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Equipment 물리분석 표면구조분석 |
High Resolution FE-SEM-Ⅳ (JSM-IT710HR) 고분해능 전계방출형 주사전자현미경 |
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| 모델명 | JSM-IT710HR | |
| 제조사 | JEOL | |
| 용도 | 나노재료의 표면 및 형태관찰/성분분석 EDS | |
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3D Conforcal Scanning Microscope (3DCSM) 비접촉 3D 형상측정기 |
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| 모델명 | OPTELICS HYMRID C3 | |
| 제조사 | Lasertec | |
| 용도 | 비접촉 3D 형상측정 | |
| 사용불가 장비 | 까지 | |
| 사용불가 사유 | 담당자 부재로 대응 불가능 | |
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Atomic Force Microscope-Ⅰ(D 3100) / AFM-Ⅰ 원자탐침현미경 |
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| 모델명 | VEECO Dimension 3100 + Nanoscope V (Version 7.0) | |
| 제조사 | VEECO | |
| 용도 | Atomic Force Microscope / 표면분석/ MFM/ EFM/ AFM/ | |
| 사용불가 장비 | 2033-10-01까지 | |
| 사용불가 사유 | 스케너 손상 | |
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Atomic Force Microscope-Ⅱ(Jupiter XR) / AFM-Ⅱ 원자탐침현미경 |
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| 모델명 | Jupiter XR | |
| 제조사 | Oxford Instruments | |
| 용도 | Atomic Force Microscope/표면분석/Tapping mode/Contact mode/KPFM/AMFM | |
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High Resolution FE-SEM-I (JSM 7401F) 고분해능 전계방출 주사전자현미경 |
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| 모델명 | JEOL JSM-7401F | |
| 제조사 | JEOL | |
| 용도 | 나노재료의 표명 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ BEI/EDS | |
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High Resolution FE-SEM-Ⅱ (JSM 7800F PRIME with Dual EDS) 전계 방출형 주사전자현미경 |
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| 모델명 | JSM-7800F Prime | |
| 제조사 | JEOL Ltd. | |
| 용도 | 나노재료의 표면 관찰(LED,UED,BED) 및 성분분석(EDS) , 단면 두께 관찰 | |
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High Resolution FE-SEM-Ⅲ (HITACHI S-4800) 전계 방출 형태 주사 전자 현미경 |
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| 모델명 | S-4800 | |
| 제조사 | HITACHI | |
| 용도 | 나노재료의 표면 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ EDS | |
