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B0000055-061005-A0001 | |||
| Thickness Measurement | ||||
| 박막두께측정기 | ||||
| Therma Wave | ||||
| OP2 | ||||
| 8 | ||||
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패턴된 Wafer의 박막의 두께 측정 | |||
장비상세설명
장비사용료
| 패턴된 Wafer의 박막의 두께 측정 | 회/매 | 0 | 10,000 | 매 단위 | |
- 포항공과대학교 및 현금 출자기관 사용자는 장비사용료에서 20% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
- 이용자협의회 사용자는 장비사용료에서 10% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
- 장비사용료 청구 는 익월초 일괄 정산합니다. 단, 요청시 당월 발행도 가능합니다.
장비담당자
| 강성민 | 054-279-0228 | ggang25@postech.ac.kr |






