Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) 장비일지

 기자재관리번호 : B0000055-092005-A0001
No 장비이용내역 이용내역 사용자 장비이용료
시작일 종료일 세부내용 기관명 부서(학과명) 성명 확정금액
1 2010-01-04 14시 18시 N 분석법 개발 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 0원
2 2010-01-06 10시 18시 B dping concentration 8개
depth profile		 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 960,000원
3 2010-01-07 10시 16시 SIMS depth profile 한국광기술원 LED소자팀 정탁 360,000원
4 2010-01-11 10시 17시 B doping concentration 5개, P doping concentration 2개
depth profile		 Meridian Solar & Display Solar 사업부 제조그룹 최용훈 840,000원
5 2010-01-15 10시 18시 SIMS image 측정 포스코 선재연구그룹 양요셉 540,000원
6 2010-01-18 15시 18시 불순물 성분조사 일본전기초자한국주식회사 품질보증부 최휴경 360,000원
7 2010-01-19 09시 18시 SIMS depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김보화 900,000원
8 2010-01-25 09시 18시 SIMS depth profile (31P) 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 600,000원
9 2010-01-26 09시 18시 SIMS depth profile (31P) 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 720,000원
10 2010-02-01 10시 14시 GaN depth profile 서울대학교 재료공학부 김종학 480,000원
11 2010-02-04 09시 18시 image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 450,000원
12 2010-02-05 14시 17시 depth profile 포항공과대학교 기계공학과 유효봉 270,000원
13 2010-02-11 09시 13시 교육 포항공과대학교 융합기술부 신훈규 480,000원
14 2010-02-11 14시 18시 교육 포항공과대학교 융합기술부 신훈규 480,000원
15 2010-02-12 09시 13시 교육 포항공과대학교 융합기술부 신훈규 480,000원
16 2010-02-16 10시 12시 depth profile glass 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 120,000원
17 2010-02-16 13시 18시 Si-B nano ball 분석 (주)나노볼 부설연구소 이찬희 360,000원
18 2010-02-17 09시 12시 H분석 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 180,000원
19 2010-02-19 13시 18시 depth profile 서울대학교 재료공학부 김종학 960,000원
20 2010-02-22 09시 17시 Si-B depth profile 에이피티씨(주) APIS팀 서상일 720,000원
21 2010-02-23 09시 13시 교육 포항공과대학교 융합기술부 신훈규 480,000원
22 2010-02-23 14시 18시 Si-B nano ball depth profile (주)나노볼 부설연구소 이찬희 480,000원
23 2010-02-24 09시 13시 교육 포항공과대학교 융합기술부 신훈규 480,000원
24 2010-02-24 14시 18시 교육 포항공과대학교 융합기술부 신훈규 480,000원
25 2010-02-25 09시 12시 Si-B 분석 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 360,000원
26 2010-02-25 17시 24시 Si-B 분석 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 840,000원
27 2010-02-26 13시 16시 Fe의 C, O, Al, Si, Mn 분석 포항공과대학교 기계공학과 장덕석 360,000원
28 2010-03-02 15시 18시 a-Si B 분석 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 180,000원
29 2010-03-03 10시 15시 Si-B depth profile 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 480,000원
30 2010-03-05 15시 17시 Si-P depth profile 경북대학교 정상훈 108,000원
31 2010-03-09 10시 12시 a-Si의 H 분석 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 180,000원
32 2010-03-10 09시 16시 NbO depth profile 포항공과대학교 Department of Chemical Engineering Dinesh Chand Bharti 630,000원
33 2010-03-11 09시 10시 a-Si/SiO2/Si에서 Cl 분석 KEC 신기술연구팀 구교헌 108,000원
34 2010-03-11 10시 23시 SIMS depth profile (Fe, C, O, Al, Si, Mn) 포항공과대학교 기계공학과 장덕석 1,170,000원
35 2010-03-16 10시 17시 SIMS image scan 한국기계연구원 재료연구소 신금속재료연구부 홍현욱 648,000원
36 2010-03-18 09시 18시 SIMS depth profile 대구테크노 파크 나노융합실용화센터 나노융합개발팀 이성호 960,000원
37 2010-03-19 13시 17시 SIMS image scan 한국기계연구원 재료연구소 신금속재료연구부 홍현욱 324,000원
38 2010-03-22 09시 15시 SIMS depth profile SiO/SiO2/Si KEC 신기술연구팀 구교헌 648,000원
39 2010-03-23 09시 13시 SIMS depth profile SiO/SiO2/Si KEC 신기술연구팀 구교헌 552,000원
40 2010-03-24 14시 20시 SIMS depth profile Si-B 에이피티씨(주) APIS팀 서상일 720,000원
41 2010-03-25 09시 18시 SIMS image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 654,000원
42 2010-03-26 11시 18시 solar cell depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
43 2010-03-29 13시 18시 SIMS depth profile 정량분석 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 270,000원
44 2010-03-30 09시 13시 solar cell depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
45 2010-03-30 14시 16시 solar cell depth profile 영남대학교 물리학과 이광원 240,000원
46 2010-04-01 10시 16시 금속 수소분석 이미지 스켄 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 360,000원
47 2010-04-02 10시 12시 SIMS image scan 포항공과대학교 기계공학과 허준성 180,000원
48 2010-04-05 09시 17시 철강 이미지 스켄 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 480,000원
49 2010-04-06 09시 19시 SIMS depth profile 연세대학교 신소재공학과 김선욱 1,200,000원
50 2010-04-06 19시 22시 SIMS depth profile B분석 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 400,000원
51 2010-04-07 13시 16시 SIMS depth profile B분석 RIST 분석평가센터 정세훈 270,000원
52 2010-04-08 09시 12시 SIMS depth profile B분석 에이피티씨(주) APIS팀 서상일 600,000원
53 2010-04-08 13시 18시 SIMS image mapping 한국기계연구원 재료연구소 신금속재료연구부 홍현욱 324,000원
54 2010-04-09 14시 18시 SIMS depth profile P분석 영남대 물리학과 배상윤 360,000원
55 2010-04-12 14시 18시 SIMS depth profile 포항공과대학교 기계공학과 유효봉 270,000원
56 2010-04-13 13시 16시 SIMS depth profile Ge-B분석 서울대학교 재료공학부 신건욱 360,000원
57 2010-04-14 11시 19시 금속 이미지 스켄 330,000원
58 2010-04-15 09시 18시 SIMS depth profile B분석 에이피티씨(주) APIS팀 서상일 720,000원
59 2010-04-16 09시 18시 SIMS depth profile 희성전자 TSP 정상철 972,000원
60 2010-04-19 13시 23시 SIMS depth profile 영남대 물리학과 배상윤 720,000원
61 2010-04-20 09시 18시 SIMS depth profile 에이피티씨(주) APIS팀 서상일 720,000원
62 2010-04-26 09시 13시 SIMS depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 270,000원
63 2010-04-26 13시 19시 SIMS depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 720,000원
64 2010-04-27 09시 15시 SIMS depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 720,000원
65 2010-04-28 09시 13시 B, P 정량분석 LG.PHILIPS Displays 박장순 432,000원
66 2010-04-28 13시 15시 Si-P 정량분석 미리넷솔라 연구소 전민수 240,000원
67 2010-04-29 09시 18시 Si-B 정량분석 에이피티씨(주) APIS팀 서상일 720,000원
68 2010-04-30 09시 19시 SIMS depth profile CIGS 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 1,080,000원
69 2010-05-03 09시 18시 Si-B 분석 에이피티씨(주) APIS팀 서상일 720,000원
70 2010-05-04 09시 11시 SIMS depth profile 포항공과대학교 기계공학과 유효봉 192,000원
71 2010-05-04 13시 18시 SIMS depth profile 서울대학교 재료공학부 이건훈 360,000원
72 2010-05-06 09시 19시 SIMS depth profile 한국원자력연구원 방사성폐기물기술개발부 조동건 1,200,000원
73 2010-05-07 06시 12시 SIMS Depth profile P, B, H분석 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 576,000원
74 2010-05-07 12시 18시 SIMS depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 648,000원
75 2010-05-07 18시 24시 SIMS depth profile B,P 분석 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 720,000원
76 2010-05-10 09시 14시 SIMS depth profile B, P 분석 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 600,000원
77 2010-05-10 14시 18시 SIMS image scan, depth profile 포스코 선재연구그룹 양요셉 384,000원
78 2010-05-11 13시 18시 CIGS depth Profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 480,000원
79 2010-05-12 13시 16시 SIMS image scan, depth profile 제일모직 Frontier Discovery Gr. 심대섭 288,000원
80 2010-05-12 16시 18시 SIMS depth profile Si-B분석 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 192,000원
81 2010-05-13 10시 18시 SIMS depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 480,000원
82 2010-05-14 09시 14시 SIMS depth profile Cr, Ni, Cu TS생산기술 이한희 600,000원
83 2010-05-17 09시 15시 SIMS depth profile, image scan 포스코 선재연구그룹 양요셉 576,000원
84 2010-05-18 14시 18시 SIMS image scan 포항공과대학교 신소재공학과 권기혁 96,000원
85 2010-05-19 09시 22시 SIMS depth profile 포항공과대학교 NINT 신훈규 1,580,000원
86 2010-05-20 10시 16시 SIMS depth profile 포항공과대학교 MSE 송양희 576,000원
87 2010-05-24 09시 13시 SIMS depth profile 나노기술집적센터 연구기획실 김관도 480,000원
88 2010-05-24 13시 15시 SIMS imagescan 포항공과대학교 기계공학과 허준성 192,000원
89 2010-05-25 09시 18시 SIMS depth profile 부산대학교 기계공학부 배공명 1,080,000원
90 2010-05-27 09시 19시 SIMS depth profile 하하일렉콤 전상철 400,000원
91 2010-05-31 09시 18시 SIMS depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 480,000원
92 2010-06-01 09시 18시 SIMS image scan 포항공과대학교 신소재공학과 권기혁 360,000원
93 2010-06-03 09시 17시 SIMS depth profile, image scan 포항공과대학교 신소재공학과 설재복 1,200,000원
94 2010-06-03 17시 19시 SIMS depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 황인찬 240,000원
95 2010-06-04 10시 11시 SIMS Al 정량분석 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 135,000원
96 2010-06-04 14시 16시 SIMS depth profile 광주과학기술원 솔라에너지연구소 정연길 150,000원
97 2010-06-07 09시 11시 SIMS image scan 포항공과대학교 NINT 설재복 240,000원
98 2010-06-07 13시 20시 CIGS SIMS depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 840,000원
99 2010-06-08 09시 18시 SIMS depth profile KEC 신기술연구팀 구교헌 1,080,000원
100 2010-06-09 11시 16시 SIMS depth profile 광주과학기술원 솔라에너지연구소 정연길 600,000원
101 2010-06-10 09시 14시 Si-B, Fe, P 분석 Meridian Solar & Display Solar 사업부 제조그룹 최용훈 540,000원
102 2010-06-10 14시 19시 SIMS depth profile CIGS 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 600,000원
103 2010-06-11 10시 11시 SIMS depth profile 광주과학기술원 솔라에너지연구소 정연길 150,000원
104 2010-06-11 13시 17시 SIMS depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 480,000원
105 2010-06-11 17시 18시 Si-P doping profile 포항공과대학교 신소재공학과 황인찬 120,000원
106 2010-06-14 09시 18시 SIMS depth profile 홍익대학교 금속공학과 임근웅 750,000원
107 2010-06-15 08시 12시 SIMS depth profile CIGS 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 480,000원
108 2010-06-16 10시 11시 SIMS depth profile LG.PHILIPS Displays 박장순 135,000원
109 2010-06-16 13시 18시 SIMS depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 600,000원
110 2010-06-17 09시 18시 SIMS image scan 포항공과대학교 철강대학원 문동준 1,200,000원
111 2010-06-18 09시 18시 장비점검 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 0원
112 2010-06-21 13시 16시 SIMS image scan 포항공과대학교 신소재공학과 권기혁 120,000원
113 2010-06-22 10시 12시 SIMS depth profile 광주과학기술원 솔라에너지연구소 정연길 300,000원
114 2010-06-23 13시 17시 SIMS depth profile 경북대학교 금속신소재공학과 사공성대 600,000원
115 2010-06-24 09시 13시 SIMS 교육 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
116 2010-06-24 14시 15시 Depth profile LG.PHILIPS Displays 박장순 135,000원
117 2010-06-25 14시 18시 SIMS 교육 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
118 2010-06-30 16시 18시 SIMS image scanning POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 240,000원
119 2010-07-01 16시 17시 SIMS scan 대구경북과학기술원 경북에너지기술사업단 김동환 135,000원
120 2010-07-02 10시 11시 SIMS depth profile LG.PHILIPS Displays 박장순 135,000원
121 2010-07-06 15시 18시 SIMS depth profile 영남대 물리학과 배상윤 360,000원
122 2010-07-07 09시 10시 B 분석 LG.PHILIPS Displays 박장순 135,000원
123 2010-07-08 10시 20시 SIMS depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 1,350,000원
124 2010-07-09 09시 19시 SIMS depth profile, image scan 포스텍 신소재공학과 전영수 1,200,000원
125 2010-07-12 09시 18시 SIMS depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 675,000원
126 2010-07-14 09시 19시 SIMS depth profile B분석 경북대학교 금속신소재공학과 김병석 1,500,000원
127 2010-07-19 09시 18시 장비점검 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 0원
128 2010-07-20 09시 18시 장비점검 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 0원
129 2010-07-21 09시 18시 장비점검 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 0원
130 2010-07-21 18시 19시 B 분석 LG.PHILIPS Displays 박장순 135,000원
131 2010-07-22 10시 11시 SIMS depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 135,000원
132 2010-07-22 11시 21시 Si-C 분석 연세대학교 신소재 공학과 구상모 675,000원
133 2010-07-23 09시 12시 Depth profile 대구가톨릭대학교 전자공학과 김화민 360,000원
134 2010-07-26 09시 12시 SIMS image scan POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 240,000원
135 2010-07-26 13시 18시 CIGS depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 600,000원
136 2010-07-27 09시 17시 Si-P depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 1,080,000원
137 2010-07-28 09시 17시 Si-P depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 1,080,000원
138 2010-07-29 13시 15시 SIMS depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 270,000원
139 2010-07-30 10시 19시 SIMS image scan 포항공과대학교 신소재 임남석 720,000원
140 2010-08-02 10시 16시 SIMS image scan POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 240,000원
141 2010-08-03 10시 13시 depth profile Meridian Solar & Display Solar 사업부 제조그룹 최용훈 270,000원
142 2010-08-03 15시 21시 CIGS 분석 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 720,000원
143 2010-08-04 10시 15시 CIGS depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지연구팀 임명근 675,000원
144 2010-08-05 10시 12시 SIMS depth profile 포스텍 전자전기공학과 조정현 240,000원
145 2010-08-05 13시 15시 SIMS depth profile 서강대학교 전자공학과 노승현 300,000원
146 2010-08-09 13시 18시 image scan POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 360,000원
147 2010-08-16 10시 18시 depth profile 창원대학교 신기삼 2,250,000원
148 2010-08-18 09시 12시 depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 360,000원
149 2010-08-18 13시 15시 image scan, depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 권기혁 240,000원
150 2010-08-18 15시 18시 depth profile 하하일렉콤 전상철 150,000원
151 2010-08-19 09시 24시 SIMS depth profile 창원대학교 신기삼 2,250,000원
152 2010-08-20 09시 14시 SIMS image scan 연세대학교 신소재공학과 김선욱 675,000원
153 2010-08-20 14시 17시 SIMS depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지연구팀 임명근 405,000원
154 2010-08-23 09시 15시 SIMS depth profile 경북대학교 금속신소재공학과 김병석 750,000원
155 2010-08-25 13시 18시 depth profile 포스텍 전자전기공학과 조정현 360,000원
156 2010-08-27 09시 15시 Depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 480,000원
157 2010-08-31 09시 18시 SIMS depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 810,000원
158 2010-09-02 09시 12시 depth profile 서강대학교 전자공학과 노승현 300,000원
159 2010-09-02 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 전자전기 박찬훈 120,000원
160 2010-09-07 10시 12시 depth, image scan 포항공과대학교 신소재 김선미 240,000원
161 2010-09-08 09시 11시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 300,000원
162 2010-09-08 13시 18시 SIMS image scan #16 posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 480,000원
163 2010-09-09 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 김종기 675,000원
164 2010-09-09 17시 18시 Si-B depth profile 포항공과대학교 전자전기 박찬훈 120,000원
165 2010-09-10 09시 18시 SIMS depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 900,000원
166 2010-09-13 09시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 900,000원
167 2010-09-14 09시 18시 SIMS image scan #5,6,9 posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 960,000원
168 2010-09-15 09시 12시 SIMS depth profile POSCO 표면처리연구그룹 조재동 360,000원
169 2010-09-16 09시 18시 SIMS image scan posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 720,000원
170 2010-09-20 09시 11시 SIMS depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 300,000원
171 2010-09-24 09시 13시 SIMS depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 750,000원
172 2010-09-27 09시 18시 depth profile, image scan posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 720,000원
173 2010-09-28 09시 18시 Depth profile 한동대학교 전산전자 이성은 1,080,000원
174 2010-09-29 14시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 360,000원
175 2010-09-30 09시 19시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 1,500,000원
176 2010-10-11 09시 12시 CIGS depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지연구팀 임명근 405,000원
177 2010-10-11 13시 14시 SIMS depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 135,000원
178 2010-10-11 14시 18시 CIGS depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지연구팀 임명근 540,000원
179 2010-10-12 09시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지연구팀 임명근 1,215,000원
180 2010-10-13 09시 15시 SIMS depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지연구팀 임명근 810,000원
181 2010-10-13 15시 19시 Si-P depth profile 영남대 물리학과 배상윤 480,000원
182 2010-10-14 09시 18시 SIMS depth profile 영남대학교 김성철 960,000원
183 2010-10-15 09시 18시 depth profile 영남대학교 김성철 960,000원
184 2010-10-18 09시 18시 depth profile 영남대학교 김성철 960,000원
185 2010-10-20 09시 18시 SIMS depth profile 영남대학교 김성철 960,000원
186 2010-10-21 09시 18시 SIMS depth profile (1개당 2시간씩 소요됨) 총 4개 *2시간 = 8개 가격 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 1,200,000원
187 2010-10-22 10시 12시 SIMS depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 300,000원
188 2010-10-22 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 750,000원
189 2010-10-25 09시 18시 SIMS depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 750,000원
190 2010-10-27 09시 12시 SIMS image scan posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 360,000원
191 2010-10-27 13시 17시 H depth profile 480,000원
192 2010-10-28 09시 12시 SIMS image scan 한양대학교 신소재공학부 김상훈 300,000원
193 2010-10-29 10시 18시 SIMS image scan, depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
194 2010-11-01 10시 17시 SIMS image scan 한양대학교 신소재공학부 김상훈 750,000원
195 2010-11-02 10시 17시 SIMS image scan 한양대학교 신소재공학부 김상훈 750,000원
196 2010-11-04 09시 13시 SIMS depth profile 카이로넷 제품운영팀 이운기 600,000원
197 2010-11-05 09시 12시 SIMS depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 405,000원
198 2010-11-08 09시 18시 SIMS depth profile & image scan 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,080,000원
199 2010-11-09 09시 18시 SIMS depth profile & image scan 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,080,000원
200 2010-11-10 10시 12시 SIMS depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 300,000원
201 2010-11-10 13시 14시 SIMS depth profile posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 120,000원
202 2010-11-10 15시 18시 SIMS depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 240,000원
203 2010-11-11 09시 12시 SIMS depth profile 광주나노센터 송상인 300,000원
204 2010-11-11 13시 18시 SIMS depth profile & image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 750,000원
205 2010-11-12 09시 11시 SIMS depth profile 포항공과대학교 MSE Liu Chao 120,000원
206 2010-11-12 13시 16시 SIMS depth profile 신성델타테크(주) 품질보증팀 신성QA 450,000원
207 2010-11-16 14시 16시 SIMS depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
208 2010-11-17 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 450,000원
209 2010-11-19 13시 16시 Depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 240,000원
210 2010-11-22 09시 15시 Depth profile 영남대학교 김성철 600,000원
211 2010-11-22 15시 18시 CIGS Depth profile 광주나노센터 송상인 450,000원
212 2010-11-23 09시 15시 Depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 810,000원
213 2010-11-23 15시 18시 SIMS 교육 STX Solar 공정개발 백승엽 450,000원
214 2010-11-24 09시 18시 Depth profile 영남대학교 김성철 840,000원
215 2010-11-25 09시 14시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 450,000원
216 2010-11-26 14시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 300,000원
217 2010-11-29 09시 18시 CIGS depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 900,000원
218 2010-12-01 09시 17시 Depth profile 포항공과대학교 신소재 김선미 960,000원
219 2010-12-02 10시 15시 포스코 SIMS 교육 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 750,000원
220 2010-12-06 10시 16시 SIMS depth profile 포항공과대학교 신소재 김선미 720,000원
221 2010-12-07 18시 21시 Ga 정량분석
삼성종기원 부분 (삼성 종기원 하종봉 책임으로 청구)
25% 할인 부분		 NCNT 팹운영부 변상섭 337,500원
222 2010-12-10 09시 10시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
223 2010-12-10 10시 16시 SIMS depth profile 포항공과대학교 신소재 김선미 720,000원
224 2010-12-13 13시 15시 SIMS image scan 포항공과대학교 환경공학부 김우열 240,000원
225 2010-12-14 09시 18시 depth profile & image scan(Cs+) 포항공과대학교 신소재공학과 심상민 960,000원
226 2010-12-15 10시 16시 SIMS depth profile 포항공과대학교 신소재 김선미 720,000원
227 2010-12-15 16시 18시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 270,000원
228 2010-12-16 09시 18시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 심상민 960,000원
229 2010-12-17 09시 18시 Depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 심상민 960,000원
230 2010-12-20 09시 15시 depth profile 포항공과대학교 김주현 480,000원
231 2010-12-21 13시 15시 depth profile 포항공과대학교 신소재 장성욱 120,000원
232 2010-12-22 09시 17시 Depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 1,200,000원
233 2010-12-23 10시 14시 depth profile 영남대 물리학과 배상윤 480,000원
234 2010-12-23 14시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 장지욱 360,000원
235 2010-12-24 09시 14시 depth profile STX Solar 공정개발 백승엽 600,000원
236 2010-12-28 13시 17시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 강민석 600,000원
237 2010-12-29 10시 18시 depth profile & image scan 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 960,000원
238 2010-12-30 10시 18시 depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 1,200,000원
239 2010-12-31 09시 12시 depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 450,000원
240 2011-01-03 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 240,000원
241 2011-01-04 10시 11시 depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 150,000원
242 2011-01-04 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
243 2011-01-05 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 360,000원
244 2011-01-06 10시 17시 depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 1,050,000원
245 2011-01-10 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
246 2011-01-11 13시 17시 Image scan 희성전자 LED Chip 생산기술 천아름 540,000원
247 2011-01-12 13시 17시 image scan 희성전자 LED Chip 생산기술 천아름 540,000원
248 2011-01-13 13시 17시 depth profile & image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
249 2011-01-14 13시 17시 depth profile & image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
250 2011-01-17 09시 14시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
251 2011-01-18 09시 13시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
252 2011-01-19 16시 18시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
253 2011-01-20 09시 13시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 480,000원
254 2011-01-24 09시 12시 depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 450,000원
255 2011-01-25 09시 12시 depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 450,000원
256 2011-01-25 13시 17시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 강민석 600,000원
257 2011-01-26 10시 15시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 600,000원
258 2011-01-31 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 윤원민 240,000원
259 2011-02-01 10시 11시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
260 2011-02-08 13시 17시 image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
261 2011-02-09 09시 16시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 720,000원
262 2011-02-10 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 김주현 600,000원
263 2011-02-11 09시 12시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 강민석 450,000원
264 2011-02-11 13시 17시 depth profile (주)KEC 기술개발G 공정개발P 권재우 540,000원
265 2011-02-15 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 윤원민 240,000원
266 2011-02-16 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 윤원민 240,000원
267 2011-02-17 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 김주현 240,000원
268 2011-02-18 09시 17시 depth profile 영남대학교 김성철 720,000원
269 2011-02-21 09시 18시 image scan 포항공과대학교 김주현 960,000원
270 2011-02-22 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
271 2011-02-23 13시 17시 depth profile 영남대학교 김성철 480,000원
272 2011-02-24 12시 17시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 480,000원
273 2011-02-25 09시 21시 depth profile & image scan POSCO 김득중 1,440,000원
274 2011-02-28 09시 21시 image scan POSCO 김득중 1,440,000원
275 2011-03-02 10시 16시 SIMS image scan POSCO 김득중 720,000원
276 2011-03-03 09시 13시 image scan 포항공과대학교 신소재 김선미 480,000원
277 2011-03-04 10시 16시 image scan POSCO 김득중 720,000원
278 2011-03-07 11시 12시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 150,000원
279 2011-03-08 10시 12시 image scan 포항공과대학교 김주현 240,000원
280 2011-03-09 09시 13시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 540,000원
281 2011-03-10 09시 12시 image scan 포항공과대학교 신소재 김선미 240,000원
282 2011-03-10 13시 17시 depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지융합기술연구실 김찬 540,000원
283 2011-03-11 09시 21시 image scan POSCO 김득중 1,440,000원
284 2011-03-14 10시 15시 Depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 480,000원
285 2011-03-15 09시 22시 depth profile 영남대학교 김성철 1,560,000원
286 2011-03-16 09시 21시 depth profile 영남대학교 김성철 1,440,000원
287 2011-03-17 10시 14시 depth profile 경북대학교 전자공학부 조준환 600,000원
288 2011-03-17 17시 18시 image scan 포항공과대학교 김주현 120,000원
289 2011-03-18 10시 12시 depth profile 경북대학교 전자공학부 조준환 300,000원
290 2011-03-18 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기학부 김철규 360,000원
291 2011-03-18 17시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리학과 이용우 120,000원
292 2011-03-21 09시 18시 depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 960,000원
293 2011-03-22 09시 18시 depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 960,000원
294 2011-03-23 09시 18시 depth profile 영남대학교 디스플레이화학공학부 김우남 1,080,000원
295 2011-03-24 13시 16시 depth profile Gwangju Institute of Science and Technology Advanced Photonics Research Institute Zhang Jihong 360,000원
296 2011-03-25 10시 12시 depth profile 경북대학교 전자공학부 조준환 300,000원
297 2011-03-25 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 화공과 조기희 600,000원
298 2011-03-28 09시 21시 depth profile 영남대학교 김성철 1,500,000원
299 2011-03-30 09시 19시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 1,500,000원
300 2011-03-31 09시 19시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 1,500,000원
301 2011-04-01 09시 12시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 450,000원
302 2011-04-01 13시 18시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 750,000원
303 2011-04-04 09시 12시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 450,000원
304 2011-04-04 13시 18시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 750,000원
305 2011-04-05 09시 12시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 300,000원
306 2011-04-05 13시 15시 Depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 300,000원
307 2011-04-06 09시 17시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 900,000원
308 2011-04-07 09시 17시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 1,050,000원
309 2011-04-08 09시 17시 depth profile SK에너지 기술원 분석Lab 이주욱 1,050,000원
310 2011-04-11 09시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자전기학부 김철규 360,000원
311 2011-04-11 13시 17시 depth profile 영남대 물리학과 배상윤 480,000원
312 2011-04-12 10시 11시 image scan 포항공과대학교 신소재 김선미 120,000원
313 2011-04-12 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 600,000원
314 2011-04-13 10시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 720,000원
315 2011-04-14 13시 18시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 675,000원
316 2011-04-15 14시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
317 2011-04-18 13시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 김경보 600,000원
318 2011-04-19 10시 18시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 960,000원
319 2011-04-20 09시 11시 image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 240,000원
320 2011-04-20 13시 18시 depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 675,000원
321 2011-04-21 09시 19시 depth profile RIST 분석평가센터 정세훈 1,350,000원
322 2011-04-22 09시 20시 depth profile RIST 분석평가센터 정세훈 1,485,000원
323 2011-04-25 10시 12시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
324 2011-04-25 14시 17시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 450,000원
325 2011-04-26 10시 12시 depth profile 이녹스 기술기획팀 이진주 300,000원
326 2011-04-26 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김보화 600,000원
327 2011-04-27 09시 18시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 960,000원
328 2011-04-28 10시 17시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 840,000원
329 2011-04-29 10시 18시 depth profile 미리넷솔라 연구소 전민수 1,200,000원
330 2011-05-02 10시 18시 depth profile 미리넷솔라 연구소 전민수 1,200,000원
331 2011-05-03 10시 18시 Depth profile 대구경북과학기술원 녹색에너지융합기술연구실 김찬 945,000원
332 2011-05-04 13시 18시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 750,000원
333 2011-05-09 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
334 2011-05-12 13시 15시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 300,000원
335 2011-05-13 09시 18시 depth profile 전북대학교 전자공학부 김기현 960,000원
336 2011-05-14 09시 21시 depth profile (주) 세미머티리얼즈 기술연구소 정우진 1,800,000원
337 2011-05-16 15시 18시 depth profile 포항공과대학교 전자전기학부 김철규 360,000원
338 2011-05-17 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 600,000원
339 2011-05-18 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 600,000원
340 2011-05-19 09시 18시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 1,350,000원
341 2011-05-20 09시 15시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 강민석 900,000원
342 2011-05-20 15시 22시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 945,000원
343 2011-05-21 09시 13시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 동완재 480,000원
344 2011-05-30 10시 18시 depth profile 미리넷솔라 연구소 전민수 1,050,000원
345 2011-05-31 10시 18시 depth profile 미리넷솔라 연구소 전민수 1,050,000원
346 2011-06-01 09시 10시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
347 2011-06-01 11시 12시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 150,000원
348 2011-06-02 09시 14시 depth profile (주)KEC 기술개발G 공정개발P 권재우 540,000원
349 2011-06-03 10시 18시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 1,200,000원
350 2011-06-07 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 박선욱 120,000원
351 2011-06-07 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 480,000원
352 2011-06-08 09시 20시 depth profile 포항공과대학교 MSE 한태희 1,320,000원
353 2011-06-09 10시 11시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
354 2011-06-09 13시 16시 depth profile POSCO 기술연구소 김정길 360,000원
355 2011-06-10 10시 15시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 600,000원
356 2011-06-13 10시 14시 depth profile (주) 세미머티리얼즈 기술연구소 정우진 600,000원
357 2011-06-14 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
358 2011-06-15 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 MSE 한태희 1,080,000원
359 2011-06-16 08시 16시 depth profile POSCO 기술연구소 김정길 960,000원
360 2011-06-17 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
361 2011-06-20 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 1,200,000원
362 2011-06-21 09시 15시 depth profile
한국기술대학교 서화일 교수님이 사용료 부담하기로 함.		 전북대학교 전자공학부 김기현 720,000원
363 2011-06-21 15시 18시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 450,000원
364 2011-06-22 10시 16시 depth profile
한국기술대학교 서화일 교수님이 사용료 부담하기로 함.		 전북대학교 전자공학부 김기현 720,000원
365 2011-06-23 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 720,000원
366 2011-06-27 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 박선욱 120,000원
367 2011-06-27 14시 18시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 600,000원
368 2011-06-28 09시 12시 depth profile 울산과학기술대학교 기계신소재공학부 예병욱 450,000원
369 2011-06-28 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 600,000원
370 2011-06-29 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
371 2011-06-30 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
372 2011-07-01 09시 10시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
373 2011-07-01 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
374 2011-07-04 09시 21시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 1,440,000원
375 2011-07-05 09시 18시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 1,200,000원
376 2011-07-05 18시 19시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
377 2011-07-06 20시 22시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 300,000원
378 2011-07-07 09시 23시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 1,890,000원
379 2011-07-08 09시 22시 depth profile WONIK IPS Global Marketing Division 박제성 1,950,000원
380 2011-07-09 09시 12시 depth profile LG이노텍 SiC Lab. 황민영 360,000원
381 2011-07-11 09시 21시 depth profile STX솔라 공정개발팀 정세영 1,620,000원
382 2011-07-12 09시 21시 depth profile STX솔라 공정개발팀 정세영 1,620,000원
383 2011-07-13 09시 23시 depth profile STX솔라 공정개발팀 정세영 1,890,000원
384 2011-07-14 10시 14시 depth profile
한국기술교육대학교 서화일 교수님 시료이므로
서화일교수님께 청구바람
학생연락처 : 유동열 010-4587-9249		 전북대학교 전자공학부 김기현 480,000원
385 2011-07-14 16시 17시 depth profile (주) 세미머티리얼즈 기술연구소 정우진 150,000원
386 2011-07-14 17시 18시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
387 2011-07-15 09시 21시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 1,440,000원
388 2011-07-16 09시 21시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 1,440,000원
389 2011-07-18 09시 17시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 1,080,000원
390 2011-07-19 09시 17시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 1,080,000원
391 2011-07-20 09시 11시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 300,000원
392 2011-07-20 12시 13시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
393 2011-07-20 13시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 강재솔루션연구그룹 김정길 600,000원
394 2011-07-21 09시 16시 depth profile Gwangju Institute of Science and Technology Advanced Photonics Research Institute Zhang Jihong 720,000원
395 2011-07-21 16시 17시 image scan 포항공과대학교 신소재공학과 이승렬 120,000원
396 2011-07-22 10시 18시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 945,000원
397 2011-07-23 09시 17시 depth profile
서화일 교수님으로 청구바람.		 전북대학교 전자공학부 김기현 960,000원
398 2011-07-25 09시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,080,000원
399 2011-07-26 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 Wentao Xu 240,000원
400 2011-07-26 13시 15시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 주수현 240,000원
401 2011-07-26 15시 17시 depth profile SK Innovation 신소재 Lab. 문창섭 300,000원
402 2011-07-27 14시 17시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 450,000원
403 2011-07-28 11시 12시 depth profile (주)KEC 기술개발G 공정개발P 권재우 135,000원
404 2011-07-29 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 240,000원
405 2011-08-01 14시 18시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 Wentao Xu 480,000원
406 2011-08-02 09시 19시 depth profile (주) 세미머티리얼즈 기술연구소 정우진 1,500,000원
407 2011-08-03 09시 14시 depth profile SK Innovation 신소재 Lab. 문창섭 600,000원
408 2011-08-03 15시 17시 depth profile 웅진폴리실리콘(주) 중앙연구소 실리콘기술개발팀 남우석 300,000원
409 2011-08-04 09시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
410 2011-08-05 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
411 2011-08-06 09시 02시 포스코 과제 시편 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 2,600,000원
412 2011-08-08 10시 15시 depth profile 현대자동차 후판개발팀 현영민 750,000원
413 2011-08-09 09시 19시 depth profile (주) 세미머티리얼즈 기술연구소 정우진 1,500,000원
414 2011-08-10 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
415 2011-08-11 09시 11시 depth profile 서강대학교 전자공학과 한보람 300,000원
416 2011-08-11 13시 15시 depth profile & image scan 서울대학교 재료공학부 장해린 300,000원
417 2011-08-11 15시 18시 depth profile 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 여임규 405,000원
418 2011-08-12 09시 15시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 810,000원
