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Equipment 물리분석 원자구조분석 |
HR-(S)TEM -2200FS with Image Cs-corrector 구면수차보정 투과전자현미경 |
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| 모델명 | JEM-2200FS(with Image Spherical Aberration Corrector) | |
| 제조사 | JEOL | |
| 용도 | 투과빔에 의한 나노구조/성분 분석 /시험분석(나노입자지름 측정) (TEM/BF/DF/SAED/STEM/BF/HAADF/EDS/EF-TEM(EELS Mapping)) | |
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HR-[S]TEM-Ⅰ(2100F with Probe Cs-Corrector) 구면수차보정 투과전자현미경 |
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| 모델명 | JEOL JEM-2100F (with Cs Corrector on STEM) | |
| 제조사 | JEOL | |
| 용도 | 투과전자빔에 의한 나노단위의 구조분석 및 원소분석 | |
