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4 Point Probe-1 | |||
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4단 면저항 측정기 | |||
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에이아이티 | |||
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4PP | |||
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1mΩ/sq ~ 2MΩ/sq | |||
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금속 박막 및 Doped Si Layer의 면저항 측정 | ||
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장비상세설명
장비사용료
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| 금속 박막 및 Doped Si Layer의 면저항 측정 | 회/매 | 20,000 | 20,000 | 매 단위 | |
- 포항공과대학교 및 현금 출자기관 사용자는 장비사용료에서 20% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
- 이용자협의회 사용자는 장비사용료에서 10% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
- 장비사용료 청구 는 익월초 일괄 정산합니다. 단, 요청시 당월 발행도 가능합니다.
장비담당자
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| 임태화 | 054-279-0223 | iiiaaa@nano.or.kr |