419 2011-08-16 10시 16시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 810,000원
420 2011-08-16 16시 17시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 135,000원
421 2011-08-17 10시 15시 image scan POSCO 기술연구원 전기강판연구그룹 한규석 600,000원
422 2011-08-18 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
423 2011-08-19 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
424 2011-08-22 09시 19시 image scan POSCO 기술연구원 전기강판연구그룹 한규석 1,200,000원
425 2011-08-23 10시 14시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 600,000원
426 2011-08-24 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기 박찬훈 120,000원
427 2011-08-26 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 168,000원
428 2011-08-29 13시 18시 image scan POSCO 기술연구원 전기강판연구그룹 한규석 600,000원
429 2011-08-30 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 윤원민 120,000원
430 2011-08-31 09시 15시 포스코 시편 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,000,000원
431 2011-09-06 10시 16시 image scan 포항공과대학교 융합생명공학 서은석 720,000원
432 2011-09-08 13시 16시 depth profile 연세대학교 물리학과 마진원 405,000원
433 2011-09-09 10시 14시 depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 나문경 540,000원
434 2011-09-14 13시 17시 depth profile 경북대학교 전자전기컴퓨터학부 이정희 600,000원
435 2011-09-15 13시 15시 image scan 포항공과대학교 융합생명공학 서은석 240,000원
436 2011-09-15 15시 20시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 600,000원
437 2011-09-16 09시 21시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 1,620,000원
438 2011-09-19 09시 18시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 1,350,000원
439 2011-09-22 14시 16시 image scan UNIST ( 울산과학기술대학교) 친환경에너지 원자력트랙 최경준 270,000원
440 2011-09-23 09시 21시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 1,620,000원
441 2011-09-23 18시 06시 wafer P+ doping 농도 분석 (주)브라이트일렉트로닉스 백승찬 1,800,000원
442 2011-09-26 10시 16시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 900,000원
443 2011-09-27 10시 16시 depth profile SK Innovation 신소재 Lab. 문창섭 600,000원
444 2011-09-28 11시 17시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 810,000원
445 2011-09-29 11시 17시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 810,000원
446 2011-09-30 14시 16시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 300,000원
447 2011-10-04 13시 15시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 270,000원
448 2011-10-04 15시 17시 depth profile
피앤테크 박종신으로 청구		 STX솔라 연구개발팀 최지환 300,000원
449 2011-10-10 09시 19시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 1,350,000원
450 2011-10-11 09시 18시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 1,080,000원
451 2011-10-12 09시 12시 image scan 포항공과대학교 신소재 김선미 240,000원
452 2011-10-12 13시 15시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 240,000원
453 2011-10-13 10시 11시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 135,000원
454 2011-10-13 13시 15시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 300,000원
455 2011-10-14 10시 12시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 240,000원
456 2011-10-18 13시 15시 depth profile
전기연구원으로 청구해달라고 함.		 한국전기연구원 전력반도체연구센터 나문경 135,000원
457 2011-10-20 10시 12시 depth profile 영남대 물리학과 배상윤 240,000원
458 2011-10-21 09시 11시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 240,000원
459 2011-10-21 11시 19시 depth profile & image scan KETI KPEC 인쇄전자연구팀 양호창 1,200,000원
460 2011-10-24 09시 20시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 1,650,000원
461 2011-10-25 09시 20시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 1,650,000원
462 2011-10-26 09시 20시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 1,650,000원
463 2011-10-27 09시 18시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 1,350,000원
464 2011-10-27 18시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리학과 정민화 120,000원
465 2011-10-28 09시 20시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 1,650,000원
466 2011-11-01 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
467 2011-11-02 09시 11시 depth profile 경북대학교 전자전기컴퓨터 오정화 300,000원
468 2011-11-02 11시 12시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
469 2011-11-03 09시 18시 depth profile 세미머티리얼즈 박승배 1,200,000원
470 2011-11-04 09시 18시 depth profile 세미머티리얼즈 박승배 1,200,000원
471 2011-11-07 17시 20시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
472 2011-11-08 09시 11시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 300,000원
473 2011-11-08 12시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
474 2011-11-09 09시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
475 2011-11-09 16시 17시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
476 2011-11-11 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 윤원민 240,000원
477 2011-11-15 10시 12시 depth profile 이화여자대학교 물리학과 정아름 300,000원
478 2011-11-17 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
479 2011-11-21 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 720,000원
480 2011-11-22 09시 19시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 1,350,000원
481 2011-11-23 13시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 675,000원
482 2011-11-24 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
483 2011-12-02 09시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자과 백상원 720,000원
484 2011-12-05 13시 17시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
485 2011-12-05 17시 18시 정량분석(피엔테크 사용건) 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 30,000원
486 2011-12-06 10시 18시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 945,000원
487 2011-12-07 09시 18시 depth profile 경북대학교 전자전기컴퓨터학부 이정희 1,200,000원
488 2011-12-07 18시 22시 Si-Granule분석 세미머티리얼즈 박승배 600,000원
489 2011-12-08 10시 11시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 135,000원
490 2011-12-08 11시 19시 depth profile 경북대학교 전자전기컴퓨터학부 이정희 1,200,000원
491 2011-12-12 10시 14시 depth profile POSCO STS연구그룹 김상석 480,000원
492 2011-12-12 17시 18시 depth profile (주)디엠에스 김성해 135,000원
493 2011-12-13 13시 15시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 구길호 240,000원
494 2011-12-15 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 권승철 480,000원
495 2011-12-20 13시 16시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 360,000원
496 2011-12-21 15시 17시 depth profile 이화여자대학교 물리학과 정아름 300,000원
497 2011-12-22 13시 17시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 600,000원
498 2011-12-26 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 720,000원
499 2011-12-27 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 장동현 480,000원
500 2011-12-28 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 권승철 480,000원
501 2011-12-29 10시 16시 depth profile 주성엔지니어링 반도체 개발1그룹 ALD팀 신형섭 810,000원
502 2011-12-30 09시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,080,000원
503 2012-01-03 09시 16시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 720,000원
504 2012-01-04 09시 16시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 720,000원
505 2012-01-05 09시 19시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 강민석 1,500,000원
506 2012-01-06 09시 16시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 900,000원
507 2012-01-09 09시 17시 depth profile 삼성코닝정밀소재 전자재료LAB. 서수영 1,200,000원
508 2012-01-10 09시 16시 depth profile 삼성코닝정밀소재 전자재료LAB. 서수영 1,050,000원
509 2012-01-11 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
510 2012-01-12 10시 15시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 권승철 600,000원
511 2012-01-13 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 240,000원
512 2012-01-16 13시 17시 image scan POSCO 기술연구원 조민현 480,000원
513 2012-01-17 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
514 2012-01-18 09시 13시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
515 2012-01-18 14시 16시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 300,000원
516 2012-01-19 09시 17시 depth profile 세미머티리얼즈 박승배 1,200,000원
517 2012-01-20 10시 18시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 이형준 960,000원
518 2012-01-25 16시 17시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
519 2012-01-26 12시 18시 depth profile 전북대학교 전자공학부 김기현 720,000원
520 2012-01-27 10시 12시 image scan 포항공과대학교 신소재 임남석 240,000원
521 2012-01-27 13시 19시 depth profile 주성엔지니어링 반도체 개발1그룹 ALD팀 신형섭 810,000원
522 2012-01-27 19시 21시 depth profile 삼성전자 무선사업부 장대진 300,000원
523 2012-01-30 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 1,200,000원
524 2012-01-31 09시 11시 image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 240,000원
525 2012-02-06 10시 11시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
526 2012-02-06 13시 17시 depth profile 엘지이노텍 S-Task 배흥택 600,000원
527 2012-02-07 13시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 540,000원
528 2012-02-09 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 720,000원
529 2012-02-10 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 600,000원
530 2012-02-15 10시 12시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 300,000원
531 2012-02-15 13시 15시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김성준 240,000원
532 2012-02-16 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
533 2012-02-17 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 120,000원
534 2012-02-17 13시 17시 depth profile 전북대학교 전자공학부 김기현 480,000원
535 2012-02-20 09시 18시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 1,080,000원
536 2012-02-21 09시 18시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 1,080,000원
537 2012-02-22 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 김래호 120,000원
538 2012-02-22 14시 18시 depth profile 포스코 기술연구소 김재성 480,000원
539 2012-02-23 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 120,000원
540 2012-02-23 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 장동현 360,000원
541 2012-02-27 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 김래호 120,000원
542 2012-03-02 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김보화 1,200,000원
543 2012-03-03 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김보화 1,200,000원
544 2012-03-05 10시 18시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 960,000원
545 2012-03-06 10시 18시 depth profile 포항나노기술집적센터 팹운영부 변창섭 960,000원
546 2012-03-07 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
547 2012-03-08 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 120,000원
548 2012-03-08 13시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 540,000원
549 2012-03-09 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 240,000원
550 2012-03-09 14시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학 Jitendra Nath Tiwari 360,000원
551 2012-03-12 10시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
552 2012-03-13 10시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
553 2012-03-14 10시 18시 depth profile & image scan 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
554 2012-03-15 10시 18시 image scan 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
555 2012-03-20 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김보화 1,200,000원
556 2012-03-21 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김보화 1,200,000원
557 2012-03-22 10시 13시 depth profile 대구경북과학기술원 고병수 405,000원
558 2012-03-22 16시 17시 depth profile 포항공과대학교 전자전기 박찬훈 120,000원
559 2012-03-26 10시 15시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 600,000원
560 2012-03-28 14시 15시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 김래호 120,000원
561 2012-04-02 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 240,000원
562 2012-04-02 15시 17시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 300,000원
563 2012-04-03 11시 15시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 480,000원
564 2012-04-04 09시 14시 포스코 시편 포항공과대학교 신소재공학과 이형준 600,000원
565 2012-04-05 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 융합생명공학 서은석 600,000원
566 2012-04-06 13시 18시 image scan 포항공과대학교 융합생명공학 서은석 600,000원
567 2012-04-09 14시 15시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 120,000원
568 2012-04-09 15시 18시 depth profile 전북대학교 전자공학부 김기현 360,000원
569 2012-04-10 14시 16시 image scan 서울대학교 공과대학 유효상 300,000원
570 2012-04-11 09시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
571 2012-04-12 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
572 2012-04-13 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
573 2012-04-16 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
574 2012-04-17 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
575 2012-04-18 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
576 2012-04-19 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
577 2012-04-20 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
578 2012-04-24 10시 14시 depth profile 심텍 개발팀 강대현 600,000원
579 2012-04-24 16시 18시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 공의현 240,000원
580 2012-04-25 10시 14시 depth profile 심텍 개발팀 강대현 600,000원
581 2012-04-26 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 240,000원
582 2012-04-27 09시 18시 depth profile 포스코 기술 연구원 전기강판연구그룹 박종호 960,000원
583 2012-04-30 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자과 백상원 240,000원
584 2012-04-30 13시 17시 depth profile 성균관대학교 HINT 서상준 600,000원
585 2012-04-30 17시 19시 image scan 서울대학교 공과대학 유효상 300,000원
586 2012-05-02 12시 13시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 150,000원
587 2012-05-02 13시 15시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 300,000원
588 2012-05-03 10시 16시 depth profile & image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 720,000원
589 2012-05-04 10시 16시 depth profile 심텍 개발팀 강대현 750,000원
590 2012-05-07 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박성민 360,000원
591 2012-05-07 17시 18시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 120,000원
592 2012-05-08 12시 16시 depth profile 심텍 개발팀 강대현 600,000원
593 2012-05-11 09시 19시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 1,350,000원
594 2012-05-14 09시 17시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 1,080,000원
595 2012-05-15 10시 12시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 300,000원
596 2012-05-15 14시 16시 depth profile 광주과학기술원 기전공학부 이석희 300,000원
597 2012-05-15 16시 19시 depth profile 심텍 개발팀 강대현 450,000원
598 2012-05-16 10시 17시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 1,050,000원
599 2012-05-17 10시 17시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 1,050,000원
600 2012-05-18 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자과 백상원 360,000원
601 2012-05-18 16시 17시 depth profile 나노융합기술원 미래기술팀 이상권 150,000원
602 2012-05-21 10시 11시 depth profile 나노융합기술원 미래기술팀 이상권 150,000원
603 2012-05-22 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 720,000원
604 2012-05-23 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 720,000원
605 2012-05-29 09시 11시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 공의현 240,000원
606 2012-05-29 13시 14시 image scan 포항공과대학교 신소재 김선미 120,000원
607 2012-05-29 14시 19시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 600,000원
608 2012-05-30 10시 16시 depth profile 연세대학교 물리학과 마진원 810,000원
609 2012-05-31 10시 16시 depth profile 연세대학교 물리학과 마진원 810,000원
610 2012-05-31 16시 21시 depth profile 전북대학교 전자공학부 김기현 600,000원
611 2012-06-01 13시 17시 depth profile 서울대학교 공과대학 유효상 600,000원
612 2012-06-04 09시 15시 depth profile 변대섭 810,000원
613 2012-06-05 09시 15시 depth profile 변대섭 810,000원
614 2012-06-07 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 360,000원
615 2012-06-08 13시 17시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 600,000원
616 2012-06-10 16시 02시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 1,500,000원
617 2012-06-11 10시 14시 depth profile 경북대학교 전자전기컴퓨터학부 이정희 600,000원
618 2012-06-12 09시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
619 2012-06-13 10시 16시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 900,000원
620 2012-06-14 09시 17시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 1,200,000원
621 2012-06-15 09시 18시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 1,350,000원
622 2012-06-19 10시 15시 depth profile SK 이노베이션 신소재 Lab 이광호 750,000원
623 2012-06-20 10시 15시 depth profile SK 이노베이션 신소재 Lab 이광호 750,000원
624 2012-06-21 10시 15시 depth profile 포스코 기술연구원 송도제품이용연구센터 제품솔루션 연구그룹 신한철 600,000원
625 2012-06-22 10시 14시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 600,000원
626 2012-06-25 10시 11시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 150,000원
627 2012-06-25 13시 18시 depth profile POSCO 기술연구원 표면처리그룹 김연호 600,000원
628 2012-06-26 10시 14시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
629 2012-06-28 09시 19시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 1,500,000원
630 2012-06-29 09시 19시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 1,500,000원
631 2012-07-03 13시 17시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 김진영 600,000원
632 2012-07-04 13시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 675,000원
633 2012-07-05 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
634 2012-07-06 10시 12시 depth profile 삼성코닝정밀소재 전자재료LAB. 서수영 300,000원
635 2012-07-09 10시 17시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 840,000원
636 2012-07-10 13시 18시 image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 600,000원
637 2012-07-11 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
638 2012-07-12 13시 17시 image scan 서울대학교 공과대학 유효상 600,000원
639 2012-07-13 11시 15시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 문병준 480,000원
640 2012-07-16 09시 14시 포스코 과제 샘플 포항공과대학교 신소재공학과 이형준 600,000원
641 2012-07-17 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
642 2012-07-18 09시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
643 2012-07-20 10시 12시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 300,000원
644 2012-07-23 09시 12시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 405,000원
645 2012-07-24 09시 11시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 270,000원
646 2012-07-24 09시 10시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 300,000원
647 2012-07-24 14시 15시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 120,000원
648 2012-07-25 13시 17시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 540,000원
649 2012-07-25 13시 17시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 600,000원
650 2012-07-25 13시 17시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 600,000원
651 2012-07-26 10시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 김경보 960,000원
652 2012-07-27 10시 16시 depth profile 포스코 기술연구원 김경보 720,000원
653 2012-07-27 10시 12시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 600,000원
654 2012-07-27 14시 18시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 300,000원
655 2012-07-30 10시 14시 depth profile 포스코 기술연구원 김경보 480,000원
656 2012-07-31 15시 17시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 240,000원
657 2012-08-03 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
658 2012-08-06 09시 13시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
659 2012-08-06 14시 17시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 405,000원
660 2012-08-07 09시 13시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
661 2012-08-08 13시 17시 depth profile 광주과학기술원 기전공학부 이석희 600,000원
662 2012-08-09 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
663 2012-08-10 10시 16시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 720,000원
664 2012-08-10 16시 19시 depth profile 나노융합기술원 미래기술팀 이상권 450,000원
665 2012-08-13 09시 13시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
666 2012-08-13 14시 16시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 270,000원
667 2012-08-14 13시 15시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 270,000원
668 2012-08-14 16시 17시 depth profile POSCO 박판연구그룹 임영록 120,000원
669 2012-08-16 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
670 2012-08-17 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
671 2012-08-21 09시 15시 POSCO 과제 성분 포항공과대학교 융합기술부 신훈규 600,000원
672 2012-08-22 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 120,000원
673 2012-08-23 09시 13시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
674 2012-08-23 16시 18시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 270,000원
675 2012-08-24 14시 17시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 정윤영 360,000원
676 2012-08-25 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학 윤대우 1,200,000원
677 2012-08-26 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학 윤대우 1,200,000원
678 2012-08-27 10시 16시 depth profile sk 이노베이션 신소재Lab 양진혁 900,000원
679 2012-08-28 10시 12시 depth profile 나노융합기술원 미래기술팀 이상권 300,000원
680 2012-08-28 13시 17시 depth profile 고려대학교 신소재공학과 김도균 600,000원
681 2012-08-29 10시 12시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 300,000원
682 2012-08-29 10시 12시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 300,000원
683 2012-08-29 14시 16시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 300,000원
684 2012-08-29 17시 18시 depth profile 포항공과대학교 전자전기 박찬훈 120,000원
685 2012-08-30 09시 19시 depth profile SK 이노베이션 신소재 Lab 이광호 1,500,000원
686 2012-08-31 10시 14시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
687 2012-08-31 14시 24시 depth profile SK 이노베이션 신소재 Lab 이광호 1,500,000원
688 2012-09-03 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
689 2012-09-04 10시 14시 depth profile 고려대학교 신소재공학과 김도균 600,000원
690 2012-09-05 15시 17시 depth profile SK 이노베이션 신소재랩 양진혁 300,000원
691 2012-09-06 10시 14시 depth profile (주)엘엠씨 김정만 600,000원
692 2012-09-07 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
693 2012-09-08 11시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 문병준 140,000원
694 2012-09-10 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
695 2012-09-13 09시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,200,000원
696 2012-09-14 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
697 2012-09-17 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 원동찬 480,000원
698 2012-09-17 11시 15시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 문병준 480,000원
699 2012-09-17 14시 18시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 600,000원
700 2012-09-17 17시 18시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 120,000원
701 2012-09-18 10시 14시 depth profile sk 이노베이션 신소재Lab 양진혁 600,000원
702 2012-09-18 14시 20시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 810,000원
703 2012-09-19 09시 21시 image scan 포스코 기술연구원 강재솔루션연구그룹 김정길 1,440,000원
704 2012-09-20 10시 16시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 810,000원
705 2012-09-20 16시 20시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
706 2012-09-21 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 810,000원
707 2012-09-21 16시 20시 depth profile STX솔라 연구개발 김진의 540,000원
708 2012-09-22 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 810,000원
709 2012-09-23 12시 17시 depth profile 서울대학교 재료공학부 박세훈 750,000원
710 2012-09-24 09시 19시 depth profile sk 이노베이션 신소재Lab 양진혁 1,500,000원
711 2012-09-25 10시 11시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 135,000원
712 2012-09-25 17시 19시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 270,000원
713 2012-09-26 10시 16시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 810,000원
714 2012-09-27 09시 15시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 810,000원
715 2012-09-27 16시 19시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 360,000원
716 2012-09-28 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 윤원민 240,000원
717 2012-09-28 13시 15시 image scan 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 240,000원
718 2012-10-02 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
719 2012-10-03 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
720 2012-10-04 10시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 945,000원
721 2012-10-05 09시 13시 depth profile STX 솔라 연구개발 류한희 540,000원
722 2012-10-05 13시 16시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 405,000원
723 2012-10-05 16시 20시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학 윤대우 480,000원
724 2012-10-06 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 600,000원
725 2012-10-08 07시 09시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 300,000원
726 2012-10-08 10시 17시 depth profile 포스텍 화학공학 임민정 840,000원
727 2012-10-08 17시 20시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 405,000원
728 2012-10-09 09시 15시 depth profile 연세대학교 물리학과 마진원 810,000원
729 2012-10-09 16시 18시 image scan 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 240,000원
730 2012-10-09 18시 21시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 405,000원
731 2012-10-10 09시 12시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 405,000원
732 2012-10-10 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 600,000원
733 2012-10-10 17시 20시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 405,000원
734 2012-10-11 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
735 2012-10-12 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,500,000원
736 2012-10-13 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 360,000원
737 2012-10-15 09시 12시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 450,000원
738 2012-10-16 09시 12시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 405,000원
739 2012-10-16 13시 16시 depth profile 포스텍 화학공학 임민정 360,000원
740 2012-10-16 16시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이동욱 120,000원
741 2012-10-17 08시 15시 depth profile 포스텍 화학공학 임민정 840,000원
742 2012-10-17 15시 18시 depth profile 포항산업과학연구원 신금속연구본부 김종호 405,000원
743 2012-10-18 10시 17시 image scan 현대종합금속 기술연구소 김종률 1,050,000원
744 2012-10-19 12시 16시 depth profile 포항공과대학교 기계공학과 안대환 480,000원
745 2012-10-20 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
746 2012-10-22 10시 12시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 300,000원
747 2012-10-22 14시 16시 image scan 포스텍 화학공학 임민정 240,000원
748 2012-10-23 10시 12시 depth profile 영남대학교 광전자연구실 박순록 240,000원
749 2012-10-24 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
750 2012-10-25 16시 17시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 주수현 120,000원
751 2012-10-26 10시 16시 depth profile & image scan 포스텍 화학공학 임민정 720,000원
752 2012-10-27 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
753 2012-10-28 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
754 2012-10-29 10시 16시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 810,000원
755 2012-10-30 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이선민 480,000원
756 2012-10-31 10시 11시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 135,000원
757 2012-11-01 09시 20시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 1,485,000원
758 2012-11-02 09시 20시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 1,485,000원
759 2012-11-05 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 주수현 240,000원
760 2012-11-05 13시 15시 depth profile 서울대학교 환경재료과학 전공 권영은 300,000원
761 2012-11-06 10시 16시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 810,000원
762 2012-11-07 09시 12시 depth profile 포스텍 화학공학 임민정 360,000원
763 2012-11-07 13시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 540,000원
764 2012-11-08 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이선민 720,000원
765 2012-11-09 10시 12시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 300,000원
766 2012-11-09 14시 18시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 540,000원
767 2012-11-12 10시 15시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 750,000원
768 2012-11-13 10시 15시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 750,000원
769 2012-11-14 10시 15시 depth profile 한국생산기술연구원 광에너지연구그룹 박재철 750,000원
770 2012-11-15 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
771 2012-11-16 10시 16시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 900,000원
772 2012-11-19 10시 12시 depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 270,000원
773 2012-11-19 13시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 900,000원
774 2012-11-20 10시 13시 depth profile 포항공과대학교 기계공학 강동훈 360,000원
775 2012-11-21 10시 18시 depth profile LG Innotek 안산연구소 SiC Task 김지혜 1,200,000원
776 2012-11-22 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
777 2012-11-26 13시 15시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 270,000원
778 2012-11-27 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 기계공학과 서창호 480,000원
779 2012-11-27 14시 20시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 900,000원
780 2012-11-28 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 기계공학과 서창호 1,200,000원
781 2012-11-29 10시 16시 depth profile 한국전기연구원 전기재료연구본부 전기변환소재연구센터 주성재 810,000원
782 2012-11-29 16시 17시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 150,000원
783 2012-11-29 17시 20시 image scan 포스텍 철강대학원 이준모 360,000원
784 2012-11-30 09시 10시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 135,000원
785 2012-11-30 10시 16시 depth profile stx솔라 연구개발팀 이준현 810,000원
786 2012-12-03 09시 19시 depth profile 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,280,000원
787 2012-12-04 10시 12시 depth profile SK이노베이션 신소재 Lab 고병선 300,000원
788 2012-12-05 09시 19시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 1,350,000원
789 2012-12-06 10시 18시 depth profile & image scan 포스텍 화학공학 임민정 960,000원
790 2012-12-07 10시 18시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 1,080,000원
791 2012-12-10 09시 19시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 1,350,000원
792 2012-12-11 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 기계공학 강동훈 240,000원
793 2012-12-11 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 기계공학과 서창호 360,000원
794 2012-12-12 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이선민 1,200,000원
795 2012-12-13 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 1,080,000원
796 2012-12-13 18시 21시 depth profile Simmtech 제품개발팀 박상엽 450,000원
797 2012-12-14 10시 17시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,100,000원
798 2012-12-17 09시 15시 depth profile 영남대학교 / LED-IT 융합산업화 연구센터 전자공학과 / 광원분과 최준혁 720,000원
799 2012-12-17 15시 19시 depth profile 주성엔지니어링 반도체 개발1그룹 ALD팀 신형섭 540,000원
800 2012-12-18 09시 14시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 750,000원
801 2012-12-18 14시 15시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 135,000원
802 2012-12-18 15시 18시 image scan 재료연구소, KIMS 타이타늄연구실 이상원 360,000원
803 2012-12-19 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
804 2012-12-20 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리학과 정민화 480,000원
805 2012-12-21 10시 16시 depth profile 엘지이노텍 부품소재연구소(SiC Task) 심지인 900,000원
806 2012-12-24 09시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
807 2012-12-26 10시 18시 image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김지홍 960,000원
808 2012-12-27 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 물리학과 정민화 120,000원
809 2012-12-27 14시 18시 image scan GIFT 철강학과 최원석 480,000원
810 2012-12-28 10시 12시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 300,000원
811 2012-12-28 13시 19시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 810,000원
812 2012-12-31 09시 19시 depth profile 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,200,000원
813 2013-01-03 11시 12시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 120,000원
814 2013-01-04 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 480,000원
815 2013-01-07 13시 17시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 540,000원
816 2013-01-08 10시 11시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 정경환 150,000원
817 2013-01-08 13시 15시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 240,000원
818 2013-01-09 16시 17시 depth profile NCNT 팹운영부 변상섭 150,000원
819 2013-01-10 13시 16시 depth profile GMEMS 김준호 450,000원
820 2013-01-11 10시 16시 depth profile STX solar 연구개발팀 박도혁 810,000원
821 2013-01-14 10시 16시 depth profile STX solar 연구개발팀 박도혁 810,000원
822 2013-01-16 13시 16시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 450,000원
823 2013-01-16 17시 18시 depth profile 포항공과대학교 환경공학부 대학원 김진현 120,000원
824 2013-01-18 13시 16시 depth profile 한양대학교 전자통신공학부 서정한 450,000원
825 2013-01-22 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 240,000원
826 2013-01-22 13시 15시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 300,000원
827 2013-01-23 09시 19시 depth profile STX solar 연구개발팀 박도혁 1,350,000원
828 2013-01-24 09시 13시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 540,000원
829 2013-01-24 13시 16시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 450,000원
830 2013-01-25 09시 11시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 300,000원
831 2013-01-25 11시 13시 depth profile Simmtech 제품개발팀 박상엽 300,000원
832 2013-01-28 10시 12시 depth profile 전북대학교 전자공학부 김기현 240,000원
833 2013-01-28 13시 15시 depth profile (주)레이크엘이디 영업부 나용환 300,000원
834 2013-01-28 15시 21시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 810,000원
835 2013-01-29 09시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,080,000원
836 2013-01-30 10시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
837 2013-01-31 10시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
838 2013-02-01 13시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 민윤기 405,000원
839 2013-02-04 13시 15시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 270,000원
840 2013-02-05 09시 10시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 150,000원
841 2013-02-05 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 물리학과 정민화 480,000원
842 2013-02-05 14시 20시 depth profile 금오공과대학교 신소재공학과 정지훈 900,000원
843 2013-02-06 13시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 675,000원
844 2013-02-12 10시 17시 depth profile SK innovation PV Lab 이제안 1,050,000원
845 2013-02-15 10시 17시 depth profile 심텍 개발팀 강대현 1,050,000원
846 2013-02-18 09시 18시 depth profile stx솔라 연구개발팀 이준현 1,215,000원
847 2013-02-20 09시 19시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 1,200,000원
848 2013-02-21 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 800,000원
849 2013-02-22 09시 21시 depth profile SK innovation PV Lab 이제안 1,800,000원
850 2013-02-25 10시 14시 depth profile SK innovation PV Lab 이제안 600,000원
851 2013-02-26 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이선민 360,000원
852 2013-02-28 11시 15시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 540,000원
853 2013-03-04 9시 18시 P, O Depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 1,215,000원
854 2013-03-11 14시 18시 Si wafer에 Phosphorus or Boron 이온 주입한 샘플의 도핑 프로파일 분석

