| 휴가일수 | 사용일수 | 잔여일수 | ||
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| 이월 | 당해 | 계 | ||
| 일 | 일 | 0일 | 0일 | 0 일 |
| 구분 | 연간 교육 | 이수 시간 | 잔여 시간 |
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| 시간 |
| 작성자 | 관리자 | 등록일 | 2016-10-10 | 조회수 | 9,419 | ||
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| 첨부파일 | |||||||
| 상태 | |||||||
신규 도입장비 서비스 개시
FE-SEM 7800F Prime(High Resolution FE-SEM - II (Dual EDS))
<사양>
Dual EDS 기능 / 빠른스켄 / 정확한 분석 능력
• Resolution
- 0.7nm guaranteed or better (at 15kV, GB mode)
- 1.2nm guaranteed or better (at 1kV, GB mode)
- 0.7nm guaranteed or better (at 1kV, GBSH mode)
- 3.0nm guaranteed or better (at 5kV, 5nA, WD10mm)
• Image mode
- Secondary-electron image
- Backscattered-electron image
- SE + BSE mixed image
• EDS System
- 64bit Micro-analytical Processor
- LN2 Free Silicon Drift Detector, 150mm2 or larger
- Twin EDS Detector System
- Energy resolution : ≤127eV at 20,000cps, (Mn Ka) or better
- Cobalt Standard sample
☎ 장비담당자 : 최찬호 연구원 (054-279-0225)