나노융합기술원에서는 반도체 소재분석을 위한 첨단 표면 분석 기술 워크샵을 개최합니다.
AFM(원자현미경) 및 Raman 분광 기술을 활용한 실제 분석 사례와 실시간 데모 시연을 통해,
연구 현장에서의 실질적인 활용 방안을 소개합니다.
구성원 여러분의 많은 관심과 참여 부탁드립니다.

 
· 행사명 : 반도체 소재 분석을 위한 첨단 표면 분석 기술 워크숍
· 주최 : OXFORD INSTRUMENTS
· 주관 : 나노융합기술원
· 일시 : 2025.11.05.(수) 10:00~16:00 
· 장소 : 나노융합기술원 1층 대강당(오전) / 제2분석실 Jupiter Room(오후)
· 내용 : AFM / Raman 원리와 응용 소개 및 데모 시연 
· 문의 : 정가연 부장 (Gayeon.jung@oxinst.com, 010-6716-6462)
· 신청 : 이미지 클릭 또는 링크 클릭
 

 * 오후 데모 세션은 공간 여건상 선착순 15명으로 운영됩니다. 
  접수 순번에 따라 오후 데모 참여가 제한될 수 있음을 양해해 주시기 바라며,
  해당되시는 분께는 개별 안내를 드릴 예정입니다. *