분석 샘플명
- HR : Phosphorus, 전극 사이 부분 측정

- HH : Boron 측정

- V28K845205 : Phosphorus 측정

- IPSHH1.5K845205 : Phosphorus 측정

 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 600,000원
855 2013-03-12 13시 16시 depth profile 서울대학교 재료공학부 신인수 450,000원
856 2013-03-13 13시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 김병주 405,000원
857 2013-03-13 17시 18시 image scan 포항공과대학교 철강대학원 CML 김정인 120,000원
858 2013-03-14 13시 18시 P, O doping profile
 STX솔라 연구개발팀 최지환 675,000원
859 2013-03-15 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 동완재 360,000원
860 2013-03-19 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 장지욱 240,000원
861 2013-03-19 13시 16시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이성원 450,000원
862 2013-03-20 10시 12시 depth profile 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 300,000원
863 2013-03-21 10시 12시 p-type wafer Emitter Junction depth 및 Doping profile 확인

-Emitter 면저항 조건(23,25,29,35,40,45 ohm/sq)

-시편 정보 : 2cmX2cm (laser cutting 완료)

-내용 : Emitter 면저항 조건에 따라서 emitter doping depth 및 profile 확인 예정

-분석 성분 : P,O,Si

-측정 포인트 : 시편을 4 부분으로 나누어 그 가운데 부분 측정을 부탁드리며, point 측정 보다
면 측정(30um)으로 측정해주시기 바랍니다.
 stx솔라 연구개발팀 이준현 270,000원
864 2013-03-21 13시 14시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 135,000원
865 2013-03-21 15시 18시 image scan 포항공과대학교 철강대학원 CML 김정인 360,000원
866 2013-03-25 9시 10시 Si wafer에 Phosphorus 이온 주입한 샘플의 doping profile 분석 원익아이피에스 솔라개발팀 유동열 150,000원
867 2013-03-26 10시 16시 depth profile 엘지이노텍 부품소재연구소(SiC Task) 심지인 900,000원
868 2013-03-27 10시 16시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 900,000원
869 2013-03-28 10시 16시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 900,000원
870 2013-03-29 11시 12시 As dopant depth profile 분석 (SOI wafer, top Si 100nm) 전북대학교 전자공학부 김기현 120,000원
871 2013-03-29 13시 16시 P, O doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
872 2013-04-03 13시 15시 depth profile 엘지이노텍 부품소재연구소(SiC Task) 심지인 300,000원
873 2013-04-04 10시 11시 Top Si(100nm) of SOI wafer, As doping profile 분석 전북대학교 전자공학부 김기현 120,000원
874 2013-04-11 13시 16시 Sample SIMS Depth Profile 분석(표면에서 GaN 까지) 분석

Data 결과 송부 메일
==> hyeongseop.shin@jusung.com
jaechan.kwak@jusung.com 으로 송부 부탁드립니다.		 주성엔지니어링 반도체 개발그룹 ALD팀 신형섭 405,000원
875 2013-04-15 13시 17시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 주진우 600,000원
876 2013-04-18 13시 17시 ★포항TP 대경권 선도사업 전문인력 양성사업★
→ SIMS 장비실습비 15만원 X 10회(10명) X 3시간(3회) = 450만원 (DC 후 300만원)		 포항공과대학교 교육사업부 백성기 3,000,000원
877 2013-04-22 10시 15시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이성원 750,000원
878 2013-04-23 10시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이선민 840,000원
879 2013-04-24 14시 18시 As doping profile 분석 (Silicon 100nm of SOI wafer) 전북대학교 전자공학부 김기현 480,000원
880 2013-04-29 10시 16시 Depth profile, Measurement of Composition of thin films based on depth of Thickness 포항공과대학교 Department of Chemical Engineering Dinesh Chand Bharti 720,000원
881 2013-04-30 10시 12시 layer by layer구조에 따른 원소분석 포항공과대학교 화공과 송인영 240,000원
882 2013-04-30 13시 14시 image scan 포항공과대학교 철강대학원 송유영 120,000원
883 2013-04-30 16시 17시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이성원 150,000원
884 2013-05-02 13시 17시 샘플 4ea (Mo/CLC, 200도, 400도, 600도)
O, Na, Al, Si 원소 의뢰		 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 540,000원
885 2013-05-03 13시 15시 steel의 표면분석
 포항공과대학교 신소재 김선미 240,000원
886 2013-05-06 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 240,000원
887 2013-05-07 13시 16시 Al, Ga, Oxigen, Carbon, Hydrogen, Si 성분 분석 한양대학교 나노전자연구실 박철현 450,000원
888 2013-05-09 10시 18시 image scan 포스코 기술연구원 제강연구그룹 문상운 960,000원
889 2013-05-10 13시 16시 image scan 포항공과대학교 GIFT CML 이홍엽 360,000원
890 2013-05-13 14시 17시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
891 2013-05-13 9시 12시 depth profile 서울대학교 재료공학부 신인수 450,000원
892 2013-05-14 10시 14시 연구개발 목적

 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 540,000원
893 2013-05-14 14시 18시 연구개발 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 540,000원
894 2013-05-15 14시 18시 image scan 포스코 기술연구원 제강연구그룹 문상운 480,000원
895 2013-05-15 9시 13시 depth profile 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 540,000원
896 2013-05-16 10시 18시 image scan 포스코 기술연구원 제강연구그룹 문상운 960,000원
897 2013-05-20 9시 12시 image scan STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
898 2013-05-23 10시 18시 depth profile POSCO 기술연구소 김정길 960,000원
899 2013-05-27 10시 12시 depth profile 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 300,000원
900 2013-05-27 14시 17시 silicon doping concentration analysis 포항공과대학교 전자전기공학과 고명동 360,000원
901 2013-05-28 9시 18시 알루미늄 플레이트에 질소 이온 도핑.
약 1*10^17/cm2 dose로 조사함.
질소가 사라질때 까지 depth profiling 		한국원자력연구원 양성자가속기센터 김맹준 1,350,000원
902 2013-05-30 10시 12시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 270,000원
903 2013-05-30 9시 10시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 권영수 120,000원
904 2013-05-31 10시 18시 depth profile POSCO 기술연구소 김정길 960,000원
905 2013-06-03 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 동완재 480,000원
906 2013-06-03 9시 12시 poly Si 금속(Ni) 측정 노코드 주식회사 박막 연구실 이원태 450,000원
907 2013-06-04 10시 11시 샘플 물성 분석 (Oxygen 분포분석) 포항공과대학교 신소재공학과 이대석 105,000원
908 2013-06-04 11시 12시 Boron 도핑 농도 분석 (Boron doped Si layer)
샘플은 내일 오전에 전달해 드리도록 하겠습니다. 감사합니다.
(JNT / 이호준 / 010-2547-9641)		 포항공과대학교 전자전기공학과 김지원 105,000원
909 2013-06-04 12시 18시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 810,000원
910 2013-06-05 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 1,080,000원
911 2013-06-07 13시 16시 depth profile 엘지이노텍 부품소재연구소(SiC Task) 심지인 450,000원
912 2013-06-10 10시 11시 depth profile 포항나노기술집적센터 연구개발부 전영권 120,000원
913 2013-06-10 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 동완재 120,000원
914 2013-06-10 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 기계공학과 신금재 105,000원
915 2013-06-11 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 360,000원
916 2013-06-13 10시 11시 depth profile 한국원자력연구원 양성자가속기센터 김맹준 150,000원
917 2013-06-13 13시 15시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 240,000원
918 2013-06-14 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 240,000원
919 2013-06-14 13시 17시 depth profile 포스코 기술연구원 강재솔루션연구그룹 김정길 480,000원
920 2013-06-14 17시 19시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 240,000원
921 2013-06-17 10시 11시 ReRAM (Pt/Ta/Ti/HfOx/Pt) device의 Depth profile 분석 포항공과대학교 신소재공학과 반상현 120,000원
922 2013-06-17 11시 17시 depth profile 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 900,000원
923 2013-06-19 14시 16시 depth profile 나노스 홀센서그룹 전경인 300,000원
924 2013-06-20 9시 18시 depth profile 한국원자력연구원 양성자가속기센터 김맹준 1,350,000원
925 2013-06-21 9시 18시 depth profile 한국원자력연구원 양성자가속기센터 김맹준 1,350,000원
926 2013-06-28 13시 18시 depth profile 심텍 SPS개발 김이진 750,000원
927 2013-07-01 15시 17시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 270,000원
928 2013-07-02 14시 17시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
929 2013-07-03 12시 21시 Co depth profile 한국원자력연구원 양성자가속기센터 김맹준 1,350,000원
930 2013-07-03 9시 12시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
931 2013-07-04 11시 17시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이성원 900,000원
932 2013-07-05 9시 12시 P, O doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
933 2013-07-09 9시 20시 Al2O3 on Si wafer (Al , O , C , H , N Concentration 분석)
AlSiO on Si wafer (Al , Si , O , C , H , N Concentration 분석)
SiO2 on Si wafer( Si , O , C , H , N Concentration 분석)		 시노스디스플레이코리아 공정개발1팀 황창완 1,650,000원
934 2013-07-10 13시 19시 P, O doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 810,000원
935 2013-07-10 9시 12시 depth profile 심텍 SPS개발 김이진 450,000원
936 2013-07-11 10시 18시 image scan POSCO 강재솔루션연구Gr. 홍승갑 960,000원
937 2013-07-12 13시 18시 P, O doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 675,000원
938 2013-07-15 13시 17시 P, O, B, N, Si doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 540,000원
939 2013-07-15 9시 11시 LED chip 분석. (주)엑시트론 CSTS 차옥환 300,000원
940 2013-07-16 9시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,080,000원
941 2013-07-17 11시 18시 P, O doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 945,000원
942 2013-07-18 11시 20시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 675,000원
943 2013-07-18 9시 11시 Depth profiling
Target atom: Mg, Ga, N, H, In, Sn, O, C		 성균관대학교 나노구조물리연구단 정현 300,000원
944 2013-07-19 13시 18시 P, O doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 675,000원
945 2013-07-22 10시 12시 depth profile 성균관대학교 나노구조물리연구단 정현 300,000원
946 2013-07-22 14시 16시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 240,000원
947 2013-07-23 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 240,000원
948 2013-07-24 11시 12시 sodium 과 Titanium의 분포 이미지 포항공과대학교 기계공학과 박근엽 120,000원
949 2013-07-24 13시 16시 P, O, B, N, Si doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 405,000원
950 2013-07-25 16시 18시 GaN/Sapphire 특성 확인 및 두께 측정 순천대학교 인쇄전자공학과 송치균 300,000원
951 2013-07-25 9시 15시 안녕하세요. 저는 서울대 박사과정 주기수 라고 합니다.
현재 세종대학교 물리학과와 공동 연구중인데 결제를 세종대학교에서 할 예정이라 보내는 사람의 주소가 세종대학교 물리학과 주기수로 되어 있습니다.

보내 드린 샘플은
1. DGG: Ti/Au (100/30nm) / carbon layer 2 nm / GaN based LED
2. TSG:Ti/Au (100/30nm) / carbon layer 1 nm / GaN based LED
3. GaN based LED
입니다.
1번과 2번 샘플은 Metal pad가 있는 곳의 depth profiling을 봐야 합니다. metal이 없는 곳은 carbon이 없어서 측정이 무의미 합니다.
3번은 1번, 2번과 동일한 bare GaN based LED 기판으로 reference 샘플입니다.

3샘플 모두 Gallium, Magnesium, Carbon을 측정하고 싶습니다.
픽 추가가 문제가 안된다면 silicone과 aluminium도 추가 부탁 드립니다.

관측 하는 픽의 수가 유선 상 합의한 개수보다 증가하여 문제가 된다면 연락 부탁 드립니다.
픽 추가 측정시 추가 비용이 발생해도 상관 없습니다. 픽 추가 측정시 장비 스케쥴 상 문제가 된다면 연락 부탁 드립니다.

주기수 올림 (010-7208-2301), ksoo@snu.ac.kr

 세종대학교 물리학과 주기수 900,000원
952 2013-07-26 10시 12시 depth profile 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 300,000원
953 2013-07-30 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 480,000원
954 2013-08-02 13시 16시 Extraction of dopant profile in silicon substrate 포항공과대학교 전자전기공학과 고명동 315,000원
955 2013-08-07 13시 17시 CdS(80nm)/CIGS(2um)/Mo(1um)/Soda lime glass 층의 박막의 depth 별 원소 조성 확인
(2개시료)
- CdS와 CIGS 사이에서의 Sulfur 또는 Cd 이 CIGS 쪽으로 diffusion이 되는지 여부
- CIGS와 Mo 사이에서 Na 이온의 분포여부
[ Cu, In, Ga, Se, Na, Mo, Cd, S] chalcopyrite 구조

CZTSSe(1.8um)/Mo(1um)/Soda lime glass 층의 박막의 depth 별 원소 조성 확인
(2개시료)
- CIGS와 Mo 사이에서 Na 이온의 분포여부
[ Cu, Zn, Sn, Se, S, Na, Mo ] Kesterite 구조		 이화여자대학교 물리학과 김지영 600,000원
956 2013-08-09 13시 15시 depth profile 서울대학교 재료공학부 문대영 300,000원
957 2013-08-12 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김영태 360,000원
958 2013-08-13 13시 15시 P, O, B, N, Si doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 270,000원
959 2013-08-19 14시 17시 TIN Flim 내 Al Contamination 분석 목적 주성엔지니어링 반도체 개발그룹 ALD팀 신형섭 405,000원
960 2013-08-20 10시 12시 Depth에 따른 Cs 이온 profile 분석 서강대학교 전자공학과 이현국 300,000원
961 2013-08-21 9시 22시 depth profile 원익아이피에스 연구 2팀 김경환 1,950,000원
962 2013-08-22 10시 12시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 240,000원
963 2013-08-22 15시 17시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 이대석 210,000원
964 2013-08-23 14시 18시 P, O doping profile 분석 STX솔라 연구개발팀 최지환 540,000원
965 2013-08-26 9시 19시 depth profile LG 전자 솔라연구소 장원재 1,200,000원
966 2013-08-27 10시 11시 phosphorous doping 농도 분석 (JNT / 이호준 / 010-2547-9641)
샘플은 오늘 점심시간 전으로 드리도록 하겠습니다.
예약시간은 일단 오늘 오후로 하였습니다. 감사합니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 김지원 105,000원
967 2013-08-27 14시 17시 depth profile LG 전자 솔라연구소 장원재 360,000원
968 2013-08-29 13시 16시 depth profile LG 전자 솔라연구소 장원재 360,000원
969 2013-08-30 14시 16시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 240,000원
970 2013-09-02 10시 14시 depth profile 원익아이피에스 연구 2팀 김경환 600,000원
971 2013-09-03 9시 19시 depth profile 원익아이피에스 개발2팀 신창호 1,500,000원
972 2013-09-04 9시 18시 depth profile 원익아이피에스 개발2팀 신창호 1,350,000원
973 2013-09-05 16시 20시 재료 내부의 수소분포 계산 포항공과대학교 철강대학원 권영진 480,000원
974 2013-09-05 9시 11시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이성원 300,000원
975 2013-09-06 15시 21시 첨가제를 이용하여 PCBM/PTB7 cell을 제작하였습니다. 일반적인 cell은 PCBM과 PTB7의 표면에너지 차이로 인해 이상적인 bulk heterojunction을 성립하지 못하고, aggregation이 생기거나 phase separation이 되며, 이는 cell의 성능을 저하시키는 한 요인인데, 이에 첨가제를 첨가하여 PTB7의 표면 에너지를 조절, 이상적인 bulk heterojunction을 구현하여 cell의 성능을 향상시키고자 합니다. 이 때 이상적인 vertical separation이 일어났는지 확인하고자, 광활성층의 vertical composition을 측정하려 합니다. 포항공과대학교 화학공학과 김관우 630,000원
976 2013-09-06 9시 15시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 임경근 630,000원
977 2013-09-09 10시 18시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,200,000원
978 2013-09-10 10시 17시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 945,000원
979 2013-09-11 10시 14시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 480,000원
980 2013-09-11 14시 20시 연구개발 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 810,000원
981 2013-09-12 10시 16시 image scan 포스코 기술연구원 제강연구그룹 문상운 720,000원
982 2013-09-13 9시 11시 depth profile 포항공과대학교 철강대학원 권영진 240,000원
983 2013-09-16 10시 18시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,200,000원
984 2013-09-17 10시 18시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,200,000원
985 2013-09-23 9시 18시 소재 분석 동양산업 신사업팀장(책임) 조충일 1,000,000원
986 2013-09-24 10시 12시 depth profile 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 300,000원
987 2013-09-24 14시 16시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 270,000원
988 2013-09-25 9시 17시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 960,000원
989 2013-09-26 13시 17시 depth profile STX솔라 연구개발팀 최지환 540,000원
990 2013-09-26 9시 12시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 360,000원
991 2013-09-27 14시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 540,000원
992 2013-09-27 9시 12시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 500,000원
993 2013-09-28 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
994 2013-09-29 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
995 2013-09-30 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
996 2013-10-01 10시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
997 2013-10-02 10시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
998 2013-10-04 9시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,400,000원
999 2013-10-07 10시 16시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 900,000원
1000 2013-10-08 10시 17시 depth profile SK Innovation 소재연구소 신소재Lab 이병석 1,050,000원
1001 2013-10-10 14시 16시 measurement of As, P doping concentration 포항공과대학교 전자전기공학과 고명동 240,000원
1002 2013-10-14 10시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
1003 2013-10-16 10시 15시 depth profile 포스코 기술연구원 POS-EF연구프로젝트팀 이재륭 600,000원
1004 2013-10-17 10시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 제강연구그룹 정태인 960,000원
1005 2013-10-18 10시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 제강연구그룹 정태인 960,000원
1006 2013-10-21 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 고명동 360,000원
1007 2013-10-22 10시 18시 실험 내용

목적 : grain boundary에 segregation된 원소들의 정량 분석
샘플 종류 : Fe-based metal (Fe-15Mn-2Al기반 (wt.%))
샘플 개수 : 7개
분석 원소 : 샘플마다 분석하고자 원소가 약간 상이하나, (1번: C, B 2번: C, W 3번: C, Sb 4번: C, Sn 5번: C, P 6번: C, B, Sb 7번: C, Sb, Sn (*원소가 추가될 가능성이 있습니다.)) 괄호와 같습니다.
(B경우, 0.002 wt.% =20ppm 미량, P경우 0.01wt.% =100ppm 수준의 미량 ) ->이 부분을 e-mail로 쓰기 어려운데, 이해하기 힘드시면, 연락 주세요.
관찰 영역 : 30X30~100X100 μm
샘플 크기 : 9(W) x 1(L)X 3(H) mm ->크기는 조절 가능합니다.
 연세대학교 신소재공학과 이승준 1,080,000원
1008 2013-10-23 10시 18시 목적 : grain boundary에 segregation된 원소들의 정량 분석
샘플 종류 : Fe-based metal (Fe-15Mn-2Al기반 (wt.%))
샘플 개수 : 7개
분석 원소 : 샘플마다 분석하고자 원소가 약간 상이하나, (1번: C, B 2번: C, W 3번: C, Sb 4번: C, Sn 5번: C, P 6번: C, B, Sb 7번: C, Sb, Sn (*원소가 추가될 가능성이 매우 큽니다.)) 괄호와 같습니다.
(B경우, 0.002 wt.% =20ppm 미량, P경우 0.01wt.% =100ppm 수준의 미량 ) 관찰 영역 : 30X30~100X100 μm mapping
샘플 크기 : 9(W) x 1(L)X 3(H) mm ->크기는 조절 가능합니다.
특이 사항 : 10월22일에도 동일하게 의뢰함
 연세대학교 신소재공학과 이승준 1,080,000원
1009 2013-10-25 9시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 중앙기기센터 이봉호 1,080,000원
1010 2013-10-28 9시 12시 CZTSe 박막의 Depth profile 측정을 의뢰합니다.
측정하고자 하는 원소는 Cu, Zn, Sn, Se, Mo, Na 입니다.
박막 구조는 Mo가 증착된 유리 기판 위에 CZTSe 박막을 성장하였습니다.
감사합니다.		 대구경북과학기술원 에너지연구부 고병수 405,000원
1011 2013-10-29 13시 17시 depth profile 540,000원
1012 2013-11-01 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
1013 2013-11-04 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
1014 2013-11-05 10시 17시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 840,000원
1015 2013-11-06 10시 16시 소재 분석 (depth) 동양산업 신사업팀장(책임) 조충일 1,000,000원
1016 2013-11-07 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 720,000원
1017 2013-11-08 10시 16시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,000,000원
1018 2013-11-11 9시 21시 depth profile 포스코 표면처리연구그룹 김무진 1,440,000원
1019 2013-11-12 10시 17시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 840,000원
1020 2013-11-14 9시 21시 연구개발 대구경북과학기술원 차세대융복합연구센터 전보람 1,620,000원
1021 2013-11-15 16시 18시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 240,000원
1022 2013-11-18 10시 11시 depth profile 그린사이언스 기술지원팀 옥창우 150,000원
1023 2013-11-19 9시 19시 depth profile 한국섬유기계연구원 기업지원팀 배윤기 1,500,000원
1024 2013-11-20 9시 19시 depth profile 한국섬유기계연구원 기업지원팀 배윤기 1,500,000원
1025 2013-11-21 14시 17시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 우지용 315,000원
1026 2013-11-25 11시 16시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 675,000원
1027 2013-11-26 11시 16시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 675,000원
1028 2013-11-27 9시 18시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 1,080,000원
1029 2013-11-28 10시 12시 표면 원소 함량 분석 포항공과대학교 화학공학과 이진욱 210,000원
1030 2013-11-29 10시 18시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 960,000원
1031 2013-12-02 10시 18시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,200,000원
1032 2013-12-03 10시 17시 depth profile 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,050,000원
1033 2013-12-04 10시 17시 복합물 depth 분석 (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,000,000원
1034 2013-12-05 11시 15시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 420,000원
1035 2013-12-06 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 720,000원
1036 2013-12-09 9시 21시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 1,620,000원
1037 2013-12-10 10시 15시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 600,000원
1038 2013-12-11 11시 15시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 480,000원
1039 2013-12-13 9시 18시 사파이어 기판에 성장된 GaN 층의 성분 분석을 의뢰 드리고자 합니다.
대략의 분석 두께 및 분석 성분은 아래와 같습니다.
분석두께 : ~1.5 um
분석성분 : Mg, Si, In, Ga, Al, C, O, H 등

보다 자세한 사항은 첨부파일을 확인하여 주시기 바랍니다.
 ETRI 광무선부 김동철 1,350,000원
1040 2013-12-16 1시 18시 depth profile ETRI 광무선부 김동철 1,350,000원
1041 2013-12-17 9시 17시 재료 분석 동양산업 신사업팀장(책임) 조충일 1,000,000원
1042 2013-12-18 13시 15시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 210,000원
1043 2013-12-19 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 송은주 120,000원
1044 2013-12-19 14시 15시 depth profile 포항공대 가속기연구소 가속기부 개발1팀 권혁채 120,000원
1045 2013-12-20 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 480,000원
1046 2013-12-20 14시 15시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 105,000원
1047 2013-12-24 10시 15시 depth profile ETRI 광무선부 김동철 750,000원
1048 2013-12-26 10시 12시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 210,000원
1049 2014-01-03 13시 14시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 105,000원
1050 2014-01-06 15시 17시 I-v 포항공과대학교 mse Xu Wentao 210,000원
1051 2014-01-07 9시 21시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 1,620,000원
1052 2014-01-08 13시 17시 As/B ion 주입된 wafer의 depth에 따른 doping profile 측정 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 420,000원
1053 2014-01-09 13시 15시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 210,000원
1054 2014-01-10 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 960,000원
1055 2014-01-13 10시 16시 예전에 폴리머/풀러렌 혼합물을 이용해서 필름을 깐 후, vertical composition 을 확인하려 실험을 한 적이 있는데, 그 때보다 더 나은 데이터를 얻고자 재측정하려고 합니다. 포항공과대학교 화학공학과 김관우 630,000원
1056 2014-01-14 10시 18시 반도체 분석 (depth) 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 1,000,000원
1057 2014-01-14 9시 10시 depth profile ETRI 광무선부 김동철 150,000원
1058 2014-01-15 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 1,080,000원
1059 2014-01-16 9시 19시 성분 분석 (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
1060 2014-01-20 10시 12시 소자 특성 분석 포항공과대학교 신소재공학과 우지용 210,000원
1061 2014-01-20 13시 18시 depth profile 포스텍 철강대학원 이준모 600,000원
1062 2014-01-20 8시 10시 SIGe/Si/SiGe/Si B, P 분석 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 210,000원
1063 2014-01-21 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 480,000원
1064 2014-01-22 16시 18시 image scan 포스텍 철강대학원 이준모 240,000원
1065 2014-01-22 9시 14시 표면 성분분석 동양산업 신사업팀장(책임) 조충일 600,000원
1066 2014-01-23 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 480,000원
1067 2014-01-24 13시 18시 depth profile 675,000원
1068 2014-01-24 9시 11시 Mg 도핑된 GaN 샘플에서 Mg 의 도핑농도 측정 서울대학교 재료공학부 문대영 300,000원
1069 2014-01-27 9시 19시 depth profile 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 1,350,000원
1070 2014-01-28 13시 17시 depth profile 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 540,000원
1071 2014-01-29 9시 19시 depth profile POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 1,200,000원
1072 2014-02-03 9시 19시 depth profile POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 1,200,000원
1073 2014-02-04 9시 19시 depth profile POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 1,200,000원
1074 2014-02-05 9시 19시 depth profile POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 1,200,000원
1075 2014-02-06 13시 17시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정 기술팀 이원범 420,000원
1076 2014-02-07 10시 11시 n-type doped AlGaN layer층 성분분석
(depth별로 Si, Al, Ga, N 성분을 각각 분석 부탁드립니다)		 금오공과대학교 신소재연구소 임기식 150,000원
1077 2014-02-07 13시 17시 depth profile 540,000원
1078 2014-02-10 10시 18시 SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 1,000,000원
1079 2014-02-11 10시 16시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 810,000원
1080 2014-02-12 12시 18시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 810,000원
1081 2014-02-13 14시 18시 SIMS depth profile.

