안녕하세요. NINT의 FIB/TKD로 TEM 시료를 제작하고, HR-[S]TEM-II로 이미지 촬영을 하려고 합니다. 

사용 예약에 참고하기 위해 소요 시간을 문의드립니다. 

제가 TEM 이미지를 측정할 시료는 2차원 적층 초전도체인 BSCCO flake 2개를 쌓은 시료로 총 높이가 300nm 이하입니다. 
촬영 목적은 두 BSCCO flake 사이의 계면에 불순물이 있는지 확인하는 것입니다. 

이전에 저희 연구실 선배가 h-BN/graphene/h-BN 적층 구조의 시료를 촬영할때, FIB 3시간, TEM 1시간 예약해서 촬영했다고 합니다. 

위에 설명드린 제 시료도 동일한 시간으로 예약하면 될지 문의드립니다.