안녕하세요. 삼성전자에서 근무하는 강윤철이라고 합니다. (정확히는 삼성디스플레이에서 OLED 제품을 구매하여 응용제품을 만드는 부서입니다)

다름이 아니고, OLED 관련하여 문의사항이 있어서 글을 남깁니다. 기술원의 홍보 브로슈어에서 OLED 제조 및 분석이 가능하다고 한 내용을 보고 

문의드리는데요. 

OLED 를 실제 제품에 적용하는 과정에서 제조 공정상, 혹은 사용자가 사용하는 중 외부 충격 같은 여러가지 이유로 유기물을 보호하는 전, 배면의 TFE 층에 

파손이 발생하게 됩니다. 그런데, 이러한 파손이 외관상으로 이를 관찰하기가 쉽지 않고, 전원을 인가해서 소자가 죽은게 확인되었을 경우 이미 투습에 의해 

손상된 영역이 너무 커져 버려서 최초 TFE 박막층의 어느 영역에 크랙이 발생했는지에 대한 확인이 쉽지 않은 문제가 있습니다. 이에 기술원에서

1. 파손이 발생한 OLED 패널의 특정 영역(전원 인가시 소자가 죽은 부분)을 검사하여 파손이 시작된 위치 혹은 분포된 영역의 정확한 확인이 가능한지?

2. 나노 인덴터 등을 통해서 OLED 패널의 Hybrid TFE 층의 경도, 강도, 잔류 응력등의 파손에 영향을 미칠만한 특성값을 평가할 수 있는지, 혹은 

  언급되지 않은 특성값중에 파손에 영향을 미칠만한 특성값을 추천해 주실만한 것이 있는지 궁금합니다. 

코팅 관련 전문가가 아닌데 OLED 응용제품을 만들고 평가하는 과정에서 한계점을 느껴 관련 자료를 찾다가 융합기술원의 자료를 보고 문의 글을 남깁니다. 

감사합니다.