Sample 5개 보냈는데 트레이에 위에 2개 아래 2개만 측정 부탁 드립니다 .

그리고 혹시 남은 sample은 반송 가능하면 반송 부탁 드립니다. 		대구경북과학기술원 에너지시스템공학 황순욱 540,000원
1082 2014-02-14 10시 16시 depth profile POSCO 미래제품연구그룹 정관호 720,000원
1083 2014-02-17 9시 19시 depth profile POSCO 미래제품연구그룹 정관호 1,200,000원
1084 2014-02-18 10시 18시 Dopant 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 1,000,000원
1085 2014-02-25 12시 14시 depth profile TE connectivity R&D 박봉현 300,000원
1086 2014-02-25 9시 12시 depth profile 405,000원
1087 2014-02-26 10시 16시 depth profile 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 810,000원
1088 2014-02-27 10시 16시 depth profile 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 810,000원
1089 2014-02-28 10시 14시 depth profile 포스텍 철강대학원 이준모 480,000원
1090 2014-02-28 14시 17시 depth profile 포스코 기술연구원 박판연구그룹 김용우 360,000원
1091 2014-03-03 10시 13시 Cu 내부의 oxygen concentration 포항공과대학교 화학공학과 이효찬 360,000원
1092 2014-03-03 13시 17시 depth profile 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 600,000원
1093 2014-03-04 10시 17시 표면 산화물 분석 depth profile 포항공과대학교 철강학과 조영찬 840,000원
1094 2014-03-04 17시 18시 depth profile 포스텍 철강대학원 이준모 120,000원
1095 2014-03-05 10시 16시 Phosphorous doped wafer의 doping profile 측정 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 630,000원
1096 2014-03-05 16시 18시 H, C, O, Ga, N 및 Mg 도핑 농도 측정 서울대학교 재료공학부 문대영 300,000원
1097 2014-03-10 9시 16시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 945,000원
1098 2014-03-11 10시 14시 SIMS mapping of 4 additional samples 포항공과대학교 철강학과 조영찬 480,000원
1099 2014-03-12 10시 14시 image scan POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 480,000원
1100 2014-03-13 9시 19시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 1,350,000원
1101 2014-03-14 9시 13시 depth profile 재료연구소 내열재료연구실 윤대원 540,000원
1102 2014-03-17 14시 17시 Phosphorous doped wafer SIMS분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 315,000원
1103 2014-03-18 14시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 민윤기 270,000원
1104 2014-03-18 16시 18시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 270,000원
1105 2014-03-18 9시 14시 MBE로 성장된 GaN on Si 물성분석 한양대학교 전자전기제어계측공학과 이상태 750,000원
1106 2014-03-19 13시 17시 Depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 480,000원
1107 2014-03-19 9시 10시 Phosphorous Doping Depth Pf 분석 부탁드립니다.

샘플은 오전에 드리도록 하겠습니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 105,000원
1108 2014-03-20 13시 14시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 120,000원
1109 2014-03-20 14시 18시 depth profile 포항공과대학교 abhijit biswas 480,000원
1110 2014-03-20 9시 12시 depth profile 포항공과대학교 대외협력팀 이남석 315,000원
1111 2014-03-21 12시 21시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 1,080,000원
1112 2014-03-21 9시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학과 김온누리 360,000원
1113 2014-03-24 9시 19시 depth profile (주)예스파워테크닉스 R&D 양창헌 1,350,000원
1114 2014-03-25 10시 19시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 1,080,000원
1115 2014-03-26 9시 18시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 1,080,000원
1116 2014-03-27 9시 17시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 840,000원
1117 2014-03-28 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 810,000원
1118 2014-03-28 16시 19시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 360,000원
1119 2014-03-31 13시 17시 steel 시편 탄소 imaging 포항공과대학교 신소재공학과 강지윤 420,000원
1120 2014-04-01 9시 13시 Depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 문정현 540,000원
1121 2014-04-02 10시 17시 Depth profile 945,000원
1122 2014-04-03 9시 19시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 1,200,000원
1123 2014-04-04 14시 15시 Depth profile 포항공과대학교 전자공학 홍난기 105,000원
1124 2014-04-04 15시 21시 Depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 문정현 810,000원
1125 2014-04-07 10시 15시 depth profile 전북대학교 기계공학과 최재호 750,000원
1126 2014-04-09 9시 18시 Depth profile 포스코 표면처리연구그룹 김무진 1,080,000원
1127 2014-04-10 10시 16시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 720,000원
1128 2014-04-11 9시 19시 Depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 문정현 1,350,000원
1129 2014-04-14 10시 19시 Depth profile 포스코 표면처리연구그룹 김무진 1,080,000원
1130 2014-04-14 9시 10시 image scan 포항공과대학교 철강대학원 권영진 120,000원
1131 2014-04-15 10시 14시 Depth profile maple semi 공정기술 김상근 540,000원
1132 2014-04-16 9시 17시 Depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 1,200,000원
1133 2014-04-17 10시 15시 Depth profile 675,000원
1134 2014-04-18 10시 16시 Depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 720,000원
1135 2014-04-21 10시 15시 Depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 600,000원
1136 2014-04-21 15시 17시 Depth profile 300,000원
1137 2014-04-22 10시 17시 Depth profile 945,000원
1138 2014-04-23 10시 14시 Depth profile maple semi 공정기술 김상근 540,000원
1139 2014-04-24 10시 16시 Depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 문정현 810,000원
1140 2014-04-25 9시 14시 Depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 600,000원
1141 2014-04-28 9시 19시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 1,200,000원
1142 2014-04-29 10시 18시 Depth profile 고려제강 기술개발연구원 송성훈 1,080,000원
1143 2014-05-02 10시 14시 depth profiling 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 480,000원
1144 2014-05-07 10시 13시 Depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 360,000원
1145 2014-05-08 10시 14시 depth profile 540,000원
1146 2014-05-09 10시 12시 depth profile 한국원자력연구원 양성자가속기연구센터 김용기 300,000원
1147 2014-05-09 12시 18시 Depth profile 분석 포스텍 기계공학과 생체유체연구단 안성숙 720,000원
1148 2014-05-12 10시 14시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 540,000원
1149 2014-05-13 10시 15시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 600,000원
1150 2014-05-14 10시 15시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 600,000원
1151 2014-05-15 10시 13시 depth profile 포항공과대학교 화학과 김온누리 360,000원
1152 2014-05-16 10시 17시 depth profile 고려제강 기술개발연구원 송성훈 945,000원
1153 2014-05-19 10시 13시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 360,000원
1154 2014-05-19 12시 17시 Depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 525,000원
1155 2014-05-20 10시 12시 depth profile 300,000원
1156 2014-05-20 12시 18시 Depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 720,000원
1157 2014-05-21 10시 12시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 300,000원
1158 2014-05-22 13시 14시 Si 깊이에 따른 P doping concentration 측정 국민대학교 신소재공학부 광전자재료실험실 박찬혁 150,000원
1159 2014-05-26 10시 17시 depth profile/image 포항공과대학교 화공과 송인영 735,000원
1160 2014-05-28 10시 19시 image scan POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 1,080,000원
1161 2014-05-29 10시 19시 image scan POSCO 기술연구소 강재솔루션 연구그룹 이봉근 1,080,000원
1162 2014-05-30 9시 14시 Depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 525,000원
1163 2014-06-02 10시 18시 Depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 960,000원
1164 2014-06-03 10시 12시 u-GaN, n-GaN 농도 Profile 티지오테크 연구소 이명철 300,000원
1165 2014-06-03 12시 17시 Image scanning 포스코 접합연구그룹 송우현 600,000원
1166 2014-06-09 10시 15시 Image scan 포스코 접합연구그룹 송우현 600,000원
1167 2014-06-13 13시 15시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 백창기 210,000원
1168 2014-06-17 12시 17시 Si solar cell front electrode depth profile measurement (주)울텍 기술연구소 공대영 675,000원
1169 2014-06-18 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
1170 2014-06-19 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
1171 2014-06-20 13시 18시 Si solar cell wafer test (주)울텍 기술연구소 공대영 675,000원
1172 2014-06-20 9시 19시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,500,000원
1173 2014-06-23 10시 13시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 450,000원
1174 2014-06-26 10시 14시 depth profile 고려제강 기술개발연구원 송성훈 540,000원
1175 2014-06-27 12시 16시 Si도핑된 GaN성분 분석
(Si, Ga, N 원소 분석, Depth는 400nm 분석 부탁드립니다)
샘플은 백경흠 선임님께 전달했습니다		 금오공과대학교 신소재연구소 임기식 600,000원
1176 2014-06-27 16시 17시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 백창기 105,000원
1177 2014-06-30 10시 15시 depth profile
Si/Org/Al (3개)
Si/Au/Al (1개)		 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 600,000원
1178 2014-07-01 10시 15시 Depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 675,000원
1179 2014-07-02 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 백창기 105,000원
1180 2014-07-02 14시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 540,000원
1181 2014-07-02 9시 13시 depth profile 원익IPS 솔라개발파트 이정민 600,000원
1182 2014-07-03 10시 12시 depth profile (주)심텍 SPS개발 1OU 박영호 300,000원
1183 2014-07-04 10시 11시 image scan 포항공과대학교 신소재공학과 김미애 120,000원
1184 2014-07-04 11시 12시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 120,000원
1185 2014-07-08 10시 17시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 735,000원
1186 2014-07-14 10시 15시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 525,000원
1187 2014-07-17 10시 12시 Depth profile 국민대학교 신소재공학부 광전자재료실험실 박찬혁 300,000원
1188 2014-07-17 13시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 405,000원
1189 2014-07-18 15시 17시 depth profile (주)심텍 SPS개발 1OU 박영호 300,000원
1190 2014-07-21 10시 11시 As depth pf 분석
(Silicon layer 100nm)
샘플은 오전에 전해드리도록 하겠습니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 105,000원
1191 2014-07-21 11시 12시 유기전자소자의 layer 분석 상지대학교 산학협력단 반도체에너지공학과 손선영 120,000원
1192 2014-07-21 12시 14시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 김래호 210,000원
1193 2014-07-22 10시 14시 depth profile 고려제강 기술개발연구원 송성훈 540,000원
1194 2014-07-23 10시 13시 Image scan 포항공과대학교 신소재공학과 강지윤 315,000원
1195 2014-07-25 10시 15시 depth profile 675,000원
1196 2014-07-28 10시 15시 depth profile (주)울텍 기술연구소 공대영 675,000원
1197 2014-07-30 10시 20시 Depth profile & image scan 포항공과대학교 화학공학과 김관우 1,050,000원
1198 2014-07-31 10시 16시 u-GaN, n-GaN 농도 확인 티지오테크 연구소 이명철 900,000원
1199 2014-08-04 10시 12시 depth profile 국민대학교 신소재공학부 광전자재료실험실 박찬혁 300,000원
1200 2014-08-05 12시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 600,000원
1201 2014-08-06 14시 15시 u-GaN, n-GaN Doping 농도 확인 티지오테크 연구소 이명철 150,000원
1202 2014-08-06 9시 14시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 675,000원
1203 2014-08-11 10시 15시 depth profile 국민대학교 신소재공학부 광전자재료실험실 박찬혁 750,000원
1204 2014-08-12 13시 18시 depth profile 고려제강 기술개발연구원 송성훈 675,000원
1205 2014-08-13 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 630,000원
1206 2014-08-14 9시 12시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 405,000원
1207 2014-08-18 9시 17시 Depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
1208 2014-08-19 10시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
1209 2014-08-20 10시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
1210 2014-08-21 10시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
1211 2014-08-22 10시 18시 depth profile (주)어플라이드카본나노 기술연구소 최규식 1,200,000원
1212 2014-08-29 13시 14시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 135,000원
1213 2014-09-01 10시 11시 Depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 120,000원
1214 2014-09-03 10시 14시 Depth profile 대구경북과학기술원 고병수 540,000원
1215 2014-09-05 10시 14시 Depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 540,000원
1216 2014-09-10 10시 11시 As Ion depth profile
(Si layer 100nm 분석)		 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 105,000원
1217 2014-09-10 10시 16시 Depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 오미솔 810,000원
1218 2014-09-16 9시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,050,000원
1219 2014-09-19 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 210,000원
1220 2014-09-22 10시 16시 depth profile 포스코 기술연구원 포항연구소 STS연구그룹 김광민 720,000원
1221 2014-09-23 10시 12시 depth profile 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 300,000원
1222 2014-09-24 10시 17시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 840,000원
1223 2014-09-25 10시 16시 depth profile 포스코 기술연구원 포항연구소 STS연구그룹 김광민 720,000원
1224 2014-09-26 10시 16시 depth profile 포스코 기술연구원 포항연구소 STS연구그룹 김광민 720,000원
1225 2014-09-29 10시 16시 depth profile 포스코 기술연구원 포항연구소 STS연구그룹 김광민 720,000원
1226 2014-09-30 10시 12시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 270,000원
1227 2014-10-06 10시 12시 2.5㎛ Etching후 표면에 Ga, Al, O, N성분 확인 티지오테크 연구소 이명철 300,000원
1228 2014-10-06 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 315,000원
1229 2014-10-07 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 600,000원
1230 2014-10-08 9시 13시 image scan 한국과학기술원 신소재공학과 홍도형 600,000원
1231 2014-10-09 13시 17시 depth profile 메이플세미 공정기술팀 김태우 600,000원
1232 2014-10-10 13시 15시 image scan 포항공과대학교 첨단원자력공학부 김동현 240,000원
1233 2014-10-10 16시 17시 depth profile 한국원자력연구원 선진핵주기기술개발부 소병진 120,000원
1234 2014-10-13 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 810,000원
1235 2014-10-14 13시 16시 depth profile 이화여자대학교 물리학과 김지영 450,000원
1236 2014-10-14 9시 12시 depth profile 메이플세미 공정기술팀 김태우 450,000원
1237 2014-10-15 10시 11시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 오미솔 135,000원
1238 2014-10-21 4시 24시 depth profile 한국섬유기계연구원 기업지원팀 배윤기 2,700,000원
1239 2014-10-22 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 박민호 630,000원
1240 2014-10-23 13시 17시 유기반도체 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유호천 480,000원
1241 2014-10-24 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 960,000원
1242 2014-10-27 13시 15시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 장동현 210,000원
1243 2014-10-28 13시 18시 depth profile E&R솔라(구STX솔라) 연구개발팀 조선현 750,000원
1244 2014-10-30 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재 공학과 구상모 1,080,000원
1245 2014-10-31 10시 15시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 525,000원
1246 2014-10-31 15시 19시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유호천 480,000원
1247 2014-11-03 10시 11시 depth profile 국민대학교 신소재공학부 광전자재료실험실 박찬혁 150,000원
1248 2014-11-05 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 315,000원
1249 2014-11-06 13시 15시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 270,000원
1250 2014-11-07 13시 15시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 270,000원
1251 2014-11-18 9시 18시 depth profile 1,215,000원
1252 2014-11-24 13시 15시 As doping profile (SOI sample) 포항공과대학교 전자전기공학과 김동훈 210,000원
1253 2014-11-25 9시 15시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이철훈 630,000원
1254 2014-11-26 9시 13시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이성원 600,000원
1255 2014-11-27 9시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 945,000원
1256 2014-11-28 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 장동현 315,000원
1257 2014-11-28 17시 17시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 4,920,000원
1258 2014-11-28 9시 11시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 270,000원
1259 2014-12-01 9시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 POS-EF연구프로젝트팀 이재륭 1,080,000원
1260 2014-12-02 9시 22시 depth profile 포스코 기술연구원 POS-EF연구프로젝트팀 이재륭 1,566,000원
1261 2014-12-05 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 장동현 120,000원
1262 2014-12-05 9시 10시 depth profile 135,000원
1263 2014-12-08 9시 18시 depth profile E&R솔라(구STX솔라) 연구개발팀 조선현 1,215,000원
1264 2014-12-10 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 최종민 420,000원
1265 2014-12-17 9시 15시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 720,000원
1266 2014-12-18 9시 15시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 정미진 810,000원
1267 2014-12-19 13시 16시 depth profile 국민대학교 신소재공학부 광전자재료실험실 박찬혁 450,000원
1268 2014-12-22 14시 16시 depth profile 포스코 포항연구소 STS제품연구그룹 조기훈 240,000원
1269 2014-12-23 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 최종민 420,000원
1270 2014-12-23 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이철훈 420,000원
1271 2014-12-24 9시 17시 depth prfile 연세대학교 신소재공학과 정미진 1,080,000원
1272 2014-12-29 9시 17시 depth & image profile 포항공과대학교 철강대학원 ATL 김재유 960,000원
1273 2014-12-30 9시 19시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 1,200,000원
1274 2015-01-07 9시 18시 depth profile 1,215,000원
1275 2015-01-08 13시 15시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 240,000원
1276 2015-01-12 1시 19시 1. Silicon wafer의 산화 분석 (Si, O, C, SiO, SiO2)
2. Copper sample의 산화 분석 (Cu, O, C, CuO, Cu2O)		 포항공과대학교 기계공학과 서창호 1,200,000원
1277 2015-01-13 9시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 1,215,000원
1278 2015-01-14 13시 14시 As ion depth profile 분석 의뢰
ion concentration (cm-3) 분석		 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 105,000원
1279 2015-01-14 9시 12시 depth profile 포항공과대학교 기계공학과 신금재 315,000원
1280 2015-01-15 9시 10시 depth profile 포항공과대학교 철강대학원 ATL 김재유 120,000원
1281 2015-01-16 9시 12시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 장현철 405,000원
1282 2015-01-24 8시 24시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 2,000,000원
1283 2015-01-26 18시 19시 depth profile 경북대학교 전자공학과 임기식 150,000원
1284 2015-01-26 9시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 오진호 1,080,000원
1285 2015-01-27 9시 18시 교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,385,000원
1286 2015-01-28 18시 22시 depth profile 한국전자통신연구원 광무선융합플랫폼연구실 김성복 600,000원
1287 2015-01-28 9시 18시 교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,385,000원
1288 2015-01-29 9시 15시 교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 930,000원
1289 2015-01-30 15시 21시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이철훈 630,000원
1290 2015-01-30 22시 23시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 135,000원
1291 2015-02-02 13시 17시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 480,000원
1292 2015-02-03 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 120,000원
1293 2015-02-09 9시 15시 depth profile 810,000원
1294 2015-02-10 11시 19시 depth profile 포항공과대학교 철강대학원 ATL 김재유 960,000원
1295 2015-02-10 9시 11시 depth profile 경북대학교 전자공학과 임기식 300,000원
1296 2015-02-11 9시 17시 depth profile 포항공과대학교 철강대학원 ATL 김재유 960,000원
1297 2015-02-12 9시 15시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 720,000원
1298 2015-02-13 13시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 675,000원
1299 2015-02-16 12시 18시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 720,000원
1300 2015-02-16 9시 12시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 최민기 360,000원
1301 2015-02-17 14시 15시 1. 불순물 농도 확인 티지오테크 연구소 이명철 150,000원
1302 2015-02-24 9시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 945,000원
1303 2015-02-25 10시 11시 불순물 농도 확인 티지오테크 연구소 이명철 150,000원
1304 2015-02-26 9시 13시 샘플 깊이별 원소 분석 한국화학연구원 에너지소재센터 송슬기 525,000원
1305 2015-02-27 9시 19시 박막 Depth-profiling 포항공과대학교 신소재공학과 조힘찬 1,050,000원
1306 2015-03-02 9시 10시 SiN on Si wafer
SiN thin film 의 Si , N , H , O , C 정량(concentration) 분석 , Depth profile		 비코에이엘디코리아 공정팀 황창완 150,000원
1307 2015-03-03 9시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 840,000원
1308 2015-03-04 15시 16시 image scan 포항공과대학교 신소재공학과 조힘찬 105,000원
1309 2015-03-10 9시 17시 depth profile 포항공과대학교 환경공학부 원승현 720,000원
1310 2015-03-12 13시 16시 depth profile 포항공과대학교 환경공학부 원승현 360,000원
1311 2015-03-17 14시 17시 IMP공정 분석 KEC 공정기술G 김상호 450,000원
1312 2015-03-18 13시 14시 불순물 농도 확인 티지오테크 연구소 이명철 150,000원
1313 2015-03-26 9시 10시 depth profile 파워마스터반도체 주식회사 공정기술팀 기종 0원
1314 2015-03-27 14시 17시 depth profile 405,000원
1315 2015-03-27 9시 14시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 675,000원
1316 2015-03-29 1시 19시 MBE로 성장된 GaN/Si 물성분석 한양대학교 전자통신공학과 이상태 1,500,000원
1317 2015-03-30 1시 9시 depth profile 서울대학교 전기컴퓨터공학부 이민성 1,200,000원
1318 2015-03-31 9시 21시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 1,620,000원
1319 2015-04-01 15시 19시 image scaning 아사히글라스 AFK 품질보증 Section 장정애 600,000원
1320 2015-04-01 9시 13시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 540,000원
1321 2015-04-02 9시 13시 depth profile 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 600,000원
1322 2015-04-03 9시 22시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,755,000원
1323 2015-04-06 10시 12시 Planar photodetector 도핑 농도 및 두께 측정 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1324 2015-04-07 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1325 2015-04-08 9시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 1,215,000원
1326 2015-04-10 14시 17시 Image scan 아사히글라스 AFK 품질보증 Section 장정애 450,000원
1327 2015-04-13 15시 16시 Depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1328 2015-04-13 18시 24시 depth profile 경북대학교 전자공학부 원철호 900,000원
1329 2015-04-15 14시 16시 Image mapping 포항공과대학교 철강대학원 권영진 240,000원
1330 2015-04-16 11시 18시 Al, N 정량 평가 한국전기연구원 전력반도체연구단 차세대반도체연구센터 문정현 945,000원
1331 2015-04-17 14시 24시 depth profile 1,350,000원
1332 2015-04-17 7시 14시 depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 문정현 945,000원
1333 2015-04-20 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,080,000원
1334 2015-04-21 9시 18시 이온주입 깊이 및 질량 분석 (주)예스파워테크닉스 연구소 강예환 1,215,000원
1335 2015-04-22 10시 13시 depth profile (주)예스파워테크닉스 연구소 강예환 405,000원
1336 2015-04-23 17시 19시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 270,000원
1337 2015-04-23 9시 17시 depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 문정현 1,080,000원
1338 2015-04-24 16시 24시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 1,080,000원
1339 2015-04-24 9시 16시 depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구단 차세대반도체연구센터 문정현 945,000원
1340 2015-04-27 11시 14시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 405,000원
1341 2015-04-27 14시 16시 SOI wafer(top si 50nm) boron profile 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 210,000원
1342 2015-04-28 11시 17시 depth profile (주)예스파워테크닉스 연구소 강예환 810,000원
1343 2015-04-28 9시 11시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 270,000원
1344 2015-04-29 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 최민기 120,000원
1345 2015-05-04 10시 14시 depth profile 및 image scan 포스코 선재연구그룹 양요셉 480,000원
1346 2015-05-06 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 210,000원
1347 2015-05-07 13시 17시 depth profile 및 image scan 포스코 선재연구그룹 양요셉 480,000원
1348 2015-05-08 10시 12시 deoth profile 한국전기연구원 전력반도체연구센터 문정현 270,000원
1349 2015-05-08 14시 16시 depth profile 아사히글라스 아사히글라스 이철호 300,000원
1350 2015-05-11 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 오진호 810,000원
1351 2015-05-12 13시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 오진호 405,000원
1352 2015-05-13 10시 11시 depth profile 성균관대학교 신소재공학과 최성흠 150,000원
1353 2015-05-14 13시 16시 image scan 아사히글라스 아사히글라스 이철호 450,000원
1354 2015-05-15 9시 23시 depth profile 한국전기연구원 전력반도체연구단 차세대반도체연구센터 문정현 1,890,000원
1355 2015-05-26 9시 19시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,350,000원
1356 2015-06-01 12시 14시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 270,000원
1357 2015-06-01 14시 17시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 360,000원
1358 2015-06-01 9시 12시 depth profile 삼성디스플레이 Panel개발팀 문재석 360,000원
1359 2015-06-02 12시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 540,000원
1360 2015-06-02 16시 19시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 360,000원
1361 2015-06-02 9시 12시 depth profile 삼성디스플레이 Panel개발팀 문재석 360,000원
1362 2015-06-03 15시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 360,000원
1363 2015-06-03 9시 15시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 810,000원
1364 2015-06-04 11시 15시 depth profile 대구경북과학기술원 에너지연구부 백성호 540,000원
1365 2015-06-04 15시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 360,000원
1366 2015-06-04 9시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 210,000원
1367 2015-06-05 9시 21시 depth profile 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 1,440,000원
1368 2015-06-08 10시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 전기강판연구그룹 권민석 960,000원
1369 2015-06-09 10시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 전기강판연구그룹 권민석 960,000원
1370 2015-06-11 10시 14시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 540,000원
1371 2015-06-11 15시 18시 depth profile 티지오테크 연구소 이명철 450,000원
1372 2015-06-12 10시 15시 열처리된 Cu Ni 필름의 깊이에 따른 조성 변화 분석 포항공과대학교 화학공학과 유민석 600,000원
1373 2015-06-15 11시 13시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 270,000원
1374 2015-06-15 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 유민석 120,000원
1375 2015-06-15 9시 11시 N-type, P-type Si 기판 phosphorus doping depth 확인 (주)울텍 기술연구소 송문규 270,000원
1376 2015-06-16 10시 18시 depth profile 삼성디스플레이 Panel개발팀 문재석 960,000원
1377 2015-06-17 10시 18시 depth profile 삼성디스플레이 Panel개발팀 문재석 960,000원
1378 2015-06-18 11시 15시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 540,000원
1379 2015-06-18 16시 18시 depth profile POSCO 광양강재연구그룹 김성규 240,000원
1380 2015-06-18 9시 11시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 270,000원
1381 2015-06-19 13시 17시 depth profile (주)울텍 기술연구소 송문규 540,000원
1382 2015-06-22 10시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 810,000원
1383 2015-06-23 14시 16시 W/Ag/Si/Pt 와
W/Ag/Ta/Si/Pt 샘플 depth profile 확인

p.s) 황현상 교수님 연구실 학생인데, 정산은 이장식 교수님과 함께하는 과제의 연구비로 처리하는 식입니다~
 포스텍 신소재공학과 유종명 210,000원
1384 2015-06-24 16시 17시 imaging 포항공과대학교 철강대학원 심다혜 120,000원
1385 2015-07-01 13시 16시 imaging 포항공과대학교 철강대학원 심다혜 360,000원
1386 2015-07-02 13시 15시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 반도체연구실 박세란 270,000원
1387 2015-07-03 10시 14시 depth profile 대구경북과학기술원(DGIST) 신물질과학 고민지 540,000원
1388 2015-07-07 14시 16시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 270,000원
1389 2015-07-08 10시 17시 depth profile 945,000원
1390 2015-07-13 13시 17시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 540,000원
1391 2015-07-14 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 최민기 240,000원
1392 2015-07-15 13시 17시 depth profile 포항나노기술집적센터 이용자서비스팀 김병수 640,000원
1393 2015-07-16 13시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 나희도 675,000원
1394 2015-07-22 10시 14시 depth profile 포항나노기술집적센터 이용자서비스팀 김병수 640,000원
1395 2015-07-27 9시 22시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,755,000원
1396 2015-07-29 9시 21시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,620,000원
1397 2015-07-30 10시 14시 depth profile 포항나노기술집적센터 이용자서비스팀 김병수 640,000원
1398 2015-08-03 10시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 김영모 1,050,000원
1399 2015-08-04 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김영태 105,000원
1400 2015-08-10 10시 11시 HfO2 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 김래호 105,000원
1401 2015-08-11 10시 18시 SIMS 성분 분석 포항공과대학교 화공과 김민 768,000원
1402 2015-08-12 12시 18시 Si wafer/organic/Al 샘플 6개, depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 720,000원
1403 2015-08-13 15시 16시 depth profile 150,000원
1404 2015-08-14 16시 20시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이효찬 480,000원
1405 2015-08-17 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1406 2015-08-17 15시 17시 depth profile 포항공과대학교 환경공학부 원승현 240,000원
1407 2015-08-18 16시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 김래호 105,000원
1408 2015-08-18 9시 16시 depth profile 945,000원
1409 2015-08-20 9시 15시 depth profile 810,000원
1410 2015-08-24 13시 15시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 270,000원
1411 2015-08-25 13시 18시 DEPTH PROFILE 성균관대학교 신소재공학과 최성흠 750,000원
1412 2015-08-26 11시 16시 depth profile 삼성 SDI 실리콘합성 배진희 750,000원
1413 2015-08-27 11시 16시 depth profile 삼성 SDI 실리콘합성 배진희 750,000원
1414 2015-08-28 15시 17시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 270,000원
1415 2015-08-28 18시 23시 DEPTH PROFILE 성균관대학교 신소재공학과 최성흠 750,000원
1416 2015-08-31 10시 19시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 1,080,000원
1417 2015-09-07 13시 14시 dpth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김영태 105,000원
1418 2015-09-08 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,080,000원
1419 2015-09-10 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 210,000원
1420 2015-09-10 13시 15시 박막 물질 확인 및 조성 평가 포항공과대학교 신소재공학과 임석재 210,000원
1421 2015-09-10 15시 17시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 210,000원
1422 2015-09-17 12시 14시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 210,000원
1423 2015-09-17 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 210,000원
1424 2015-09-17 16시 18시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 210,000원
1425 2015-09-17 18시 22시 depth profile 포항공과대학교 환경공학부 원승현 480,000원
1426 2015-09-21 10시 16시 depth profile 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 900,000원
1427 2015-09-22 14시 17시 depth profile 포항공과대학교 철강대학원 심다혜 360,000원
1428 2015-09-24 14시 18시 SIMS sample

