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장비목록보기
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B0000055-052008-A0001 | ||
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HR FE-SEM | |||
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전계방출전자현미경 | |||
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JEOL | |||
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JEOL JSM-7401F | |||
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1nm | |||
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나노재료의 표면 및 형태관찰 | ||
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장비상세설명
장비사용료
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| 나노재료의 표면 및 형태관찰 | 1시간 | 50,000 | 70,000 | 1시간 단위, EDS사용1시간추가 | |
- 포항공과대학교 및 현금 출자기관 사용자는 장비사용료에서 20% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
- 이용자협의회 사용자는 장비사용료에서 10% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
- 장비사용료 청구 는 익월초 일괄 정산합니다. 단, 요청시 당월 발행도 가능합니다.
장비담당자
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| 박현진 | 054-279-0224 | kloveh@postech.ac.kr |
