장비 서비스 가능 시간 안내

서비스 가능 시간 월~금 09:00 ~ 18:00

주간에 신청된 직접 사용은 서비스 분석 문의가 들어올 경우 일정이 변경될 수 있습니다.

장비 이용 수가 안내

1. 서비스 100,000원/시간

2. 직접 60,000원/시간

+) 야간 (18:00 ~ 익일 09:00)에 할증 적용하여 분석 가능합니다. (할증 50%)

예약 시 참고 사항

​1. 측정 샘플 문의 후 예약 신청 부탁드립니다.

+) 샘플 정보 요청사항에 기입 부탁드립니다.

① 파우더 및 자성 물질 유무

② 시료 사이즈 및 개수

- 사용하는 Holder 직경 32mm, 51mm입니다. 샘플 크기는 Holder 직경보다 작으면 가능합니다.

- 이미지 측정만 하시는 경우, 이미지 수에 따라 시간 당 샘플 5~8개까지 측정 가능합니다.

- EDS 성분분석을 진행하시는 경우 요청사항에 미리 기재해주시기 바랍니다.

③ EDS / BSE

- EDS 분석 시 샘플에 따라 signal(cps)가 다르므로 시료가 많을 경우 문의 후 서비스 신청 부탁드립니다.

- EDS 분석 시 요청사항에 확인하려는 원소를 꼭 기재해 주세요.

  * Overlap 원소 : S-Mo-Pb / Na-Zn / Ni-La / Zr-Pt-P-Ir / Si-W-Ta-Rb / Al-Br / O-V / Mn-Fe-F *

- EDS와 BSE 동시에 가능합니다. (서비스만 가능, 직접 사용으로는 불가)

2. 서비스 시간은 샘플링부터 정리하는 시간까지 포함합니다.

- 장비는 서비스 우선으로 운영되고 있으며, 직접사용은 야간사용을 권장하고 있습니다.

- 서비스 문의가 들어올 시 직접사용 신청 시간변경을 요청드릴 수 있습니다.

3. 장비를 직접 사용하기 위해서는 장비 교육이 필요합니다.

4. 공용 PC 인터넷 됩니다. 최대한 USB가 아닌 메일로 가져가주세요.

- USB로 데이터를 직접 가져가실 경우 SEM PC가 아닌 공용 PC에서 옮겨주시기 바랍니다. (바이러스로 인한 개인 USB 사용 금지)

장비 취소 안내

1. 하루 전 취소 요청 : 패널티 없이 취소 가능

2. 당일 예약 시간 전 취소 요청 : 50% 청구

3. 당일 예약 시간 이후 취소 요청 : 100% 청구

장비 교육 안내

1. 교육 문의 : 박수빈 054-279-0286 / soobin1195@postech.ac.kr

- 직접 사용 교육은 사전에 일정을 협의하고 진행하고 있습니다.

- 직접 사용 교육을 원하시면 메일로 남겨주세요.

2. 교육 가능 특수모드 : EDS or BSE

- EDS Detector와 BSE Detector의 위치가 비슷하여, 사용 시 부딪힐 위험이 있어 특수 모드는 둘 중 하나만 교육 이수가 가능합니다.

3. 교육 시간

① 장비 기본 교육 최소 5시간 : 이론 교육 1시간 + 실습 3시간 + TEST 1시간

② 특수 모드(EDS or BSE) 교육 최소 3시간 : 이론 교육 1시간 + 실습 1시간 + TEST 1시간

4. 교육비 할인 적용 가능, 재료비는 별도 (Pt Coating 1회 10,000원)

***

장비 기본 교육은 아래와 같이 진행됩니다.

[ 1차) 이론 교육 + 실습 ] → [ 2차) 실습 ] → [ 3차) 실습 ] → [ TEST 및 라이센스 부과 ]

장비 기본 교육 라이센스 취득 이후 직접사용 세 번 이상 사용하신 분에 한하여 추가로 EDS or BSE 교육을 이수하실 수 있습니다.

특수 모드 (EDS or BSE) 교육은 아래와 같이 진행됩니다.

[ 1차) 이론 교육 + 실습 ] → [ 2차) 실습 ] → [ TEST 및 라이센스 부과 ]

***

1차 교육은 한 번에 3명까지 같이 이수 가능하시며, 같이 수강하시더라도 교육비용은 인당 2시간에 해당되는 비용이 청구가 됩니다.

***

교육 시 자주 분석하는 샘플을 가져오시면 샘플에 맞게 교육이 진행됩니다.

교육 시 측정 가능한 샘플 수는 장비 기본 교육 최대 5개, EDS or BSE 교육 최대 2개까지 가능합니다. (샘플에 따라 개수가 상이할 수 있습니다.)

***

이론 교육 및 실습은 서비스 수가, TEST는 직접사용 수가가 적용됩니다.

장비 사양 

1. SE image resolution

- 0.7 nm guaranteed or better (at 15kV, GB mode)

- 1.2nm guaranteed or better (at 1kV, GB mode)

- 0.7 nm guaranteed or better (at 1kV, GBSH mode)

- 3.0nm guaranteed or better (at 5kV, 5nA, WD10mm)

2. Accelerating voltage : 0.01 to 30 kV (SEM mode &GB mode) or wider

3. Sample bias voltage : 0 to 2kV

4. Probe current : pA to 500nA or better

5. Magnification : x25 to 1,000,000

6. Electron Gun : In-lens Schottky Plus field emission electron gun

7. Objective lens : Super Hybrid Lens

8. Dual EDS Detector System : LN2 Free SDD type , 150mm 2 or larger

9. Energy resolution : ≤127eV at 20,000cps, (Mn Ka) or better