- Dr. Ranbir 대신 예약합니다		 포항공과대학교 화공과 김민 480,000원
1429 2015-09-25 10시 11시 depth profile 성균관대학교 신소재공학과 최성흠 150,000원
1430 2015-09-30 14시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 김영모 540,000원
1431 2015-09-30 7시 14시 depth profile 945,000원
1432 2015-10-07 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 630,000원
1433 2015-10-08 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 105,000원
1434 2015-10-12 13시 14시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1435 2015-10-13 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 210,000원
1436 2015-10-14 10시 12시 depth profile 성균관대학교 신소재공학과 최성흠 300,000원
1437 2015-10-19 12시 17시 depth profile 만도 중앙연구소 재료개발 1팀 조세형 750,000원
1438 2015-10-19 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 420,000원
1439 2015-10-20 12시 17시 depth profile 만도 중앙연구소 재료개발 1팀 조세형 750,000원
1440 2015-10-20 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 420,000원
1441 2015-10-21 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 420,000원
1442 2015-10-22 14시 16시 depth profile 경북대학교 전자공학부 원철호 300,000원
1443 2015-10-23 13시 17시 depth profile 울산대학교 첨단소재공학부 김선광 540,000원
1444 2015-10-26 13시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 김영모 540,000원
1445 2015-10-26 13시 14시 GaN/sapphire 시편 SIMS 측정 포항공과대학교 신소재공학과 황선용 120,000원
1446 2015-10-28 10시 18시 depth profile 1,080,000원
1447 2015-11-02 10시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 945,000원
1448 2015-11-03 10시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 945,000원
1449 2015-11-04 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,080,000원
1450 2015-11-09 10시 11시 Boron SIMS depth profile 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 이호준 105,000원
1451 2015-11-09 13시 16시 Depth profile 측정 (Al, N, Si, O, C 등등) 서울대학교 재료공학부 신인수 450,000원
1452 2015-11-11 13시 14시 GaN 반도체층내 성분분석 (carbon) 헥사솔루션 기업부설연구소 배덕규 150,000원
1453 2015-11-12 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 840,000원
1454 2015-11-13 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 420,000원
1455 2015-11-13 14시 15시 depth profile 대구경북과학기술원(DGIST) 신물질과학 고민지 135,000원
1456 2015-11-16 10시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,080,000원
1457 2015-11-16 9시 10시 depth profile 헥사솔루션 기업부설연구소 배덕규 150,000원
1458 2015-11-17 15시 16시 김민정 연구원 청구 오류분 삭제 대구경북과학기술원(DGIST) 신물질과학 고민지 0원
1459 2015-11-18 13시 16시 depth profile 405,000원
1460 2015-11-19 13시 16시 depth profile 피에스케이(주) PT1G 류제혁 450,000원
1461 2015-11-20 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,080,000원
1462 2015-11-23 10시 18시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,080,000원
1463 2015-11-25 11시 19시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 1,080,000원
1464 2015-11-25 9시 11시 depth profile (주) 이너센서 연구개발전담부 우종창 300,000원
1465 2015-11-26 10시 12시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 270,000원
1466 2015-11-27 9시 21시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 1,260,000원
1467 2015-11-30 13시 16시 Image scan POSCO 접합연구그룹 김성진 360,000원
1468 2015-11-30 17시 20시 depth profile 피에스케이(주) PT1G 류제혁 450,000원
1469 2015-11-30 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 420,000원
1470 2015-12-01 14시 17시 depth profile 연세대학교 신소재공학과 윤성열 405,000원
1471 2015-12-02 16시 17시 depth profile 분석

Boron implant한 샘플인데요.

700 nm 두께까지 분석 결과 보려고 합니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 이준영 105,000원
1472 2015-12-07 14시 15시 image scan POSCO 접합연구그룹 김성진 120,000원
1473 2015-12-08 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 480,000원
1474 2015-12-15 15시 16시 Boron depth profile 확인

약 700 nm 깊이		 포항공과대학교 전자전기공학과 이준영 105,000원
1475 2015-12-15 16시 18시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 300,000원
1476 2015-12-16 14시 16시 n+ phosphorous 농도 및 두께 측정 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1477 2015-12-18 9시 21시 image scan 포스코 광양강재연구그룹 하유미 1,440,000원
1478 2015-12-22 10시 16시 image scan 포항공과대학교 철강대학원 권영진 720,000원
1479 2015-12-23 14시 15시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 105,000원
1480 2015-12-24 13시 16시 image scan 포스코 접합연구그룹 송우현 360,000원
1481 2015-12-29 13시 18시 image scan 포스코 광양강재연구그룹 하유미 600,000원
1482 2015-12-30 13시 18시 image scan 포스코 광양강재연구그룹 하유미 600,000원
1483 2015-12-31 13시 18시 image scan 포스코 광양강재연구그룹 하유미 600,000원
1484 2016-01-04 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1485 2016-01-05 10시 18시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 1,200,000원
1486 2016-01-06 15시 18시 image scan 포스코 접합연구그룹 송우현 360,000원
1487 2016-01-07 9시 18시 image scan 포스코 광양강재연구그룹 하유미 1,080,000원
1488 2016-01-12 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1489 2016-01-15 9시 18시 depth profile 포항공과대학교 환경공학부 원승현 600,000원
1490 2016-01-18 10시 16시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 900,000원
1491 2016-01-19 14시 18시 depth profile 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 650,000원
1492 2016-01-20 14시 18시 depth ptfile 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 640,000원
1493 2016-01-21 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 105,000원
1494 2016-01-21 14시 18시 depth profile 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 640,000원
1495 2016-01-25 14시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 540,000원
1496 2016-01-26 14시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 540,000원
1497 2016-01-27 10시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 1,080,000원
1498 2016-01-28 10시 17시 depth profile 광운대학교 전자재료공학과 김진영 600,000원
1499 2016-01-29 11시 14시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 315,000원
1500 2016-02-04 13시 18시 *위덕대학교 대응자금 처리건입니다.*
금속박막/반도체 소자의 미세구조 확인		 위덕대학교 그린에너지공학부 이유기 150,000원
1501 2016-02-05 9시 18시 *위덕대학교 대응자금 처리건입니다.*
depth profile		 위덕대학교 그린에너지공학부 이유기 1,050,000원
1502 2016-02-16 9시 18시 depth profile KEC 공정기술G 김상호 450,000원
1503 2016-02-17 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1504 2016-02-22 10시 16시 depth profile (주)심텍 제품개발 구연각 450,000원
1505 2016-02-23 10시 18시 depth profile 전남대학교 신화학소재공학과 배효정 600,000원
1506 2016-02-24 15시 18시 depth profile 경북대학교 전자공학부 원철호 150,000원
1507 2016-02-25 10시 14시 depth profile 한국광기술원 반도체광원연구센터 조한수 150,000원
1508 2016-02-26 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 420,000원
1509 2016-02-29 10시 13시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김호범 105,000원
1510 2016-02-29 14시 18시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 420,000원
1511 2016-03-02 10시 15시 depth profile 한국광기술원 반도체광원연구센터 조한수 150,000원
1512 2016-03-03 15시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 105,000원
1513 2016-03-04 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 210,000원
1514 2016-03-09 10시 16시 depth profile 전남대학교 신화학소재공학과 배효정 600,000원
1515 2016-03-10 10시 17시 depth profile POSCO 미래제품연구그룹 정관호 480,000원
1516 2016-03-16 9시 18시 depth profile 와이솔 연구소 김준호 750,000원
1517 2016-03-17 14시 18시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 600,000원
1518 2016-03-18 10시 21시 depth profile 금오공과대학교 신소재연구소 임기식 300,000원
1519 2016-03-24 14시 17시 ZnO nanorod array, ZnO thin film 속의 dopant 검출 (depth profiling) 포항공과대학교 화학공학과 김동형 240,000원
1520 2016-03-28 9시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,050,000원
1521 2016-03-29 9시 19시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,050,000원
1522 2016-03-30 13시 15시 image scan 포스코 강재1연구그룹 이병갑 240,000원
1523 2016-04-04 10시 18시 시료 특성 분석 한양대학교 전자전기제어계측공학과 이상태 300,000원
1524 2016-04-05 13시 14시 구리필름 내 존재하는 카본의 depth profile 측정 포항공과대학교 화학공학과 유민석 120,000원
1525 2016-04-05 14시 18시 depth profile 포항공과대학교 신소재공학과 김호범 210,000원
1526 2016-04-06 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1527 2016-04-07 10시 18시 iamge scan POSCO POSTRIP 김선미 480,000원
1528 2016-04-08 10시 12시 본 샘플은 Si이 도팡된 n-type GaN입니다.
Si 도핑이 low 17승으로 매우 적게 도핑되어 있는데, 이러한 Si이 표면에 얼마나 균일하게 분포되어 있는지 어느 두께까지 도핑이 되어 있는지 보고자 합니다.		 전남대학교 신화학소재공학과 배효정 300,000원
1529 2016-04-08 15시 17시 image scan 포항공과대학교 철강대학원 홍창완 240,000원
1530 2016-04-11 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1531 2016-04-11 13시 18시 depth profile 경북대학교 전자공학부 김정길 150,000원
1532 2016-04-12 14시 18시 depth profile 경북대학교 전자공학부 김정길 150,000원
1533 2016-04-14 10시 18시 Grain boundary의 S,P,C 정성분석. 포항공과대학교 철강대학원 홍창완 720,000원
1534 2016-04-18 10시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 1,080,000원
1535 2016-04-19 10시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 1,080,000원
1536 2016-04-20 10시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 1,080,000원
1537 2016-04-21 10시 18시 image scan 포항공과대학교 철강대학원 홍창완 480,000원
1538 2016-04-22 10시 16시 image mapping 포항공과대학교 철강대학원 홍창완 360,000원
1539 2016-04-22 16시 18시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 210,000원
1540 2016-04-25 9시 14시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 315,000원
1541 2016-04-26 10시 18시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 최종민 210,000원
1542 2016-04-27 10시 18시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이상태 300,000원
1543 2016-04-29 9시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1544 2016-05-02 14시 15시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1545 2016-05-02 9시 14시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 210,000원
1546 2016-05-04 9시 15시 image mapping 포항공과대학교 철강대학원 홍창완 240,000원
1547 2016-05-09 9시 18시 depth profile POSCO 김종희 480,000원
1548 2016-05-10 9시 18시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 420,000원
1549 2016-05-11 9시 18시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 315,000원
1550 2016-05-12 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1551 2016-05-12 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 210,000원
1552 2016-05-13 9시 18시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 840,000원
1553 2016-05-16 10시 16시 depth에 따른 carbon/oxygen ratio 비교

정산 담당자 : 송수진
이메일 : sjsong@postech.ac.kr
연락처 : 054-279-8673
이 분께 처리 부탁드리면 결제 해주실겁니다.
참고 부탁드립니다.
감사합니다.		 포항공과대학교 화학공학과 박범진 240,000원
1554 2016-05-20 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 박범진 600,000원
1555 2016-05-20 9시 13시 depth profile POSCO 미래제품연구그룹 정관호 240,000원
1556 2016-05-23 9시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 810,000원
1557 2016-05-24 9시 18시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 810,000원
1558 2016-05-25 14시 18시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 450,000원
1559 2016-05-25 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 철강대학원 권영진 240,000원
1560 2016-05-27 9시 18시 샘플은 8mm 정도로 잘라서 넣었습니다.
아래 향하고 있는 경면(미러면)이 에피면 입니다.
표면부터 1.5mm 정도 깊이 까지 보고자 하구요,
보고자 하는 원소는 Ga, Al, In, N, Mg, Si, O 입니다		 전남대학교 신화학소재공학과 배효정 450,000원
1561 2016-05-30 9시 18시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 유민석 600,000원
1562 2016-05-31 12시 23시 depth profile & image mapping 포항공과대학교 화학공학과 김관우 1,050,000원
1563 2016-05-31 9시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 이준영 105,000원
1564 2016-06-07 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 630,000원
1565 2016-06-07 9시 13시 depth profile 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 600,000원
1566 2016-06-08 12시 18시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 630,000원
1567 2016-06-09 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 화공과 김민 600,000원
1568 2016-06-10 10시 14시 depth profile 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 300,000원
1569 2016-06-13 10시 17시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 525,000원
1570 2016-06-14 11시 18시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 525,000원
1571 2016-06-22 14시 23시 image mapping (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 360,000원
1572 2016-06-22 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 420,000원
1573 2016-06-23 9시 18시 image mapping (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 360,000원
1574 2016-06-24 9시 18시 iamge mapping (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 720,000원
1575 2016-06-27 10시 18시 image mapping (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 720,000원
1576 2016-06-28 10시 18시 depth profile (주) 포스코 기술연구원 PosEF 연구프로젝트팀 정관호 720,000원
1577 2016-06-29 10시 14시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 420,000원
1578 2016-06-29 15시 22시 depth profile 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 300,000원
1579 2016-07-04 9시 18시 depth profile ( 실제분석시편개수1) 한전원자력연료 핵연료연구실 소재개발부 연구용역 임제영 1,350,000원
1580 2016-07-05 9시 17시 depth profile (실제분석시편1)-총4개 한전원자력연료 핵연료연구실 소재개발부 연구용역 임제영 1,200,000원
1581 2016-07-06 9시 17시 depth profile 한전원자력연료 핵연료연구실 소재개발부 연구용역 임제영 1,200,000원
1582 2016-07-07 9시 17시 depth profile 한전원자력연료 핵연료연구실 소재개발부 연구용역 임제영 1,200,000원
1583 2016-07-13 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 210,000원
1584 2016-07-13 13시 18시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 420,000원
1585 2016-07-14 10시 15시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 김동훈 315,000원
1586 2016-07-20 10시 18시 depth profile 한전원자력연료 핵연료연구실 소재개발부 연구용역 임제영 1,200,000원
1587 2016-07-25 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 360,000원
1588 2016-07-27 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 210,000원
1589 2016-07-28 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 210,000원
1590 2016-07-28 13시 17시 depth profile 포항공과대학교 화공 이재원 240,000원
1591 2016-08-08 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 105,000원
1592 2016-08-08 13시 17시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 405,000원
1593 2016-08-09 11시 17시 depth profile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 675,000원
1594 2016-08-09 9시 11시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 105,000원
1595 2016-08-10 9시 18시 depth profile 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 600,000원
1596 2016-08-11 9시 18시 depth profile 포스코 기술연구원 STS 제품연구그룹 이재화 240,000원
1597 2016-08-16 10시 12시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1598 2016-08-16 14시 15시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 120,000원
1599 2016-08-17 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 임태욱 120,000원
1600 2016-08-17 13시 18시 depth profile 금오공과대학교 신소재연구소 임기식 320,000원
1601 2016-08-18 10시 18시 GaN 기반 에피구조 도핑 농도 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 320,000원
1602 2016-08-19 10시 13시 depth prfile 연세대학교 반도체메모리공정연구실 박지우 405,000원
1603 2016-08-24 9시 3시 depth profile 한전원자력연료 핵연료연구실 소재개발부 연구용역 임제영 2,700,000원
1604 2016-08-26 14시 15시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 120,000원
1605 2016-08-26 9시 14시 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 525,000원
1606 2016-08-29 9시 18시 참여대학(교육진행건)
depth profile		 대구대학교 중앙기기원 차정호 1,390,000원
1607 2016-08-30 9시 18시 참여대학(교육진행건)
depth profile		 대구대학교 중앙기기원 차정호 1,390,000원
1608 2016-08-31 9시 17시 참여대학(교육진행건)
depth profile		 대구대학교 중앙기기원 차정호 1,245,000원
1609 2016-09-01 10시 11시 depth profie 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 105,000원
1610 2016-09-01 14시 16시 depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 120,000원
1611 2016-09-02 9시 19시 depth profile 한전원자력연료 핵연료연구실 소재개발부 연구용역 임제영 1,500,000원
1612 2016-09-12 10시 18시 depth profile, Si, Mo, Al, N, Sc, O, P

자세한 내용은 첨부파일에 있습니다.		 (주)와이솔 사업기획 문아영 300,000원
1613 2016-09-13 13시 15시 구조/두께 및 성분 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 320,000원
1614 2016-10-04 9시 18시 depth profile 한양대학교 전자통신공학과 이상태 300,000원
1615 2016-10-05 9시 19시 미래부 나노융합기술교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,500,000원
1616 2016-10-06 9시 18시 미래부 나노융합기술교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,350,000원
1617 2016-10-07 9시 18시 미래부 나노융합기술교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,350,000원
1618 2016-10-17 10시 17시 Depth profile 포스코 기술연구원 STS 제품연구그룹 이재화 360,000원
1619 2016-10-18 10시 16시 depth profile 한양대학교 전자전기제어계측공학과 이상태 150,000원
1620 2016-10-20 9시 18시 depth profile 재료연구소 내열재료연구실 윤대원 810,000원
1621 2016-10-25 14시 24시 depth profile 경북대학교 전자공학부 손승우 1,200,000원
1622 2016-10-25 9시 14시 depth profile 포스코 기술연구원 STS 제품연구그룹 이재화 360,000원
1623 2016-10-26 9시 18시 depth profile 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 600,000원
1624 2016-10-28 15시 19시 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 420,000원
1625 2016-10-28 9시 14시 depth prfile 한양대학교 전자통신공학과 이상태 450,000원
1626 2016-10-31 9시 18시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 1,350,000원
1627 2016-11-01 10시 18시 계명대학교 교육진행 계명대학교 화학공학과 서숭혁 1,200,000원
1628 2016-11-02 10시 18시 계명대학교 교육 계명대학교 화학공학과 서숭혁 1,200,000원
1629 2016-11-03 10시 14시 계명대학교 교육 계명대학교 화학공학과 서숭혁 600,000원
1630 2016-11-04 10시 11시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 105,000원
1631 2016-11-07 10시 18시 depth profile 재료연구소 내열재료연구실 윤대원 810,000원
1632 2016-11-08 10시 18시 Ti oxide layer 두께 측정과 성분 별 depth profile 결과를 얻기 위함 포항공과대학교 신소재공학과 백승미 630,000원
1633 2016-11-09 9시 21시 계명대학교 교육 계명대학교 화학공학과 서숭혁 1,800,000원
1634 2016-11-10 9시 21시 계명대학교 교육 계명대학교 화학공학과 서숭혁 1,800,000원
1635 2016-11-11 9시 13시 depth profile 삼성전자 무선사업무 금형기술팀 이희성 500,000원
1636 2016-11-28 13시 15시 Depth profile (Metal 적층 구조) 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 210,000원
1637 2016-12-01 9시 18시 기관별 SIMS 비교시험 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 0원
1638 2016-12-02 9시 18시 기관별 SIMS 비교실험 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 0원
1639 2016-12-05 9시 13시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 105,000원
1640 2016-12-06 9시 18시 Image mapping 부산대학교 재료공학과 정주영 810,000원
1641 2016-12-07 13시 16시 top si 70nm인 SOI에서 As 농도 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 김동훈 105,000원
1642 2016-12-12 10시 16시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 525,000원
1643 2016-12-14 9시 18시 장비점검 나노융합기술원 특성평가팀 김민정 0원
1644 2016-12-15 13시 18시 장비점검 나노융합기술원 특성평가팀 김민정 0원
1645 2016-12-15 9시 13시 SIMS분석 파워큐브세미(주) 부설연구소 홍영성 600,000원
1646 2016-12-19 9시 17시 depth profile 메이플세미컨덕터 생산운영팀 손기수 900,000원
1647 2016-12-20 9시 18시 dpth profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 420,000원
1648 2016-12-22 9시 17시 depth profile 포항공과대학교 철강대학원 권영진 240,000원
1649 2016-12-28 9시 17시 Sb doepd ZnO
Sb depth profiling		 포항공과대학교 화학공학과 김동형 360,000원
1650 2017-01-03 9시 17시 depth profile (주)와이솔 사업기획 문아영 300,000원
1651 2017-01-12 9시 18시 Image scan 포스코기술연구원 표면처리연구그룹 강기철 480,000원
1652 2017-01-13 9시 18시 image scan 포스코기술연구원 표면처리연구그룹 강기철 480,000원
1653 2017-01-18 10시 17시 나노측정분석 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,100,000원
1654 2017-01-19 10시 18시 나노측정분석 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김병수 1,250,000원
1655 2017-02-09 10시 18시 참여대학 인력양성 대구대학교 중앙기기원 차정호 1,200,000원
1656 2017-02-10 9시 16시 depth profile 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 450,000원
1657 2017-02-13 9시 17시 imaging POSCO POSTRIP 김선미 480,000원
1658 2017-02-15 9시 17시 imaing POSCO POSTRIP 김선미 480,000원
1659 2017-02-16 9시 17시 imaing POSCO POSTRIP 김선미 480,000원
1660 2017-02-17 9시 17시 imaging POSCO POSTRIP 김선미 480,000원
1661 2017-02-20 9시 14시 depth profile 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 150,000원
1662 2017-02-21 15시 18시 imaging POSCO POSTRIP 김선미 240,000원
1663 2017-02-21 9시 15시 imaging POSCO POSTRIP 김선미 240,000원
1664 2017-02-22 9시 18시 imaging 부산대학교 재료공학과 정주영 675,000원
1665 2017-02-27 9시 18시 시편 2개: T92/WM 시편, WM/T22 시편

Carbon profile을 보고자 합니다.

포항공과대학교 철강대학원 성현제 720,000원
1666 2017-02-28 12시 18시 경일대 인력양성교육 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 1,000,000원
1667 2017-03-03 9시 17시 depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 630,000원
1668 2017-03-06 14시 18시 depth 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 210,000원
1669 2017-03-08 9시 18시 imaging 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 480,000원
1670 2017-03-09 9시 17시 imaging 포스코 기술연구원 강재2연구그룹 박창수 480,000원
1671 2017-03-10 9시 17시 부산대 양승윤교수님 실험실의 임상구 입니다.

측정하고자 하는 원소는 샘플 보내면서 말씀드릴 수 있도록 하겠습니다.

그리고 결과통보는 저에게 부탁드립니다. (sg.yim0425@gmail.com / 010-7227-3958)		 부산대학교 바이오소재과학과 양승윤 310,000원
1672 2017-03-22 13시 18시 depth profile 경북대학교 전자공학과 임기식 330,000원
1673 2017-03-23 9시 17시 실리콘 위에 코팅된 유기반도체(고분자 박막)의 SIMS depth profile을 하려고 합니다.
총 두께는 400nm 이내입니다.
보려는 원소는 C, O, S, N, H 입니다.
샘플의 갯수는 총 4개 입니다.

