안녕하세요,
나노융합기술원 입니다.
유선으로 답변 드렸습니다.
감사합니다.
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↓ 원문 : 김예별 님께서 2016-01-15 14:40에 작성하신 글입니다. ↓
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안녕하세요? 저는 화학공학과 박찬언 교수님 연구실에 소속된 김예별 입니다.
KPFM (Kelvin probe force microscope), EPM (electrostatic force microscope), conducting AFM 장비의 존재여부와 없다면 대체할 수 있는 실험이 있는지에 대해 문의드리고자 글을 남깁니다.
샘플은 2개인데, SiO2 기판 위에 코팅된 두께가 20 nm ~ 50 nm 정도되는 고분자 필름입니다.
두 필름은 semi-crystalline polymer 로서 1번 샘플은 결정성이 25 % 정도 되고 2번 샘플은 5 % 정도 됩니다.
제가 보고자 하는것은 1번 샘플보다 2번 샘플이 더 전기적으로 균일한 환경을 가지고 있다는 것입니다.
전자의 밀도나, 전자가 흐를 수 있는 path 에 대한 정보를 이미지로 얻고 싶습니다.
연구를 진행하는 데 있어 꼭 필요한 사항이니 가능한 실험에 대해서 조언 해 주시길 부탁드립니다.
감사합니다.
김예별 드림.
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