접수번호: 12-A0038989
장비이용 신청 내역서
◆ 신청자 기본정보
신청일
2012-11-30
기관명
신청자
전화번호
휴대전화
메일
◆ 신청내용
접수번호
12-A0038989
구분
물리분석팀 그룹
이용목적
연구과제
장비명
Atomic Force Microscope-Ⅰ(D 3100) / AFM-Ⅰ
이용희망 시작일
2012-12-10 [10]시
이용희망 종료일
2012-12-10 [12]시
◆ Wafer/시편정보
Wafer/시편재질
Wafer/시편두께 및 장수
두께 :
장수 : 장
Wafer/시편크기
인치
공정/분석 물질정보
◆ 요청사항
샘플 표면 조도 분석
2026년 07월 27일