포항공과대학교 화학공학과 송성원 315,000원
1674 2017-03-24 9시 18시 depth profile 부산대학교 바이오소재과학과 양승윤 405,000원
1675 2017-03-27 9시 16시 InGaN/GaN Multi Quantum Well epi sample 특성 분석

9pair로 구성된 InGaN/GaN 샘플 2개 중 In의 농도를 평가하고자함.		 전남대학교 신화학소재공학과 배효정 300,000원
1676 2017-03-28 9시 17시 원소 depth profile (샘플 6개) 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 525,000원
1677 2017-04-27 10시 18시 Sample Depth Profiling 분석 요청건
자세한 요청은 장비 담당자 메일로 보내드렸습니다.		 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 전동환 540,000원
1678 2017-05-04 10시 14시 -. Silicon wafer를 Plasma 에 방전 후, 사내 Elipsometer를 이용하여 SiO2인지 SiN 인지 측정 시 동일한 두께를 보이고 있음(<10Å)
-. Silicon wafer위에 발생된 것이 SiO2인지 SiN 인지 측정 요청 드립니다.
-. SIMS 측정시 Depth와 Mapping 요청 드리며, 원소는 N,O 로 측정 바랍니다.
-. Sample 이력 : Ref(Bare Si), 100%N2, 30%H2/2, 10:1 O2/2		 피에스케이(주) PT1G 류제혁 600,000원
1679 2017-05-08 10시 16시 SiON-H 분석 주식회사 아르케 SIC 생산본부 노병훈 900,000원
1680 2017-05-10 10시 14시 CIGS 분석 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 전동환 540,000원
1681 2017-05-11 10시 12시 TiO2, Ni-capped LaAlO3 두 샘플의 정량분석 (APT 정량분석 결과와의 비교 확인) 포항공과대학교 신소재공학과 곽창민 255,000원
1682 2017-05-12 14시 18시 철강에서 H 분석 포항공과대학교 철강대학원 권영진 510,000원
1683 2017-05-15 10시 15시 1. 각 층의 도핑농도 분석
2. depth : ~1um 정도 		한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 750,000원
1684 2017-05-19 14시 15시 Si- As depth profile 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 112,500원
1685 2017-05-22 10시 15시 SIMS Depth profile 측정

시료구조: ITO-100nm/MgAg(0, 3, 6, 9, 12nm)/ITO-100nm/Glass

시료갯수: 5개(MgAg 두께로 구분)

* 시료는 택배로 전달예정		 대구대학교 물리교육과 홍성욱 750,000원
1686 2017-05-31 10시 12시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 300,000원
1687 2017-05-31 15시 17시 케리어 분석-안현수 과장님 시편 와이솔 Fab제조팀 김영실 300,000원
1688 2017-06-01 15시 16시 Depth profiling of Janus SiO2/MnO nanoparticle 포스텍 화학과 전기완 127,500원
1689 2017-06-02 13시 15시 Ag, C 깊이 분석 포항공과대학교 화학공학과 신동훈 225,000원
1690 2017-06-02 15시 18시 Depth profiling 포스텍 화학과 전기완 382,500원
1691 2017-06-08 13시 14시 Top 100nm, Box 400nm Soi Wafer

As implant

Top 500nm doping profile		 포항공과대학교 전자전기공학과 김동훈 112,500원
1692 2017-06-16 10시 12시 CIGS/AZO 분석 한국전자통신연구원 태양광기술연구실 위재형 420,000원
1693 2017-06-19 14시 16시 . 포항공과대학교 기계공학과 서동환 255,000원
1694 2017-06-26 14시 18시 대구대학교 참여대학 교육 진행 건 대구대학교 중앙기기원 차정호 750,000원
1695 2017-06-27 13시 16시 대구대학교 참여대학 교육 진행 건 대구대학교 중앙기기원 차정호 1,000,000원
1696 2017-07-04 13시 16시 PCB 기판 전극부 성분분석 심텍 제품개발 김대일 450,000원
1697 2017-07-04 9시 13시 Si P, B 분석 DGIST 신물질과학과 송보경 540,000원
1698 2017-07-05 10시 12시 센서분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 225,000원
1699 2017-07-05 13시 17시 폴리머 영역의 O, S,N, F, C 분석 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 450,000원
1700 2017-07-07 10시 18시 2개 시편 총 8번 측정 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 900,000원
1701 2017-07-10 10시 12시 방금 전화받은 이철훈입니다.
sims depth profiling을 의뢰합니다.
샘플은
Fe 1nm/ Al2O3 10nm/ SiO2 300 nm/Si wafer 순서로 이뤄진 웨이퍼이며두개입니다.
아침에 이야기를 나눈 것처럼 Fe Al Si원소로 분석해주시면 될 것 같습니다.
감사합니다.		 포항공과대학교 화학공학과 이철훈 225,000원
1702 2017-07-10 13시 16시 B, P 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 337,500원
1703 2017-07-10 16시 17시 Si 기판 위에 oxide 100 nm 증착

- Boron, 1e15/cm2 , 40 keV Implant 진행

- Boron의 Si에서의 depth profile 관찰		 포항공과대학교 전자전기공학과 이준영 112,500원
1704 2017-07-11 12시 18시 미래부 전문인력양성 교육 진행 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 1,050,000원
1705 2017-07-12 13시 18시 미래부 전문인력양성 교육 진행 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 1,000,000원
1706 2017-07-17 14시 18시 GaN depth profle 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
1707 2017-07-18 10시 16시 Highly doped SiGe (Boron) ~70nm , highly doped Si (As) substrate

boron , Arsenic, Si, Ge concentration 분석		 포항공과대학교 전자과 백상원 675,000원
1708 2017-07-20 12시 17시 철강crack 분석 포스코 접합연구그룹 송우현 850,000원
1709 2017-07-24 10시 11시 센서 depth profile 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 112,500원
1710 2017-07-25 10시 12시 SiGe-B,O 분석 성균관대학교 신소재공학과 최성흠 300,000원
1711 2017-07-25 13시 16시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 450,000원
1712 2017-07-25 16시 17시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 150,000원
1713 2017-07-26 13시 14시 SiNi 분석 포항공과대학교 전자과 백상원 112,500원
1714 2017-07-26 18시 21시 wire image분석 고려강선 기술개발연구원 배형준 540,000원
1715 2017-08-03 15시 17시 sensor image 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 300,000원
1716 2017-08-04 10시 12시 TiN/Ni/SiGe/Si 분석 포항공과대학교 전자과 백상원 225,000원
1717 2017-08-04 17시 19시 GaN, SiC 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
1718 2017-08-07 10시 11시 페로브스카이트에 CuI가 포함되었는가 (Cu, Pb, I) 포항공과대학교 화학공학과 김태완 127,500원
1719 2017-08-08 10시 18시 고려재강샘플 테스트 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1720 2017-08-10 13시 14시 As doping 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 112,500원
1721 2017-08-16 10시 18시 RAE image 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1722 2017-08-17 14시 16시 SOI Wafer [Top Si 70nm , BOX 140 nm] 조각 2개
As doping 분석		 포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 225,000원
1723 2017-08-22 13시 15시 GaN doping 확인(H, O, C) 경북대학교 전자공학부 김정길 300,000원
1724 2017-08-23 10시 18시 SiC 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1725 2017-08-25 11시 17시 Ag가 Alq3에 침투된 정도를 깊이에 따라 측정

(측정원소 Ag, Al. Si)

샘플개수는 조금 변동있을 수 있습니다.		 포항공과대학교 화학공학과 이시영 675,000원
1726 2017-08-29 10시 18시 MCs 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1727 2017-08-30 14시 17시 수소분석 포스코 강재1연구그룹 이준모 510,000원
1728 2017-08-31 13시 15시 실리콘 기판 위에 깔린 박막 (CH3NH3PbI2Cl 페로브스카이트)

depth profile 분석할 원소는 Pb, C, Cl, I 입니다.		 포항공과대학교 화학공학과 박찬의 225,000원
1729 2017-09-01 15시 16시 Si B doping 분석 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 112,500원
1730 2017-09-04 14시 16시 image 분석 포스코 강재1연구그룹 이준모 340,000원
1731 2017-09-06 9시 17시 SiC 센서 전극분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1732 2017-09-07 10시 18시 센서 전극부 이온분포분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1733 2017-09-11 13시 19시 Ag, C, Al, Si depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이시영 675,000원
1734 2017-09-12 13시 15시 MnS 이미지 분석 포스코 강재1연구그룹 이준모 340,000원
1735 2017-09-18 13시 16시 glass 분석 포항공과대학교 첨단원자력 표재영 382,500원
1736 2017-09-20 13시 15시 CIGS 분석 포항공과대학교 화학공학과 백민기 255,000원
1737 2017-09-21 9시 17시 압력센서 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1738 2017-09-26 14시 18시 - STS위에 형성된 CIGS solar cell 샘플 2개에 대하여 SIMS 측정 요청
- CIGS박막내에 존재하는 불순물 (Fe, Mn, Cr, Ni, Mo, Si 등)에 대한 측정이 목표임.

- 측정조건
Depth Profile Analysis
O2+ Gun, Impact Energy:7.5keV, Current: 200nA, Raster Size: 200㎛×200 ㎛,
Analysis Area: 30um, 28Si, 52Cr, 55Mn, 56Fe, 58Ni, 63Cu, 64Zn, 69Ga, 80Se, 98Mo, 15In
 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 720,000원
1739 2017-09-27 15시 16시 GaN 분석 경북대학교 전자공학부 김정길 150,000원
1740 2017-10-11 13시 16시 SiN 영역 O 함량비교 와이솔 Fab제조팀 김영실 450,000원
1741 2017-10-12 13시 16시 Si- As, B 분석 DGIST 신물질과학과 송보경 405,000원
1742 2017-10-13 14시 18시 Depth Profile 분석 전북대학교 전자공학부 김기현 450,000원
1743 2017-10-16 10시 18시 Co implant sample depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1744 2017-10-17 10시 18시 Cu implant sample depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1745 2017-10-19 9시 13시 Depth Profile 분석 전북대학교 전자공학부 김기현 450,000원
1746 2017-10-20 10시 18시 Al/Ti 전극부 depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1747 2017-10-23 15시 16시 SiO2 15nm , Si sub

분석 원소 : Si, O, C, P

Double polished ,
앞면 : 분석면
뒷면 : marking (\"CB\") 		포항공과대학교 전자과 백상원 112,500원
1748 2017-10-24 15시 18시 Depth Profile 분석 전북대학교 전자공학부 김기현 225,000원
1749 2017-10-24 9시 13시 SiON 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 600,000원
1750 2017-10-25 8시 10시 for paper 포항공과대학교 MSE Zhang Zhuo 255,000원
1751 2017-10-26 16시 17시 SiOC 분석 포항공과대학교 전자과 백상원 112,500원
1752 2017-10-30 10시 18시 Ti/Al depth profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1753 2017-10-30 17시 20시 나노 SC 인력양성 교육 진행 포항공과대학교 교육사업부 백성기 750,000원
1754 2017-10-31 13시 17시 전문인력양성사업 교육 진행 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 1,250,000원
1755 2017-11-01 10시 11시 CZTS,Se 박막태양전지 Depth profile 분석요청,
분석원소 : Cu,Zn,Sn,S,Se,Na,O,Mo
총 8가지 원소		 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 김삼미 135,000원
1756 2017-11-01 13시 18시 Ti가 도핑된 Fe2O3및 metal-doped C3N4가 표면에 코팅된 샘플들의 depth profile 포항공과대학교 환경공학부 전태화 637,500원
1757 2017-11-02 10시 15시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 주진우 750,000원
1758 2017-11-03 10시 15시 Si-P,B 분석 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 562,500원
1759 2017-11-07 10시 12시 GaN-depth profile 경북대학교 전자공학과 임기식 300,000원
1760 2017-11-07 14시 18시 Si-P 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 450,000원
1761 2017-11-08 10시 12시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 주진우 300,000원
1762 2017-11-08 12시 16시 SiON depth profile 아이씨디 EN 개발팀 장근수 600,000원
1763 2017-11-09 15시 18시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 450,000원
1764 2017-11-09 9시 14시 SiO/Si H분석 위덕대학교 정보통신공학부 이재성 637,500원
1765 2017-11-10 10시 16시 dopant profile 측정

As 10^18 [/cm^3] 400~500nm depth
P 10^18 [/cm^3] 500~1000nm depth
B 10^17 [/cm^3] ~1000nm depth
 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김강현 675,000원
1766 2017-11-10 15시 18시 GaO depth profile 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 450,000원
1767 2017-11-13 9시 12시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 450,000원
1768 2017-11-14 12시 18시 Si-B, P, As doping profile 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김강현 675,000원
1769 2017-11-15 11시 15시 Fe-H 분석 포항공과대학교 철강대학원 권영진 510,000원
1770 2017-11-15 15시 17시 provskite/ITO/Glass 포항공과대학교 화학공학과 김홍기 255,000원
1771 2017-11-17 10시 14시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 600,000원
1772 2017-11-20 10시 14시 SiN 박막분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 600,000원
1773 2017-11-22 13시 14시 Top Si 70 nm / BOX 150 nm 인 SOI Wafer 를
P doping 하였습니다.

Si 과 BOX 에서 P concentration 을 알고싶습니다.
BOX의 concentration은 정확하지 않아도 됩니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 112,500원
1774 2017-11-27 10시 11시 Si-C 분석 포항공과대학교 전자과 백상원 112,500원
1775 2017-11-27 11시 14시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 450,000원
1776 2017-11-27 14시 20시 계명대학교 참여대학 인력양성 교육 진행 건 계명대학교 화학공학과 서숭혁 1,500,000원
1777 2017-11-30 10시 12시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 300,000원
1778 2017-12-05 10시 14시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 600,000원
1779 2017-12-05 14시 18시 계명대학교 참여대학 교육 진행 건 계명대학교 화학공학과 서숭혁 800,000원
1780 2017-12-06 13시 18시 RAE 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 937,500원
1781 2017-12-07 13시 18시 열전소자 Depth profile 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 562,500원
1782 2017-12-08 16시 17시 시료 표면 Depth profilling 포항공과대학교 신소재공학과 문종언 112,500원
1783 2017-12-12 10시 14시 Layered structure Depth profile (Ni, Nb layer) 포항공과대학교 신소재공학과 문종언 450,000원
1784 2017-12-14 15시 18시 열전소자 Depth profile 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 337,500원
1785 2017-12-15 10시 15시 B 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 562,500원
1786 2017-12-15 14시 18시 Ga2O3/Sapphire 조각 샘플에서 Ga, Si, Al 위주로 depth profile 측정을 의뢰합니다. 한국전자통신연구원 ICT소재부품연구소 도재원 540,000원
1787 2017-12-18 10시 14시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 600,000원
1788 2017-12-19 11시 14시 SiON 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 450,000원
1789 2017-12-22 10시 16시 시료는 모두 P-type이고, 반도체 polished wafer 2 EA, 태양전지 texturing wafer 4 EA 입니다.
모두 POCl3 doping 되었고, P depth profile 측정 요청드립니다.		 구미전자정보기술원 융복합소재부품기술연구센터 정상훈 810,000원
1790 2017-12-22 16시 19시 polymer F, Cl 분석 포항공과대학교 ITCE 박현진 337,500원
1791 2017-12-26 10시 12시 Si- As doping profile DGIST 신물질과학과 송보경 270,000원
1792 2017-12-26 14시 17시 Cr on n-type 4H-SiC 접촉 계면에서의 Cr, O, F, Si, C의 정량적 depth profile을 확인하고 싶습니다.
총 시료는 3개입니다.		 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 0원
1793 2017-12-26 16시 19시 NiCr 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 337,500원
1794 2017-12-27 9시 13시 Depth Profile 포항공과대학교 화학공학과 백용화 450,000원
1795 2017-12-28 10시 18시 센서 doping profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1796 2018-01-02 19시 21시 Mg -Ti, B 분석 포항산업과학연구원 금속소재연구그룹 박재신 270,000원
1797 2018-01-02 9시 19시 B, BF2, As, P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김강현 1,125,000원
1798 2018-01-03 13시 15시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 300,000원
1799 2018-01-03 9시 13시 시편 2개 수소 Depth profiling 하려고 합니다.(2시간~2시간 반) 포항공과대학교 철강대학원 김대환 510,000원
1800 2018-01-04 13시 16시 안녕하세요 김성규 선생님 아까 쿼츠 플레이트 샘플가지고 들렸던 이철훈입니다.

말씀해주신대로 새 쿼츠 플레이트, 카본이 덮힌 플레이트, 열처리로 카본을 태운 플레이트 총 세 개의 샘플을 SIMS depth profiling의뢰를 하고자합니다.
 포항공과대학교 화학공학과 이철훈 337,500원
1801 2018-01-05 10시 12시 Mg-Ti, B 분석 포항산업과학연구원 금속소재연구그룹 박재신 270,000원
1802 2018-01-08 10시 12시 측정시료: In, O, Zn, S, Cu, Ga, Se, Mo, Na, Fe, Cr

(시료 태배로 송부시, 측정사항 메일로 첨부할 예정)		 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 350,000원
1803 2018-01-08 13시 16시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 450,000원
1804 2018-01-12 10시 18시 Cu, Fe 산화층 분석 포항공과대학교 기계공학과 서창호 1,020,000원
1805 2018-01-15 13시 17시 WISET 사업단 분석장비 교육 (이론교육) 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 900,000원
1806 2018-01-18 10시 11시 총 3개의 시료를 측정하고자 합니다.

- Zr film이 코팅된 FTO/Glass : Zr, F, Sn, O, Si (Depth profiling)
- NiOX film on sapphire : Ni, Al, O, C (Depth profiling)
-CoOx film on sapphire : Co, Al, O,C (Depth profiling)
 포항공과대학교 가속기연구소 이현휘 127,500원
1807 2018-01-19 10시 12시 Si-P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김강현 225,000원
1808 2018-01-19 14시 17시 NiSi 분석 포항공과대학교 전자과 백상원 337,500원
1809 2018-01-22 9시 13시 Si-B 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김강현 450,000원
1810 2018-01-24 10시 18시 Si-B,O 분석 고려대학교 신소재공학 현지연 1,200,000원
1811 2018-01-26 10시 18시 Steel-Si 분석 posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 1,020,000원
1812 2018-01-29 12시 18시 Ag/ITO 이미지 분석 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 900,000원
1813 2018-01-29 9시 12시 Bulk Si Wafer, As doping
Left, Center, right sample을 분별해서 분석해 주세요.
동그라미친 부분의 중앙 쯤을 분석해주시면 됩니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 337,500원
1814 2018-01-30 10시 12시 ZnO-Ti image scan 포항공과대학교 가속기연구소 이현휘 255,000원
1815 2018-01-30 13시 17시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 600,000원
1816 2018-02-02 15시 16시 Si-P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김강현 112,500원
1817 2018-02-05 10시 12시 ZnO-Ti depth profile 포항공과대학교 가속기연구소 이현휘 255,000원
1818 2018-02-05 13시 16시 Si/Ni/SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 337,500원
1819 2018-02-09 9시 17시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 1,200,000원
1820 2018-02-13 10시 16시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 900,000원
1821 2018-02-20 17시 18시 Si-B 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김강현 112,500원
1822 2018-02-20 9시 14시 SiC 불순물 분석 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 675,000원
1823 2018-02-21 14시 18시 GaN 불순물분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
1824 2018-02-21 9시 14시 SiC 불순물 분석 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 675,000원
1825 2018-02-26 10시 14시 Ag/TiO2/SiO2 분석 포스텍 신소재공학과 유종명 450,000원
1826 2018-02-26 14시 16시 합금 산화층분석 재료연구소 내열재료연구실 윤대원 270,000원
1827 2018-02-27 10시 12시 Si, O, F, H, profile with etching 100 nm thickness DGIST 나노에너지융합연구부 정영민 270,000원
1828 2018-02-27 14시 16시 Gd, Ce 합금 시료분석 재료연구소 내열재료연구실 윤대원 270,000원
1829 2018-02-28 10시 18시 가속도센서분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1830 2018-03-02 10시 18시 Zn 도금강 image scan posco 강재솔루션연구그룹 엄상호 1,020,000원
1831 2018-03-07 10시 14시 Si-O, P 분석 (주)신성이엔지 셀개발팀 오나라 600,000원
1832 2018-03-12 10시 16시 GaN/SiC 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 900,000원
1833 2018-03-13 10시 18시 센서분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1834 2018-03-23 10시 18시 가속도 센서 doping profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1835 2018-03-26 13시 15시 금속시편 표면산화층분석 재료연구소 내열재료연구실 윤대원 270,000원
1836 2018-03-30 13시 16시 CZTS/Mo/ZnO/FeCr 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 안광석 405,000원
1837 2018-04-03 13시 16시 CZTS/Mo/ZnO/steel 분석 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 안광석 405,000원
1838 2018-04-05 14시 18시 Si doping profile 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 465,990원
1839 2018-04-06 14시 16시 O, Cr 분석 재료연구소 내열재료연구실 윤대원 270,000원
1840 2018-04-12 10시 18시 D-Sims


이종순 부장 (하상구 과장)이 처리했던 1종 기판에 대하여 동일한 측정 진행

Ref.1
2
3
4

 LTC 개발1팀 신주원 1,200,000원
1841 2018-04-13 14시 18시 image 분석 LTC 개발1팀 신주원 600,000원
1842 2018-04-16 12시 13시 SiO2/TiN/Si 분석 파워마스터반도체 주식회사 공정기술팀 기종 112,500원
1843 2018-04-16 13시 21시 SiN/FeCr 분석 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 안광석 1,080,000원
1844 2018-04-16 9시 12시 분석 유형 - Depth profiling , destructive
분석 원소 - Ag, Ni, Cr, Zr, Na, N, O, Ti, Ca, Si		 한국유리공업 기술연구소 P&P 한국유리 450,000원
1845 2018-04-17 9시 21시 image scan

 LTC 개발1팀 신주원 1,800,000원
1846 2018-04-19 12시 17시 SiON/Si 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 750,000원
1847 2018-04-20 15시 17시 SiN 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 300,000원
1848 2018-04-23 10시 18시 CIGS device의 SIMS depth profile 측정 (샘플 수: 4ea)

측정원소: Cu, In, Ga, Se, S, Mo, Sn, O, Zn, Cd, Si

소자구조: STS/SiO2(300nm)/Mo(1um)/CIGSSe(~3um)/CdS(70nm)/i-ZnO(70nm)/ITO(150nm)
 한국전자통신연구원 부품소재연구부문 이우정 1,200,000원
1849 2018-04-23 10시 15시 도핑된 SiC의 depth profile을 보고싶습니다.

자세한 내용은 직접 말씀 드리겠습니다.		 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 562,500원
1850 2018-04-25 10시 14시 MiSi, TiSi에서 O 분석 포항공과대학교 전자과 백상원 450,000원
1851 2018-04-26 13시 17시 SiON 분석 아이씨디 EN 개발팀 장근수 600,000원
1852 2018-05-01 10시 14시 Mo/SiO/SUS 분석 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 안광석 540,000원
1853 2018-05-02 10시 18시 SiN/SiO/SUS 분석 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 안광석 1,080,000원
1854 2018-05-03 9시 19시 CZTSSe 분석 대구경북과학기술원 태양에너지융합연구센터 안광석 1,350,000원
1855 2018-05-04 10시 16시 용접부 image scan 포스코 접합연구그룹 한규태 765,000원
1856 2018-05-08 10시 16시 용접부 image scan 포스코 접합연구그룹 한규태 765,000원
1857 2018-05-09 10시 12시 Ni/Ti/NiSi/Si O분석 포항공과대학교 전자과 백상원 225,000원
1858 2018-05-10 14시 16시 SiC-Al 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 225,000원
1859 2018-05-14 10시 12시 SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 225,000원
1860 2018-05-15 10시 14시 MgFeCl-I image 분석 포항공과대학교 첨단원자력공학부 강재혁 510,000원
1861 2018-05-15 15시 16시 GaO 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 150,000원
1862 2018-05-17 10시 18시 전문인력양성사업 나노융합기술교육 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 2,100,000원
1863 2018-05-18 9시 12시 전문인력양성사업 나노융합기술교육 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 1,230,000원
1864 2018-05-22 10시 16시 유연 전극 안정성 및 소자평가 기술개발
시험분석
 포항공과대학교 대외협력팀 이남석 1,000,000원
1865 2018-05-23 14시 18시 Glass/TiO2/Perovskite/Organic/Ag 샘플의 원소 diffusion 분석 포항공과대학교 화학공학과 박찬의 450,000원
1866 2018-05-28 11시 14시 SnO2-SnCl2 분석 포항공과대학교 화학공학과 강경호 382,500원
1867 2018-05-28 16시 19시 B 이미지 분석 POSCO 광양연구소 광양선강연구그룹 강신언 382,500원
1868 2018-05-29 13시 18시 ITO/유기물/Ag 샘플에서 Ag가 유기물 속으로 얼마나 diffusion 되었는지 측정하려고 합니다 포항공과대학교 화학공학과 박찬의 562,500원
1869 2018-05-30 9시 14시
ITO/유기물/Ag 샘플에서 Ag가 유기물 속으로 얼마나 diffusion 되었는지 측정하려고 합니다		 포항공과대학교 화학공학과 박찬의 562,500원
1870 2018-05-31 10시 18시 image 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1871 2018-06-04 10시 16시 Fe/Al2O3/SiO2/Si depth profile 포항공과대학교 화학공학과 이철훈 675,000원
1872 2018-06-11 9시 10시 기판 sims 분석 포항공과대학교 화학공학과 이철훈 112,500원
1873 2018-06-20 9시 10시 메일로 의뢰드렸던 Carbon이 주입된 Si 샘플입니다.

샘플은 총 2가지로,

#1: with activation anneal
#2: without activation anneal 샘플로

Annealing 전/후 Carbon의 diffusion 관찰을 원합니다.

분석할 원소는 C, Si, O입니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 112,500원
1874 2018-06-28 14시 17시 depth profile 와이솔 FAB기술팀 김영범 405,000원
1875 2018-06-29 10시 17시 powder 시료 Pt 코팅 필요
image scan		 포항공과대학교 화학과 임승택 637,500원
1876 2018-07-03 14시 17시 Mn, Cr, Mo, C 편석분석 경상대학교 나노신소재융합공학과 김정기 337,500원
1877 2018-07-04 13시 18시 Si-B 분석 KEC 공정기술G 김규보 675,000원
1878 2018-07-05 13시 18시 Si-P 분석 KEC 공정기술G 김규보 675,000원
1879 2018-07-06 10시 12시 2가지 샘플 SIMS 분석 의뢰드립니다.

뒷면 마킹 C, 마킹 되지 않은 샘플이 있습니다.

마킹C : Si, O, C, P
마킹x : Si,O,P

원소 분석 요청드립니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 225,000원
1880 2018-07-06 14시 16시 SiNO 분석 전북대학교 기계공학과 문종훈 300,000원
1881 2018-07-10 10시 18시 센서 도핑농도 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1882 2018-07-13 10시 14시 Nii-Au 도금층 사이 성분분석
수량은 4strip(매)이며, 측정 위치는 시료 봉투에 표기 하였음.		 심텍 기술팀 문희동 600,000원
1883 2018-07-16 13시 18시 전문인력양성사업 나노융합기술교육 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 1,050,000원
1884 2018-07-17 10시 17시 전문인력양성사업 나노융합기술교육 나노융합기술원 교육홍보팀 이현규 1,600,000원
1885 2018-07-19 10시 11시 Li 동위원소 분석 포항공과대학교 화학과 임승택 127,500원
1886 2018-07-19 12시 16시 n-AlGaN , p-GaN 기판의 dopant profile을 확인하고자 합니다. 아주대 전자공학과 한승호 600,000원
1887 2018-07-23 10시 14시 * CIGS device의 SIMS depth profile 측정 (샘플 수: 4ea)

- 측정원소 : Cu, In, Ga, Se, S, O, Si, Moi
- 소자구조 : STS/SiO2(300nm)/Mo(1um)/CIGSSe(~3um)
- 측정 범위 : 표면부터 Si까지
- 샘플 : 4종 (25mm*25mm CIGSSe 셀)


: 일정 확정 후 샘플 택배 발송 예정
: 의뢰전 견적서 요청



 다쓰테크 np팀 이희준 600,000원
1888 2018-07-24 10시 11시 O, P 이미지 분석 포항공과대학교 화학과 임승택 127,500원
1889 2018-07-24 13시 16시 Ni/SiC N, O 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 337,500원
1890 2018-07-25 10시 17시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 1,050,000원
1891 2018-08-06 9시 22시 InGaZnO-H,O분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박혁 1,462,500원
1892 2018-08-07 12시 15시 Fe, O, Sn, H, Ar 분석 포항공과대학교 환경공학부 전태화 382,500원
1893 2018-08-07 15시 18시 NiSi/Si 계면 부근 이온 분석

분석 이온 : C, P, Si, Ni, NiSi, O		 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 337,500원
1894 2018-08-07 9시 12시 InGaZnO-H,O분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박혁 337,500원
1895 2018-08-08 10시 14시 * CIGS device의 SIMS depth profile 측정 (샘플 수: 4ea_25mm*25mm)
측정원소: Cu, In, Ga, Se, S, Mo, Si
소자구조: STS/SiO2(300nm)/Mo(1um)/CIGSSe(~3um)

측정 방법 : 기존과 동일 (Si 막까지 측정)		 다쓰테크 np팀 이희준 600,000원
1896 2018-08-09 10시 15시 H, H2, O, S 분석 포항공과대학교 화학공학과 주덕현 562,500원
1897 2018-08-10 11시 17시 Si-P 분석 구미전자정보기술원 첨단소재부품연구센터 박정민 810,000원
1898 2018-08-10 9시 11시 H, 2H 분석 포항공과대학교 화학공학과 주덕현 225,000원
1899 2018-08-17 10시 18시 Hg 동위원소 분석 포스코 포항제철소 환경자원그룹 최홍준 1,020,000원
1900 2018-08-20 10시 19시 센서분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,012,500원
1901 2018-08-21 13시 17시 GaO-H,O 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박혁 450,000원
1902 2018-08-23 13시 17시 Si, Ba, S, Cl, Ni, Au, C, O 분석 심텍 기술팀 문희동 600,000원
1903 2018-08-27 13시 15시 원소분석 포항공과대학교 화학공학과 김홍기 255,000원
1904 2018-08-28 10시 18시 Si-P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 900,000원
1905 2018-08-31 10시 12시 분석 항목 : Si, Ba, S, Cl, Ni, Au, C, O
측정 수량 : 1point/strip (Unit)
Depth Porfile : 2500 [nm]		 심텍 기술팀 문희동 300,000원
1906 2018-09-07 10시 14시 P, S, B image 분석 순천대학교 신소재공학과 류승민 600,000원
1907 2018-09-11 10시 20시 이차전지 Li 분석 포항산업과학연구원 이차전지소재센터 배홍열 1,350,000원
1908 2018-09-13 13시 17시 CIGS 분석 다쓰테크 np팀 이희준 600,000원
1909 2018-09-14 9시 19시 이차전지 Li 분석 포항산업과학연구원 이차전지소재센터 배홍열 1,350,000원
1910 2018-09-15 10시 20시 이차전지 Li 분석 포항산업과학연구원 이차전지소재센터 배홍열 1,350,000원
1911 2018-09-18 10시 16시 image scan 포항공과대학교 화학과 임승택 765,000원
1912 2018-09-19 10시 15시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 750,000원
1913 2018-09-20 10시 12시 1. N doping된 ZnO의 원소별 비율
2. Mo doping된 BiVO4의 원소별 비율		 포항공과대학교 화학공학과 김동형 255,000원
1914 2018-09-20 13시 14시 Si-As 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 112,500원
1915 2018-09-27 10시 16시 NiSi/SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 675,000원
1916 2018-09-28 11시 17시 Ni/SiO/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 675,000원
1917 2018-09-28 9시 11시 ZnO,BiVO 분석 포항공과대학교 화학공학과 김동형 255,000원
1918 2018-10-04 10시 16시 NiSi/SiO2/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 675,000원
1919 2018-10-08 14시 18시 Li, Ca, C, P, S 분석 포항공과대학교 화학과 임승택 510,000원
1920 2018-10-10 10시 18시 센서 이미지분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1921 2018-10-15 10시 12시 Depth profile of EGaIn microparticles. 포항공과대학교 신소재공학과 Anupam Giri 255,000원
1922 2018-10-16 14시 15시 Characterization of EGaIn particles 포항공과대학교 신소재공학과 Anupam Giri 127,500원
1923 2018-10-16 16시 18시 H,C,N,O,S 이미지 분석 LTC 개발1팀 신주원 300,000원
1924 2018-10-22 10시 13시 Ta 박막의 불순물 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 450,000원
1925 2018-10-23 10시 15시 Si wafer 조각 5개
As doping
Power : 80 keV
Dose : 5 x 10^15 cm-2

