 14:05에 작성하신 글입니다. ↓
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시료 표면의 특정 원소의 성분변화를 알고 싶습니다.
XPS 분석 데이터를 좀 얻고 싶은데 어떤 장비로 이용신청을 해야 하는지, 분석료는 어떻게 되는지 알고싶습니다.
감사합니다.