장비 서비스 가능 시간 안내

[ SEM 1, 2, 3 서비스 스케쥴 표 ]

https://docs.google.com/spreadsheets/d/1v3P961F9BKCulasz7-gL0slnis-A98ICoV_wcabt98k/edit?usp=sharing

서비스 가능 시간 월~목 09:00 ~ 18:00

서비스 가능 시간 금 08:00 ~ 17:00

주간에 신청된 직접 사용은 서비스 분석 문의가 들어올 경우 일정이 변경될 수 있습니다.

장비 이용 수가 안내

1. 서비스 100,000원/시간

2. 직접 60,000원/시간

+) 야간 (18:00 ~ 익일 09:00)에 할증 적용하여 분석 가능합니다. (할증 50%)

예약 시 참고 사항

​1. 측정 샘플 문의 후 예약 신청 부탁드립니다.

+) 샘플 정보 요청사항에 기입 부탁드립니다.

① 파우더 및 자성 물질 유무

② 시료 사이즈 및 개수

- 사용하는 Holder 직경 32mm, 51mm입니다. 샘플 크기는 Holder 직경보다 작으면 가능합니다.

- 이미지 측정만 하시는 경우, 이미지 수에 따라 시간 당 샘플 5~8개까지 측정 가능합니다.

③ EDS / BSE

- EDS 분석 시 샘플에 따라 signal(cps)가 다르므로 시료가 많을 경우 문의 후 서비스 신청 부탁드립니다.

- EDS 분석 시 요청사항에 확인하려는 원소를 꼭 기재해 주세요.

  * Overlap 원소 : S-Mo-Pb / Na-Zn / Ni-La / Zr-Pt-P-Ir / Si-W-Ta-Rb / Al-Br / O-V / Mn-Fe-F *

- EDS와 BSE 동시에 가능합니다. (서비스만 가능, 직접 사용으로는 불가)

2. 서비스 시간은 샘플링부터 정리하는 시간까지 포함합니다.

3. 장비를 직접 사용하기 위해서는 장비 교육이 필요합니다.

4. 공용 PC 인터넷 됩니다. 최대한 USB가 아닌 메일로 가져가주세요.

- USB로 데이터를 직접 가져가실 경우 SEM PC가 아닌 공용 PC에서 옮겨주시기 바랍니다. (바이러스로 인한 개인 USB 사용 금지)

장비 취소 안내

1. 하루 전 취소 요청 : 패널티 없이 취소 가능

2. 당일 예약 시간 전 취소 요청 : 50% 청구

3. 당일 예약 시간 이후 취소 요청 : 100% 청구

장비 교육 안내

1. 교육 문의 : 신혜연 054-279-0286 / tgd4539@postech.ac.kr

- 직접 사용 교육은 사전에 일정을 협의하고 진행하고 있습니다.

- 직접 사용 교육을 원하시면 메일로 남겨주세요.

2. 교육 가능 특수모드 : EDS or BSE

- EDS Detector와 BSE Detector의 위치가 비슷하여, 사용 시 부딪힐 위험이 있어 특수 모드는 둘 중 하나만 교육 이수가 가능합니다.

3. 교육 시간

① 장비 기본 교육 최소 5시간 : 이론 교육 1시간 + 실습 3시간 + TEST 1시간

② 특수 모드(EDS or BSE) 교육 최소 3시간 : 이론 교육 1시간 + 실습 1시간 + TEST 1시간

4. 교육비 할인 적용 가능, 재료비는 별도 (Pt Coating 1회 10,000원)

***

장비 기본 교육은 아래와 같이 진행됩니다.

[ 1차) 이론 교육 + 실습 ] → [ 2차) 실습 ] → [ 3차) 실습 ] → [ TEST 및 라이센스 부과 ]

장비 기본 교육 라이센스 취득 이후 직접사용 세 번 이상 사용하신 분에 한하여 추가로 EDS or BSE 교육을 이수하실 수 있습니다.

특수 모드 (EDS or BSE) 교육은 아래와 같이 진행됩니다.

[ 1차) 이론 교육 + 실습 ] → [ 2차) 실습 ] → [ TEST 및 라이센스 부과 ]

***

1차 교육은 한 번에 3명까지 같이 이수 가능하시며, 같이 수강하시더라도 교육비용은 인당 2시간에 해당되는 비용이 청구가 됩니다.

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교육 시 자주 분석하는 샘플을 가져오시면 샘플에 맞게 교육이 진행됩니다.

교육 시 측정 가능한 샘플 수는 장비 기본 교육 최대 5개, EDS or BSE 교육 최대 2개까지 가능합니다. (샘플에 따라 개수가 상이할 수 있습니다.)

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이론 교육 및 실습은 서비스 수가, TEST는 직접사용 수가가 적용됩니다.

장비 사양 

1. SE image resolution

- 0.7 nm guaranteed or better (at 15kV, GB mode)

- 1.2nm guaranteed or better (at 1kV, GB mode)

- 0.7 nm guaranteed or better (at 1kV, GBSH mode)

- 3.0nm guaranteed or better (at 5kV, 5nA, WD10mm)

2. Accelerating voltage : 0.01 to 30 kV (SEM mode &GB mode) or wider

3. Sample bias voltage : 0 to 2kV

4. Probe current : pA to 500nA or better

5. Magnification : x25 to 1,000,000

6. Electron Gun : In-lens Schottky Plus field emission electron gun

7. Objective lens : Super Hybrid Lens

8. Dual EDS Detector System : LN2 Free SDD type , 150mm 2 or larger

9. Energy resolution : ≤127eV at 20,000cps, (Mn Ka) or better