(5번 sample은 doping이 안 된것 같습니다)		 포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 562,500원
1926 2018-10-24 10시 18시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 1,300,000원
1927 2018-10-25 10시 18시 CIGS 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 1,200,000원
1928 2018-10-30 9시 13시 depth profile
(SOI 조각 패턴 내부 B, P 검출)

Si, B, P, Co 분석		 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 450,000원
1929 2018-11-08 11시 12시 Li 분석 포항산업과학연구원 이차전지소재연구센터 문지웅 135,000원
1930 2018-11-13 10시 13시 Si-B 분석 포항공과대학교 전자전기공학부 윤솔 337,500원
1931 2018-11-14 13시 17시 4개 샘플입니다. 포항공과대학교 환경공학부 원승현 510,000원
1932 2018-11-15 13시 18시 B 분석 (주) KEC 기술연구소 고한 675,000원
1933 2018-11-16 10시 15시 B 분석 (주) KEC 기술연구소 고한 675,000원
1934 2018-11-17 10시 15시 B Pt 분석 (주) KEC 기술연구소 고한 675,000원
1935 2018-11-19 10시 15시 H, P 분석 (주) KEC 기술연구소 고한 675,000원
1936 2018-11-27 10시 18시 센서 doping 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1937 2018-11-29 14시 17시 Si- B 분석 (주) KEC 기술연구소 고한 405,000원
1938 2018-11-30 11시 17시 Si-P,Sb 분석 (주) KEC 기술연구소 고한 810,000원
1939 2018-12-05 10시 14시 Si-B, P, As 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 450,000원
1940 2018-12-10 15시 16시 phosphorus 관찰 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 112,500원
1941 2018-12-11 10시 12시 Si-As분석 파워마스터반도체 주식회사 공정기술팀 기종 225,000원
1942 2018-12-17 10시 16시 Si, SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 675,000원
1943 2018-12-20 10시 18시 sencer 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 900,000원
1944 2018-12-26 12시 15시 Boron 관찰 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 337,500원
1945 2018-12-26 15시 17시 2 단결정 고체시료 분석;
- Zn-PB8/4C60
- Zn-PB8/4C70 		IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 225,000원
1946 2018-12-28 10시 11시 1 시료 측정 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 112,500원
1947 2018-12-28 13시 17시 Ta/SiO/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 450,000원
1948 2018-12-31 10시 12시 Fe, Co, Ni 분석 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 225,000원
1949 2019-01-07 13시 18시 2019년 01월 02일 11시30분경에 연락드려 의뢰요청을 했습니다.

sample 내역: TaN/HfO2 (5 nm)/SiGe[30%]
분석 목적: HfO2/SiGe interface부터 HfO2 박막에 대한 depth 분석의뢰
분석 물질: Si,Ge, Hf, O, C, (H, D) (High Pressure anneal- H2, D2 gas 를 진행 한 sample 이므로 B sample의 경우 H-ion을, Csample의 경우 D-ion의 분석을 요청합니다.) 		성균관대학교 신소재공학과 김진용 450,000원
1950 2019-01-09 13시 18시 통신문제로 인한 분석 중 오류 발생 (장비 RESET) 포항공과대학교 화학공학과 임형섭 0원
1951 2019-01-10 10시 18시 Ag+ ion 분석 포항공과대학교 화학공학과 임형섭 675,000원
1952 2019-01-11 9시 18시 유기물 박막 내 Ag 원소의 확산 분석 포항공과대학교 화학공학과 박찬의 337,500원
1953 2019-01-14 9시 18시 Magnet field 장치 점검 나노융합기술원 특성평가팀 김민정 0원
1954 2019-01-17 9시 15시 엔지니어 방문 장비 점검 및 테스트 나노융합기술원 특성평가팀 김민정 0원
1955 2019-01-21 10시 18시 박찬의님 샘플 재측정 (SIMS 불안정 및 조건변경에 인한 재측정) 나노융합기술원 특성평가팀 김민정 0원
1956 2019-01-22 10시 17시 Si/TaOx 100nm 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 450,000원
1957 2019-01-23 13시 18시 MCs+방법을 이용한 시편 재측정 포항공과대학교 화학공학과 김성원 0원
1958 2019-01-24 9시 18시 LED Chip depth profile (chip크기 한계에 따른 시편 재 준비 후 재 측정) (주) KEC 기술연구소 고한 0원
1959 2019-01-25 9시 18시 LED chip Depth profile (charging 및 위치에 의한 시편 준비 및 재 측정) (주) KEC 기술연구소 고한 270,000원
1960 2019-01-28 9시 18시 Energy impact 달리하여 추가 측정 및 Alpha step 측정 후 데이터 정리 성균관대학교 신소재공학과 김진용 0원
1961 2019-01-29 9시 18시 LED Chip 분석 (Si, B) 및 데이터 정리 (주) KEC 기술연구소 고한 270,000원
1962 2019-03-04 14시 15시 SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 127,500원
1963 2019-03-05 9시 18시 ZnC복합물 불순문분석(Fe, Co, Ni) IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 1,215,000원
1964 2019-03-07 10시 14시 GaN 불순물 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
1965 2019-03-08 10시 17시 ZnC /Si 불순물 분석 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 945,000원
1966 2019-03-12 10시 18시 페로브스카이트 박막 원소 분석 (depth profile) 포항공과대학교 화학공학과 최진혁 540,000원
1967 2019-03-13 9시 18시 Si-B 분석 측정 전북대학교 전자공학부 김기현 1,305,000원
1968 2019-03-14 14시 17시 Si 불순물 측정 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 270,000원
1969 2019-03-20 13시 16시 10nm Ti/100nm Pd 열처리 조건 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 382,500원
1970 2019-03-26 13시 17시 - NiSi/n-Si (Phosphorous doped), NiSi/n-Si (Phosphorous doped, Carbon implanted) 측정

- Elements: Ni, Si, P, C , As

포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 480,000원
1971 2019-03-29 16시 22시 ZnC복합물 불순문분석(Cr, Cu, Mn) IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 405,000원
1972 2019-04-15 9시 22시 - GaAs, AlGaAs층 분석
- DUO 모드 측정		 가천대학교 IT융합공학과 전자공학전공 조성재 450,000원
1973 2019-04-16 15시 22시 - GaAs, AlGaAs층 분석
- Cs 모드 측정		 가천대학교 IT융합공학과 전자공학전공 조성재 600,000원
1974 2019-04-19 9시 12시 Fe/Cr/Mo 분석 측정 포항공과대학교 대외협력팀 이남석 500,000원
1975 2019-04-22 9시 18시 Si, Al, C 측정 파워마스터반도체 주식회사 제품개발팀 김홍기 810,000원
1976 2019-04-23 9시 18시 STS 304 depth 측정
Element: Fe, C, Ni, Cr, N, O		 순천대학교 신소재공학과 정영재 300,000원
1977 2019-04-24 9시 15시 Si/Cr/Zn 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 510,000원
1978 2019-04-25 9시 18시 CVD 평판 실리콘 샘플 도핑농도 프로파일 분석
(Phosphorous doped poly-Si, Intrinsic poly Si 분석)		 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 382,500원
1979 2019-04-26 9시 14시 Sn/Ag/S/Mo 측정 청주대학교 태양광에너지공학과 김성준 300,000원
1980 2019-04-29 9시 15시 Ni/C/Fe/Cu/O image scan 측정 분석 순천대학교 신소재공학과 정영재 150,000원
1981 2019-04-30 9시 18시 P-type/B-dopant
Fe/Co/Ni/Cr/Mn/Cu 불순물 측정		 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 1,080,000원
1982 2019-05-02 9시 22시 466A, 446B, 446C Depth profile 분석

Elements: 1) C, Zn, Si, Fe, Co, Ni x 2
2) C, Zn, Si, Cr, Mn, Cu x 2

각 샘플당 2 point 측정		 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 1,620,000원
1983 2019-05-03 12시 14시 Sn/Ag/S/Mo 측정 청주대학교 태양광에너지공학과 김성준 150,000원
1984 2019-05-03 9시 12시 n-doped poly Si 도핑 농도 및 두께 확인 포항공과대학교 전자전기공학과 이승호 255,000원
1985 2019-05-07 9시 17시 EA, 466B, 466C

Elements: C, Zn, Si, Fe, co Ni		 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 810,000원
1986 2019-05-08 9시 17시 EA, 466B, 466C

Elements: C, Zn, Si, Cr, Mn, Cu		 IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 810,000원
1987 2019-05-09 14시 17시 NiSi, Si, C, Cu Depth profile 측정 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 120,000원
1988 2019-05-09 9시 14시 YH

Elements: C, Zn, Si, Cr, Mn, Cu, Fe, Co, Ni 		IBS (기초과학연구원) CSC (복잡계 자기조립 연구단, POSTECH 켐퍼스) 황인철 540,000원
1989 2019-05-15 13시 17시 Si, Al, C 측정 파워마스터반도체 주식회사 제품개발팀 김홍기 270,000원
1990 2019-05-28 9시 17시 Ps/PMMA 측정 분석 의뢰

Elements: Si, O, C, H, Br		 포항공과대학교 화학공학과 박소영 135,000원
1991 2019-05-29 11시 17시 Sn/Ag/S/Mo 측정

1. 50W-200C
2.100W-200C
4. 100W-300C 		청주대학교 태양광에너지공학과 김성준 450,000원
1992 2019-06-03 10시 12시 Sample 3 depth profile
element: Sn, S, Ag, Mo		 청주대학교 태양광에너지공학과 김성준 150,000원
1993 2019-06-03 13시 15시 Phosphorus 검출 포항공과대학교 전자전기공학과 윤솔 127,500원
1994 2019-06-04 10시 18시 샘플 갯수 : 2개

1) Sample 1 (NiGe)
- Depth profile : Ni, Ge, In
- Concentration analysis: In

2) Sample 2 (NiGe with Tb interlayer)
- Depth profile: Ni, Ge, Tb
- Concentration analysis: In		 충남대학교 전자공학과 송형섭 300,000원
1995 2019-07-08 9시 17시 PEDOT:PSS & 유기물 혼합 박막 Depth profile 분석 의뢰 (주)라훔나노테크 기업부설연구소 강수림 450,000원
1996 2019-07-09 9시 17시 SiC Al & N 도핑 박막 Depth profile 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 127,500원
1997 2019-07-18 9시 17시 FAil Ball Attach Intermetallic Depth profile 분석 및 원인 규명 (주)심텍 제품개발3팀 이승환 300,000원
1998 2019-07-23 9시 18시 image scan
28Si, 28Si1H, 28Si16O, 28Si16O1H,
4ea		 포항공과대학교 화학과 임승택 540,000원
1999 2019-07-24 9시 18시 poly-Si doping profile 분석 요청
doping As, BF2

elements: 16O, 28Si, 11B19F2, 75As		 가천대학교 IT융합공학과 전자공학전공 조성재 450,000원
2000 2019-07-25 9시 16시 Ni, Si, C, P, Cu 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 240,000원
2001 2019-08-05 9시 18시 N 성장에 따른 깊이 분포도 측정 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 1,500,000원
2002 2019-08-07 9시 14시 TiSiGe6, TiSige7, TiSiGeC6, TiSiGeC7 depth profile 분석 요청 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 480,000원
2003 2019-08-08 9시 18시 전문인력양성사업-측정분석실습교육
나노융합기술원 사업지원팀 박진우 2,300,000원
2004 2019-08-13 9시 16시 N, F, S, Si 분석 (주)라훔나노테크 기업부설연구소 강수림 300,000원
2005 2019-08-20 9시 18시 SIC Epi내 Al, P 농도 Profile(농도 및 Depth) 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 1,147,500원
2006 2019-08-28 9시 18시 H2S 반응 전/후 비교 분석
(MCs분석)		 포항공과대학교 첨단재료과학부 임진욱 270,000원
2007 2019-09-02 9시 13시 두개의 SiC 샘플 분석 요청입니다.

각 샘플에서 Boron의 Depth profile 부탁 드립니다.		 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 270,000원
2008 2019-09-03 9시 18시 P implant+diffusion a-SiC(100nm)/ITO 300nm/Glass wafer(675um) 측정 주식회사 아르케 연구개발 사공성환 300,000원
2009 2019-09-04 9시 15시 Epi-wafer 의 depth profile 입니다. Epi 예상두께가 1um 이고, 1um 이상 분석을 부탁드립니다.
Substrate : p-type (Boron, ~10^19)
Epi : n-type (Phosphrous, ~10^15)

 삼성종합기술원 Imaging Device Lab 조경상 240,000원
2010 2019-09-09 9시 14시 Si, Ge, B 측정 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 360,000원
2011 2019-09-17 9시 14시 Ti/Ni/Si 성분 분석 부탁드립니다. 포항공과대학교 전자전기공학과 윤주영 120,000원
2012 2019-09-24 9시 17시 두개의 SiC 샘플 분석 요청입니다.

각 샘플에서 N, C 의 Depth profile 부탁 드립니다. 		포항공과대학교 기술지원팀 김성준 270,000원
2013 2019-09-26 9시 12시 전문인력양성 사업 교육 나노융합기술원 사업지원팀 박진우 2,900,000원
2014 2019-10-01 9시 18시 O, Na, S, Cu, Zn, Ga, Se, Mo, In, Sn 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 600,000원
2015 2019-10-14 9시 14시 CIGS층 까지 측정 부탁드립니다.
elements: O, Na, S, Cu, Zn, Ga, Se, Mo, In, Sn		 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 150,000원
2016 2019-10-22 9시 17시 Li, O, S In, Pb 분석 포항공과대학교 화학공학과 이준우 405,000원
2017 2019-11-01 9시 16시 B, C 이미지 측정 포항공과대학교 신소재공학과 김대웅 135,000원
2018 2019-11-04 9시 16시 1. 측정 Depth : ~1.2um 까지
2. 측정 원소 : Ga, N, Mg, Si, 및 C, H, O,
3. 정량화 분석
4. Depth profile resolution : 가능한 5nm 이하,
5. 측정 시료 : 1조각 (19005)
6. 측정 위치 : 뒷면에 X 표시한 부분 측정
한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 150,000원
2019 2019-11-18 9시 17시 SIC-Al 측정 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2020 2019-11-20 9시 17시 TSPV 2 측정
B, P 도핑		 주식회사 아르케 SIC 생산본부 노병훈 300,000원
2021 2019-12-02 9시 18시 Si 웨이퍼 carbon film 증착(C, F, N,O Depth profile 분석) 테스 개발1그룹공정2팀 황영현 150,000원
2022 2019-12-04 9시 16시 Si, O, P depth 측정 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 405,000원
2023 2019-12-09 9시 17시 계면 중심으로 160um 길이만큼 Line profile 조성분석
C, Si, Cr, Mn		 포항공과대학교 신소재공학과 조민철 540,000원
2024 2019-12-10 13시 18시 As doping Si wafer : 4 조각
B doping Si wafer : 4조각		 포항공과대학교 전자전기공학부 신성환 480,000원
2025 2019-12-11 9시 16시 As doping Si wafer : 4 조각
B doping Si wafer : 4조각 		포항공과대학교 전자전기공학부 신성환 480,000원
2026 2019-12-13 9시 16시 H, C, F, N, Sn 분석 포항공과대학교 화학공학과 홍지수 135,000원
2027 2019-12-16 9시 18시 Si 웨이퍼 carbon film 증착(C, F, N,O Depth profile 분석) 테스 개발1그룹공정2팀 황영현 900,000원
2028 2020-01-02 9시 17시 133Cs 16O, 133Cs 28Si, 133Cs 48Ti 측정 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 510,000원
2029 2020-01-03 13시 18시 MCs 16O, 28Si, 48Ti, 49Ti 측정 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 382,500원
2030 2020-01-03 9시 12시 Si wafer+boron doping sample 1개
SIMS분석요망

 포항공과대학교 전자전기공학부 신성환 120,000원
2031 2020-01-08 9시 17시 133Cs 16O, 133Cs 30Si, 181Ta 분석
 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 382,500원
2032 2020-01-09 9시 16시 DPP+Al 증착 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 이용우 270,000원
2033 2020-01-13 9시 17시 CIGS층까지 (Mo층 전까지) 측정해 주시면 됩니다.
※ 2019.10.10 측정 조건과 동일하게 측정 바랍니다.

※ 검출 요청 원소: O, Na, Mg, Cu, Ga, Se, Mo, In
 한국전자통신연구원 신소재연구실 김명언 600,000원
2034 2020-01-14 9시 17시 ※ 혼합박막 내 조성비를 분석하고자합니다. (앞면 측정, Glass 기판 전 까지)
※ 2019.10.10 측정 조건과 동일하게 측정 바랍니다.

※ 검출 요청 원소: O, Na, S, Zn, In, Sn
 한국전자통신연구원 신소재연구실 김명언 750,000원
2035 2020-01-15 13시 17시 일시 : 2020년 1월 15일(수) 13:30~18:00​
장소 : 나노융합기술원 1층 컨퍼런스홀​(대강당)
참석 : 기술원 전체 구성원
주요내용 : 부서별 2019년도 성과 및 2020년도 계획 논의​		 포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2036 2020-01-16 9시 17시 133Cs 16O, 133Cs 30Si, 133Cs 31P 측정 요청 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 675,000원
2037 2020-01-17 9시 17시 KIST 특성분석센터-NINT 특성평가팀 기술교류회 출장
일시: 2020년 01월 17일(금)
장소: KIST(서울)
 포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2038 2020-01-20 9시 17시 DPPl(7day)
측정원소: 133Cs 13C, 133Cs 160, 133Cs 27Al 		포항공과대학교 창의IT융합공학과 이용우 270,000원
2039 2020-01-21 9시 18시 SIMS 분석 한국전자통신연구원 신소재연구실 김명언 450,000원
2040 2020-01-22 10시 18시 - 교 육 명 : 「나노융합기술원 반도체 실습 교육」
- 일 시 : 2020.1.20.(월)~1.22.(수) / 2020.1.29.(수)~1.31.(금)
2020.2.10.(월)~2.12.(수)
- 장 소 : 포항공과대학교 나노융합기술원 클린룸 및 분석실
(포항시 남구 청암로 77 포항공과대학교 나노융합기술원, 포항가속기연구소 옆)
- 교육인원 : 한국나노마이스터고등학교 1학년 90명(30명*3회 교육)
- 교육방법 : 나노융합기술원 반도체 공정장비 및 분석장비를 활용한 실습 교육
(이론교육-집체교육 / 실습교육-조별실습)		 포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2041 2020-01-23 9시 17시 250_2m, 250_30m(Ru045m)
H, C, O, Si, Ru 분석
 포항공과대학교 화학공학과 박소영 135,000원
2042 2020-01-28 9시 15시 재분석 요청으로 인한 분석 포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2043 2020-01-30 9시 18시 연차 포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2044 2020-01-31 10시 17시 - 교 육 명 : 「나노융합기술원 반도체 실습 교육」
- 일 시 : 2020.1.29.(수)~1.31.(금) 2020.2.10.(월)~2.12.(수)
- 장 소 : 포항공과대학교 나노융합기술원 클린룸 및 분석실
(포항시 남구 청암로 77 포항공과대학교 나노융합기술원, 포항가속기연구소 옆)
- 교육인원 : 한국나노마이스터고등학교 1학년 90명(30명*3회 교육)
- 교육방법 : 나노융합기술원 반도체 공정장비 및 분석장비를 활용한 실습 교육
(이론교육-집체교육 / 실습교육-조별실습) 		포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2045 2020-02-03 9시 18시 02월 03일 ~ 02월 24일(예정) 까지
SIMS 장비 오보홀 관련 장비 stop		 포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2046 2020-02-11 9시 18시 한국나노마이스터고 교육
1차: 01월 22일 (09시~17시)
2차: 01월 31일 (09시~17시)
3차: 02월 12일 (09시~17시)		 나노융합기술원 사업지원팀 박진우 3,629,000원
2047 2020-02-12 9시 18시 SIMS 장비 오버홀 관련 장비 stop
02월 03일 ~ 02월 28일 까지(미확정)
포항공과대학교 기계공학과 권정현 0원
2048 2020-03-03 10시 12시 미량원소 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2049 2020-03-06 13시 14시 원소 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 135,000원
2050 2020-03-10 13시 16시 원소 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 382,500원
2051 2020-03-11 13시 17시 원소 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 510,000원
2052 2020-03-16 14시 15시 GaIn-Au,C분석 Pohang University of Science and Technology Material Science Veerapandian 135,000원
2053 2020-03-20 13시 17시 HfTaO 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 510,000원
2054 2020-03-20 9시 12시 SiON 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박성민 382,500원
2055 2020-03-24 10시 15시 TiO 분석 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 유상훈 675,000원
2056 2020-03-24 15시 19시 TiO 분석 포항공과대학교 환경공학부 한승목 540,000원
2057 2020-03-25 16시 17시 MnTiCB image scan 서울대학교 재료공학부 정병석 150,000원
2058 2020-03-26 10시 14시 NiGe, TiGe에서 Ga, C 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 510,000원
2059 2020-03-30 13시 15시 이미지 분석(MnTi) 서울대학교 재료공학부 정병석 150,000원
2060 2020-03-31 15시 17시 SIC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 270,000원
2061 2020-04-01 15시 17시 Si-B 분석 삼성전자 (종합기술원) Nano Electronics Lab. 황경욱 240,000원
2062 2020-04-02 10시 14시 TiO H분석 포항공과대학교 환경공학부 한승목 540,000원
2063 2020-04-03 10시 14시 페로브스카이트 분석 포항공과대학교 화학공학과 김대건 540,000원
2064 2020-04-03 15시 17시 조각 2개.
SOI
Top Si 70nm
BOX 150nm
Arsenic concentration 측정 		포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 255,000원
2065 2020-04-06 14시 16시 Si- As, O, P 분석 Outermost Technology General manager 이상민 300,000원
2066 2020-04-07 10시 16시 Sample 명 : 20200401_ACL/Si

분석 정보 : SIMS (Si,C,O,H,F)

물질 정보: Amorphous carbon layer

시편 수 : 100nm 2ea, 1400nm 2ea, 2800nm 2ea (합 6ea)

분석방법: Depth profile from surface to Si-wafer (@Si,C,O,H,F) 		테스 개발1그룹공정2팀 황영현 900,000원
2067 2020-04-09 10시 14시 TIPS 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김우조 540,000원
2068 2020-04-20 13시 15시 SiC 전극분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 270,000원
2069 2020-04-21 10시 14시 Al/Ti/Si 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2070 2020-04-22 11시 15시 Al/Ti/Si/SiO2/Si 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2071 2020-04-23 11시 12시 샘플 1개입니다. 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 135,000원
2072 2020-04-29 10시 14시 Glass/IGZO/Mo/Al

IGZO와 Mo사이의 interface 분석 하고 싶습니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 박혁 510,000원
2073 2020-04-29 14시 17시 SiO2/Si에서 H, C 분석 포항공과대학교 전자과 서태원 382,500원
2074 2020-05-11 13시 16시 CoO/SUS 분석 포항공과대학교 첨단원자력공학부 남성식 405,000원
2075 2020-05-12 10시 12시 Oxygen 함유량에 대한 depth profile 측정을 요청드립니다.

측정당일 직접 참관할 예정입니다.

(추가적으로 메일로 간략히 소자의 구조에대해 설명드리도록 하겠습니다)

감사합니다. 		포항공과대학교 신소재공학과 이철준 270,000원
2076 2020-05-13 10시 14시 Al/Mo/IGZO 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 박혁 510,000원
2077 2020-05-15 13시 15시 AlON/SiC 분석 나노융합기술원 프라운호퍼 실용화연구센터 김상조 270,000원
2078 2020-05-19 13시 14시 고분자 필름내부로 도핑된 N의 분포를 알기위한 분석을 요청드리고자 합니다. 포항공과대학교 신소재공학부 문성민 135,000원
2079 2020-05-19 14시 19시 GaN 샘플 2개의 6um depth profile 요청
스피드는 상관X (유선 통화시 4시간 정도 소요된다고 들음)
SIMS 측정후 FIB 실험실 인도 부탁드립니다.

 한국표준과학연구원 첨단측정장비연구소 박혜지 750,000원
2080 2020-05-20 13시 17시 CoO/SUS 분석 포항공과대학교 첨단원자력공학부 남성식 540,000원
2081 2020-05-21 13시 17시 CoO/SUS 분석 포항공과대학교 첨단원자력공학부 남성식 540,000원
2082 2020-05-22 10시 14시 AlN/SiC 분석 나노융합기술원 프라운호퍼 실용화연구센터 김상조 540,000원
2083 2020-05-25 10시 14시 고분자 F 분석 부경대학교 부경대학교 권혁진 540,000원
2084 2020-05-26 11시 13시 RIST 박익범 010-4047-4228
TiO/철강 분석		 RIST RIST RIST 300,000원
2085 2020-05-28 14시 16시 Aerogel sample : Thermal SiO2/TiN(100nm)/Porous SiO2(약 500nm)/Cu(100nm)
Reference sample : Thermal SiO2/TiN(100nm)/SiO2(100nm)/Cu(100nm)

Cu, C의 death profile 요청		 연세대학교 신소재공학과 장유진 300,000원
2086 2020-05-28 16시 17시 철강시편 image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 135,000원
2087 2020-05-29 14시 16시 steel image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 270,000원
2088 2020-06-01 14시 16시 . 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 박지원 255,000원
2089 2020-06-02 10시 12시 폴리머 image scan, depth profile 포항공과대학교 신소재공학부 문성민 270,000원
2090 2020-06-02 14시 18시 6월3일 수요일 오전에 결과 엑셀 파일만 받아도 괜찮습니다

구조는 다음과 같습니다

p-type 기판/ n+ si 300nm / p Si(0.8)Ge(0.2) 75nm / n Si(0.8)Ge(0.2) 100nm / p+ Si 200nm /

 가천대학교 전자공학과 김대환 600,000원
2091 2020-06-03 10시 16시 SiC - Al, N 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 765,000원
2092 2020-06-03 16시 18시 GaN depth profile 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2093 2020-06-04 10시 13시 샘플은 총 세개입니다. 알파갈륨옥사이드 두개와 베타갈륨옥사이드 한개입니다.
세가지 샘플 모두 1마이크로미터 두께의 박막이고, 탄소,수소,실리콘,불소 네가지 씩을 봐주시면 됩니다.
알파 갈륨옥사이드 두개는 slow scan 표면효과가 최대한 사라지도록 찍어주시면 되고,
베타 갈륨옥사이드는 그냥 일반적인 스캔으로 찍어주시면 되고
표면에서 200-500나노정도 찍어주시면 됩니다.		 경북대학교 신소재공학부 전자재료공학과 권지수 450,000원
2094 2020-06-05 11시 14시 GaO 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 450,000원
2095 2020-06-05 14시 16시 TiO 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 255,000원
2096 2020-06-11 10시 14시 Si-P/SiO/Si 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2097 2020-06-16 11시 13시 전화로 월요일에 방문드리기로 했습니다.
Teflon측정 하기 위함입니다.		 포항공과대학교 기계공학과 유동우 270,000원
2098 2020-06-22 13시 17시 Not sealing A : TiN 100nm/porous SiO2/TiN 100nm/SiO2/Si(substrate)
Not sealing NA : TiN 100nm/porous SiO2/TiN 100nm/SiO2/Si(substrate)
Sealing A : TiN 100nm/SiO2 10nm/porous SiO2/TiN 100nm/SiO2/Si(substrate)
Sealing NA : TiN 100nm/SiO2 10nm/porous SiO2/TiN 100nm/SiO2/Si(substrate)

분석 요청 원소 : C, Ti		 연세대학교 신소재공학과 장유진 600,000원
2099 2020-06-23 13시 16시 SiC N 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 405,000원
2100 2020-06-25 11시 14시 SiC-Al 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 382,500원
2101 2020-06-26 12시 14시 Si-B 분석 삼성전자 (종합기술원) Nano Electronics Lab. 황경욱 240,000원
2102 2020-06-30 10시 13시 Si - P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 최민근 405,000원
2103 2020-07-07 10시 14시 AlON/SiC 분석 나노융합기술원 프라운호퍼 실용화연구센터 김상조 540,000원
2104 2020-07-08 10시 11시 샘플 2개가 있습니다.
각각 Sn, Cs, Pb, F 분석 요청을 드립니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 135,000원
2105 2020-07-08 15시 16시 고농도 도핑된 n(phosphrous) type silicon wafer 후면의 도핑농도 및 성분을 측정하고 싶습니다. 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 135,000원
2106 2020-07-10 12시 16시 유기물(C,N,O,S)/Si 분석 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 540,000원
2107 2020-07-13 10시 12시 샘플은 총 두개입니다.
Beta-Ga2O3 bare 라고 적힌 그냥 베타갈륨옥사이드와
Beta-Ga2O3 CF4/O2 10min이라고 적힌 CF4플라즈마 처리한 베타갈륨옥사이드입니다.
CF4플라즈마 처리 후 베타갈륨옥사이드의 변화를 비교하기 위해 SIMS를 측정하게 된 것이고
세가지 샘플 모두 1마이크로미터 두께의 박막이고, 실리콘,불소 봐주시면 됩니다.
가능하시다면 slow scan로 표면효과가 최대한 사라지도록 찍어주시면 됩니다.

 경북대학교 신소재공학부 전자재료공학과 권지수 300,000원
2108 2020-07-13 12시 18시 ion concentration 분석

총 6개의 시편으로 구조는 Ti/Ge 시편 2개와 TiGe/Ge 시편 4개입니다.

분석할 원소 ; C, Ti, Ge, P, Ga		 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 765,000원
2109 2020-07-14 10시 12시 총 2개의 시편에 대해
조각 웨이퍼 깊이에 따른 Boron / Phosphorous의 농도를 체크하고 싶습니다.		 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 270,000원
2110 2020-07-14 9시 10시 SIMS 원소분석: Sn, Cs, Pb, F

샘플 1개입니다.
감사합니다!		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 135,000원
2111 2020-07-16 13시 17시 폴리머/Si 분석 포항공과대학교 화학공학과 이한솔 540,000원
2112 2020-07-20 13시 16시 Si 위에 1. ZnO/ZnS, 2. ZnO/ZnS/CuI film을 형성하였습니다.
각 layer의 두께는 ZnO: 약 200 nm, ZnS: 5-10 nm, CuI: 약 50 nm 입니다.
두 샘플의 깊이에 따른 화학 조성 변화를 관측하고자 합니다.		 연세대학교 화공생명공학과 김태현 450,000원
2113 2020-07-21 10시 14시 SiO/Au/Si depth profile, image 분석 포항공과대학교 화학과 신승구 540,000원
2114 2020-07-22 10시 16시 Pt/Cr,Ni/SiO2/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 765,000원
2115 2020-07-22 9시 10시 고농도 n타입 조각 실리콘의 후면 산화막/질화막여부를 측정하고 싶습니다. 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 135,000원
2116 2020-07-24 13시 18시 SiC-Al, P 정량분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 637,500원
2117 2020-07-27 10시 18시 Si/ZnO/ZnS 2개
Si/ZnO/ZnS/CuI 2개
FTO/ZnO/ZnS 1개
FTO/ZnO/ZnS/CuI 1개

Si/SiO2 (1000A)/p-doped poly-Si (400A 1개, 1300A 1개)

총 8개의 샘플 깊이 방향 원소 분석		 연세대학교 화공생명공학과 김태현 1,200,000원
2118 2020-08-05 2시 4시 오후 2시에 뵙겠습니다. 포항공과대학교 기계공학과 임근배 교수님 연구실 김상우 270,000원
2119 2020-08-10 10시 18시 원소 Pb, I, Br, Sn, Li, 분석 depth profile로 분석 부탁드립니다. 한국화학연구원 에너지소재센터 송슬기 1,200,000원
2120 2020-08-11 10시 14시 SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 540,000원
2121 2020-08-12 10시 14시 SiC 분석 Outermost Technology General manager 이상민 600,000원
2122 2020-08-12 14시 15시 SiC wafer 에서 지정영역(P+ : Al)에 대한 SIMS 분석
- 자세한 내용은 폐사측(파워큐브세미)에서 발송드리는 메일을 참고 부탁드립니다.		 파워큐브세미(주) 부설연구소 서정윤 150,000원
2123 2020-08-13 10시 14시 SiC-P,N분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 540,000원
2124 2020-08-20 10시 16시 SiC-Al분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 810,000원
2125 2020-08-25 10시 16시 SiN/SiO2/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 900,000원
2126 2020-08-26 10시 16시 SiN/SiO2/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 900,000원
2127 2020-08-27 16시 18시 Li-La,Al,Zr 분석 포항공과대학교 신소재공학과 김아빈 270,000원
2128 2020-09-01 10시 17시 SiC-분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 945,000원
2129 2020-09-02 10시 12시 n-Ge 기판에 B implant한 상태입니다.
B, As depth profile 부탁드립니다.
감사합니다.

Ge 1cm*1cm 조각입니다.		 아주대학교 전자공학과 최우석 300,000원
2130 2020-09-02 13시 17시 SIC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 540,000원
2131 2020-09-03 10시 18시 Al/Si/Glass 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,200,000원
2132 2020-09-04 6시 22시 Al/Si/Glass 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 2,400,000원
2133 2020-09-07 9시 21시 Al/Si/Glass 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,800,000원
2134 2020-09-08 10시 11시 SiC-N 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 135,000원
2135 2020-09-08 13시 17시 Cu 시편의 depth profile 측정 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 600,000원
2136 2020-09-09 10시 11시 Ni(10nm) on copper foil(35um) depth profile 분석 및 이미지 스캔 포항공과대학교 기계공학부 서정보 135,000원
2137 2020-09-09 13시 17시 Al/polymer/ITO 분석 포항공과대학교 대학원 화학공학과 심규민 540,000원
2138 2020-09-10 10시 18시 SiN/SiO2/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,200,000원
2139 2020-09-11 10시 14시 -Phosphorous SIMS (secondary ion mass spectrometry) 분석

-시편 4개
-Si 기판 표면 위에 SiO2 10nm 정도 증착
-20mm x 20mm Si 조각으로 절단
-Phosphorous implantation: 14KeV, 3.3 x 10^11 ions/cm^2 근처 정도에서		 ETRI ICT창의연구소 김종배 600,000원
2140 2020-09-14 13시 15시 W/Cu, Ni/Cu 분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 270,000원
2141 2020-09-15 12시 16시 Si-P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 최민근 540,000원
2142 2020-09-16 10시 18시 나노선의 도핑농도를 확인하려 합니다! 두개의 시편이고 boron농도 및 phosphorus농도 확인입니다. 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 1,080,000원
2143 2020-09-17 10시 12시 시료 : SUS 304 plate에 Cr 산화물 처리한 시료 2종 (기존 EP처리 vs 신규케미컬 처리)

분석대상 : 표면으로부터의 크롬 산화막 두께 (예상 산화막 두께 : 수십 옹스트롬)
시료 2종의 크롬 변화 및 산화막 두께 비교

분석원소 : Cr, O, Ni, Fe

 인화 대표 인화 300,000원
2144 2020-09-18 10시 16시 Ni/Cu, W/Cu 분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 810,000원
2145 2020-09-21 10시 13시 GaO-Si, Sn 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 450,000원
2146 2020-09-21 15시 16시 NiCu분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 135,000원
2147 2020-09-22 14시 16시 GaO-Si, Sn 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 300,000원
2148 2020-09-23 10시 16시 SUS-H 분석 한국표준과학연구원 수소에너지소재연구팀 허형민 900,000원
2149 2020-09-25 13시 17시 Si-B 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 540,000원
2150 2020-09-28 10시 14시 TiN/Cu 분석 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 600,000원
2151 2020-09-28 15시 18시 SUS-H image 분석 한국표준과학연구원 수소에너지소재연구팀 허형민 450,000원
2152 2020-09-29 10시 14시 GaO-Si, Sn 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 600,000원
2153 2020-10-06 13시 16시 Al2O3/Si-C분석 Outermost Technology General manager 이상민 450,000원
2154 2020-10-07 10시 18시 GaN 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,080,000원
2155 2020-10-08 13시 16시 3개 시료에 관하여 저에너지로 천천히 측정해주세요 인화 대표 인화 450,000원
2156 2020-10-12 12시 17시 TiN/Cu 분석 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 750,000원
2157 2020-10-14 13시 16시 W/Si, Ni/Si, GO 분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 405,000원
2158 2020-10-14 16시 17시 Au/Si 분석 포항공과대학교 대학원 기계공학과 이제민 135,000원
2159 2020-10-15 13시 17시 김성규 선생님께,

한국화학연구원 장경순입니다.



sample 은 Perovskite film 이며 깊이에 따른 성분원소 분석과 정량분석을 하려 합니다. 기본 구조는 glass/ITO (indium tin oxide) / SnO2 / Perovskite film 순으로 구성되어있습니다.

Indium signal 이 saturation 될 때 까지 측정해주시면 감사하겠습니다.

perovskite film 조건이 3가지 이며 다음의 내용을 확인하고자 합니다.

1. control
2. cl 존재 유무 확인 및 위치 확인
3. cl 존재 유무 확인 및 위치 확인

자세한 사항 sample 에 기입 해놓겠습니다.

감사합니다 !
한국화학연구원 에너지소재연구센터 장경순 600,000원
2160 2020-10-19 9시 19시 Si-B 분석 (주)케이이씨 제품 최유규 1,500,000원
2161 2020-10-20 9시 19시 Si-P 분석 (주)케이이씨 제품 최유규 1,500,000원
2162 2020-10-21 12시 18시 Si-As,Sb 분석 (주)케이이씨 제품 최유규 900,000원
2163 2020-10-21 9시 10시 Si-P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 최민근 135,000원
2164 2020-10-22 14시 16시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2165 2020-10-23 9시 12시 GO분석 포항공과대학교 기계공학과 양희찬 405,000원
2166 2020-10-26 13시 16시 sample 1&2: 500nm Ge / p-type Si wafer.
Ge 내부 P 와 O 농도 측정합니다.

sample 3: 400nm PSG / 500nm Ge/ p-type Si wafer
PSG 내부 P 와 O 농도 측정.		 국민대학교 신소재공학부 강명군 450,000원
2167 2020-10-28 11시 12시 GaN-Si 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 150,000원
2168 2020-10-28 13시 18시 SiC Al 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 675,000원
2169 2020-11-03 13시 16시 GaO-Si 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 450,000원
2170 2020-11-05 10시 11시 TiN/Ti/Ge (dopant P) 4가지 원소 검출
 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 127,500원
2171 2020-11-06 13시 15시 Ge-As 분석 숭실대학교 전자공학과 이찬호 300,000원
2172 2020-11-09 10시 18시 GaO-Si, Sn 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 1,200,000원
2173 2020-11-10 10시 18시 SiC 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 1,080,000원
2174 2020-11-12 13시 17시 ■P implantation 농도 SIMS 측정 분석

-Si 10mm x 10mm 시편 4개 (시편 각각에 번호가 있음)
-시편은 각각 다른 기관에서 implant한 다른 샘플임
-시편 표면에 SiO2 ~10nm 증착
-깊이 100nm까지만 SIMS 분석 		ETRI ICT창의연구소 김종배 600,000원
2175 2020-11-16 13시 14시 결정립계 P, S 분석 요청드립니다 창원대학교 신소재공학부 이지원 150,000원
2176 2020-11-17 10시 16시 SiC 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2177 2020-11-18 9시 19시 TiN/Cu 분석 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 1,500,000원
2178 2020-11-19 9시 19시 TiN/Cu 분석 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 1,500,000원
2179 2020-11-26 11시 15시 1. Reference sample SiN(80nm)/SiOx(5 nm)/Si(p-doped)
2. N doped sample SiN(80 nm)/SiOx(5 nm)/Si(P, N doped)
3. N doped annealed sample SiN(80 nm)/SiOx(5 nm)/Si(P, N doped)
4. O doped annealed sample SiN(80 nm)/SiOx(5 nm)/Si(P, O doped)


전북대학교 공과대학 기계공학과 김근주 600,000원
2180 2020-11-30 13시 15시 샘플 2개

각 Li, La, Zr, O, Al

5개의 원소 depth 측정		 포항공과대학교 신소재공학과 김아빈 270,000원
2181 2020-12-04 14시 15시 Sample 4 - Oxygen doped annealed sample SiN(80 nm)/SiOx(5 nm)/Si(P, O doped)

Measure Elements - Si, Boron, Phosphorous, and Oxygen		 전북대학교 공과대학 기계공학과 김근주 150,000원
2182 2020-12-07 10시 11시 - 시료상태 : SiC Wafer (6inch) 1/2 조각

- TEG 패턴에서 SIMS 분석(depth : 1.5um)

- 금주 시료 발송예정이며, 자료 송부 후 유선으로 연락드리겠습니다.		 파워큐브세미(주) 부설연구소 서정윤 150,000원
2183 2020-12-08 12시 14시 GaO-Si, Sn 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 300,000원
2184 2020-12-14 10시 17시 GaO-Si, Sn 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 1,050,000원
2185 2020-12-15 10시 16시 GaO, TiO, 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 900,000원
2186 2020-12-15 16시 17시 AlO 분석 Outermost Technology General manager 이상민 150,000원
2187 2020-12-16 10시 17시 CVD-deposited a-SiC
원소(Si, C, H, B, P)별 concentration(Depth Profile)
시편은 un-doped 3개 ,B-doped 2개, P-doped 2개 입니다.

자세한 사항은 전화 드리겠습니다.		 주식회사 아르케 제조개발센터 사공성환 1,050,000원
2188 2020-12-18 10시 13시 포항공과대학교 창의IT융합공학과 최민근 405,000원
2189 2020-12-21 10시 16시 Al/Si-B 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 765,000원
2190 2020-12-23 9시 17시 2가지 시편에 대해 Phosphorus, boron 20um 깊이로 검출 부탁드립니다!
 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 1,080,000원
2191 2020-12-24 10시 16시 SiC-P 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2192 2021-01-04 13시 15시 Glass 샘플 상 Ag가 5nm 증착된 샘플에 대한 SIMS 측정 포스텍 첨단재료과학부 조원석 270,000원
2193 2021-01-06 14시 15시 Al/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 127,500원
2194 2021-01-08 13시 14시 GaAlN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 150,000원
2195 2021-01-11 13시 15시 Graphene on Ni/Cu 포항공과대학교 기계공학부 서정보 270,000원
2196 2021-01-11 15시 17시 시료 1번 먼저 측정 부탁드립니다
C 함량은 약 11~13 at.% 예상합니다.		 한국생산기술연구원 첨단표면공정그룹 허성보 300,000원
2197 2021-01-12 10시 14시 FTO, Al 분석 포항공과대학교 가속기연구소 이현휘 540,000원
2198 2021-01-13 10시 11시 p-Si 기판에 N-well implantaion한 것에 대한 특성 평가 진행하고 싶습니다. (Phosporus) 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 권민규 135,000원
2199 2021-01-14 9시 18시 Al/Si, SiN/SiO2/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,350,000원
2200 2021-01-15 9시 18시 Al/SiN/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,350,000원
2201 2021-01-18 9시 18시 Al/SiN/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,350,000원
2202 2021-01-19 9시 18시 Al/SiN/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,350,000원
2203 2021-01-20 9시 18시 Al/SiN/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,350,000원
2204 2021-01-21 10시 11시 DTBDT 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 김우조 135,000원
2205 2021-01-21 11시 20시 perovskite 분석 포항공과대학교 화학공학과 양석주 1,215,000원
2206 2021-01-21 9시 10시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 150,000원
2207 2021-01-22 9시 19시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2208 2021-01-25 9시 19시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2209 2021-01-26 9시 19시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2210 2021-01-27 10시 18시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,200,000원
2211 2021-01-28 10시 16시 Boron Phosphorus doped a-SiC Depth Profile
B-doped (3Ea)
P-doped (3Ea)
Furnace annealing SIMS 분석

자세한 시편정보는 메일로 보내 드리겠습니다.		 주식회사 아르케 제조개발센터 사공성환 900,000원
2212 2021-01-29 9시 18시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,350,000원
2213 2021-02-01 9시 21시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,800,000원
2214 2021-02-02 9시 21시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,800,000원
2215 2021-02-03 9시 21시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,800,000원
2216 2021-02-04 9시 21시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,800,000원
2217 2021-02-05 9시 21시 Al/SiN/Si분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,800,000원
2218 2021-02-08 13시 17시 Substrate : SiO2(300nm)/Si:B
Thin film : ZnO 20nm
측정 원소 : Zn, O, C, Na, Si 총 5 가지
4 가지 시료 모두 위 5 가지 원소 측정 부탁드립니다.
 강원대학교 재료공학과 이홍섭 600,000원
2219 2021-02-09 10시 18시 C/Cu 분석 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 1,200,000원
2220 2021-02-16 14시 16시 샘플: TiN(5 nm)/Ti (5 nm)/Ge 조각 샘플
#1: without carbon implantation
#2: with carbon implantation

분석 이온 : Ti, N, P, C, Ge		 포항공과대학교 전자전기공학과 박익수 255,000원
2221 2021-02-18 13시 17시 Si-P reference sample 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2222 2021-02-19 13시 17시 SOI 시편 Top Silicon Phosphorus 농도 확인 요청 드립니다. 포항공과대학교 전자전기공학과 곽현탁 540,000원
2223 2021-02-24 14시 17시 샘플: sapphire 기판 위 200-250nm 두께로 증착된 Ga2O3 film
측정 원소: C, Sn, Cl, Fe		 경북대학교 신소재공학부 전자재료공학과 강하빈 450,000원
2224 2021-02-25 10시 15시 Ni/Cu 분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 675,000원
2225 2021-03-02 9시 19시 SiN/SiO/Pt/Ta/SiO분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2226 2021-03-03 9시 19시 SiN/SiO/Pt/Ta/SiO분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2227 2021-03-04 9시 19시 SiN/SiO/Pt/Ta/SiO분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2228 2021-03-08 10시 14시 • Sample 1(직사각형): 450℃ 25min annealing @Furnace(N2) -> SIMS Depth Profile 분석
• Sample 2(절단시편): annealing 없이 SIMS Depth Profile 분석

• SIMS 분석: Si, C, H, P, B, O 분석(Depth Profile)
N-i-P Layer 형성 및 경계면 형성 유무
Dopant의 Layer별 침투 영향 분석(Intrinsic layer와 P, N layer interface 확인)
*자세한 사항은 자료 첨부 및 연락 드리겠습니다.		 주식회사 아르케 제조개발센터 사공성환 600,000원
2229 2021-03-09 10시 16시 C/CuNi 분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 810,000원
2230 2021-03-11 14시 16시 n-well implantation (phosphorus) 진행한 p-Si 기판의 원소 P profile 분석 요청 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 권민규 270,000원
2231 2021-03-16 13시 17시 SiC 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2232 2021-03-17 10시 18시 NiCu 분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 1,080,000원
2233 2021-03-18 13시 15시 SIMS 분석: Si, C, H, P, B, O 분석(Depth Profile)
N-i-P Layer 형성 및 경계면 형성 유무
Dopant의 Layer별 침투 영향 분석(Intrinsic layer와 P, N layer interface 확인)		 주식회사 아르케 제조개발센터 사공성환 300,000원
2234 2021-03-19 13시 15시 ZrCo/Li, NbCo/Li 분석 포항산업과학연구원 융합소재연구본부 은태희 300,000원
2235 2021-03-22 13시 14시 - 의뢰내용:n+ doping된 Si layer(12nm)의 doping profile 분석
- 분석원소: Si, Boron, Phosphorous, Oxygen(native oxide 고려)

-아래의 공정이 진행된 sample: n+ doping FD-SOI wafer piece(2.5cm*2.5cm) 1개

-초기 sample 조건: p type (Boron) doping Si(12nm)/SiO2(25nm)/Si(775um)

<초기 sample에 진행된 공정내용>
1)high current implantation -> 2)RTP

1)High current implantation
예상 Target concentration: 1E-20
Dopant: Phosphorus (n-type doping)
Dose량: 5E-15
가속 전압: 3KeV
tilt: 0도

2)RTP
30sec/1000도
 경북대학교 전자전기공학부 강재운 150,000원
2236 2021-03-29 10시 12시 Si Sample
검출 타겟: Phosphorous / Boron		 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 255,000원
2237 2021-03-29 13시 15시 CoFeB 분석 부산대학교 재료공학과 하윤근 300,000원
2238 2021-03-29 16시 17시 Al2O3분석 Outermost Technology General manager 이상민 150,000원
2239 2021-03-30 14시 16시 ITO/GaN 분석 포스텍 첨단재료과학부 조원석 270,000원
2240 2021-03-30 9시 10시 소자 구조 : glass / ITO(150) / PEIE(10) / active layer(200) / MoO3 (5) / Au (9) / MoO3 (40 nm)

분석 성분 : F, H, O, C, S, In, Au		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 김주희 135,000원
2241 2021-03-31 14시 15시 SiC-Al 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 120,000원
2242 2021-03-31 15시 18시 MoN/SiO2 분석 포항공과대학교 신소재공학과 허성재 405,000원
2243 2021-03-31 9시 14시 C/CuNi 분석 포항공과대학교 기계공학부 서정보 675,000원
2244 2021-04-05 10시 12시 Al/Si B분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2245 2021-04-06 10시 16시 Si / Ge / P
Si /B		 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 765,000원
2246 2021-04-07 10시 14시 전극분석 (주) 이너센서 이너센서 강문식 600,000원
2247 2021-04-13 10시 14시 InGaAs-Si, F 분석 경북대학교 전자공학부 백지민 600,000원
2248 2021-04-14 13시 15시 Si / B 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 255,000원
2249 2021-04-15 15시 17시 poly-Si, Al 분석 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이순형 270,000원
2250 2021-04-16 15시 16시 Al2O3/Si 분석 Outermost Technology General manager 이상민 150,000원
2251 2021-04-19 10시 17시 poly-Si 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 840,000원
2252 2021-04-20 10시 17시 poly-Si 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 840,000원
2253 2021-04-21 10시 17시 poly-Si 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 840,000원
2254 2021-04-22 10시 16시 SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 810,000원
2255 2021-04-22 16시 17시 W/MgO/SiTeAsGe/MgO/SiO2/Si 분석 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이장섭 135,000원
2256 2021-04-22 17시 18시 ZnO/InO/SiO2 분석 포항공과대학교 대학원 화학공학과 이주혁 135,000원
2257 2021-04-26 10시 16시 GaO분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 900,000원
2258 2021-04-27 10시 16시 Si/SiO2/Si분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2259 2021-04-29 10시 12시 샘플: sapphire 기판 위 200-250nm 두께로 증착된 Ga2O3 film
측정 원소: C, Sn, O, Ga

*샘플은 택배로 4/27일(대구) 발송할 예정입니다. 		경북대학교 신소재공학부 전자재료공학과 강하빈 300,000원
2260 2021-05-03 13시 14시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 120,000원
2261 2021-05-10 10시 14시 Si-Sb 분석 KEC FAB공정기술P 윤재명 600,000원
2262 2021-05-10 14시 20시 SiON/SiO/metal/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 900,000원
2263 2021-05-11 9시 19시 SiON/SiO/metal/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2264 2021-05-12 9시 19시 SiON/SiO/metal/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2265 2021-05-13 10시 14시 SiON/SiO/metal/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 600,000원
2266 2021-05-14 9시 19시 GaO-Si 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 1,500,000원
2267 2021-05-17 11시 12시 NH4+Hf/Si 분석 포항공과대학교 대학원 기계공학과 백종현 135,000원
2268 2021-05-17 13시 16시 Si / B SIMS 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 조현수 382,500원
2269 2021-05-17 9시 11시 Si기판 위에 MoS2박막을 올렸으며
depth profiling
top view분석을
Mo , S , Br, Si 원소에 대하여 진행하고자 합니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 김현준 270,000원
2270 2021-05-18 9시 19시 GaO-Si 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 1,500,000원
2271 2021-05-20 10시 12시 Cu, P depth profiling 포항공과대학교 환경공학부 한승목 270,000원
2272 2021-05-21 12시 14시 Si-C,O분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 240,000원
2273 2021-05-21 14시 15시 CoCrFeNiV+O 에 대해 depth profile 확인하고자합니다.
먼저 1포인트 확인하고자 합니다. 		포항공과대학교 신소재공학과 손수정 135,000원
2274 2021-05-24 13시 15시 SiO2/Pt/Ta 분석 (주) 이너센서 이너센서 강문식 300,000원
2275 2021-05-28 10시 16시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 720,000원
2276 2021-05-31 10시 15시 SIMS 원소분석: Ag

샘플 4개입니다.
감사합니다!		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 675,000원
2277 2021-05-31 11시 16시 MA-C 분석 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 675,000원
2278 2021-06-02 13시 16시 시편상태 : Dicing 된 SiC 공정 TEG 3종 (각 2ea, 총 6개)
요청사항 : SIMS doping profile 최소 2.5um 분석 (분석 포인트는 Al을 이용한 P+도핑)

상세정보는 메일의 PDF 자료 참고 부탁드립니다.		 파워큐브세미(주) 부설연구소 김화현 450,000원
2279 2021-06-04 10시 16시 SiO2/Si 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2280 2021-06-07 11시 12시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 120,000원
2281 2021-06-09 13시 17시 GaO/Al2O3분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 600,000원
2282 2021-06-11 13시 15시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 240,000원
2283 2021-06-14 13시 17시 GaO/Al2O3 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 600,000원
2284 2021-06-15 13시 14시 Al2O3/Si 분석 Outermost Technology General manager 이상민 150,000원
2285 2021-06-17 12시 18시 GaN 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2286 2021-06-21 10시 15시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 600,000원
2287 2021-06-22 10시 15시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 600,000원
2288 2021-06-23 13시 15시 MgO/SiTeAsGe/MgO/TiN 분석 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이장섭 270,000원
2289 2021-06-25 10시 13시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 360,000원
2290 2021-06-25 15시 17시 W/NiCu 분석 포항공과대학교 화학공학과조길원 교수님 연구소 박지상 270,000원
2291 2021-06-28 10시 18시 CNaOs/Cu 분석 RIST 분석평가센터 정세훈 1,200,000원
2292 2021-06-29 10시 18시 SiO2 불순물 분석 RIST 분석평가센터 정세훈 1,200,000원
2293 2021-06-30 10시 17시 SiO2 불순물 분석 RIST 분석평가센터 정세훈 1,050,000원
2294 2021-06-30 17시 19시 SIMS depth profile (Co, Cr, Fe, Ni, V, O, Cl) 이온에 대해 분석 요청드립니다.
동일 시편 2 포인트 실험 진행하고자 합니다. 		포항공과대학교 신소재공학과 손수정 270,000원
2295 2021-07-01 14시 17시 Si-C,O 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 360,000원
2296 2021-07-07 10시 16시 poly-Si 불순물 분석 나노융합기술원 기술지원팀 강민재 720,000원
2297 2021-07-13 9시 19시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 1,500,000원
2298 2021-07-14 9시 19시 GaN LED 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 1,500,000원
2299 2021-07-15 9시 11시 CsPbI 분석 포항공과대학교 화학공학과 이대환 270,000원
2300 2021-07-16 10시 14시 P-i-N 구조 a-SiC Doping Concentration Depth Profile 분석

시편의 자세한 내용은 e-mail로 보내 드리겠습니다. 		주식회사 아르케 제조개발센터 사공성환 600,000원
2301 2021-07-19 9시 21시 SI-B, P 분석 파워마스터반도체 주식회사 공정기술팀 기종 1,620,000원
2302 2021-07-22 10시 12시 안녕하세요.

W/GdOx/HfOx/PrCaMnO 구조에서 깊이에 따른 산소의 조성을 확인하고자 합니다.

2개의 소자에대해서 동일하게 분석 하고자합니다.

2개의 소자는 1개의 die 위에 모두 증착되어있습니다. 		포항공과대학교 신소재공학과 이철준 270,000원
2303 2021-07-22 12시 17시 W/CuNi 분석 포항공과대학교 화학공학과조길원 교수님 연구소 박지상 675,000원
2304 2021-07-26 10시 16시 Si-B reference sample 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2305 2021-07-30 10시 15시 (Top) H-doped IGZO 30nm / Al2O3 20nm / Mo / SiO2 substrate (Bottom)

으로 되어있는 박막 5개의 depth profile 분석 요청합니다.
원하는 원소는 H, O, In, Ga, Zn, Al 입니다.		 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이규민 675,000원
2306 2021-08-02 10시 12시 Ta/CuNi 분석 포항공과대학교 화학공학과조길원 교수님 연구소 박지상 270,000원
2307 2021-08-03 10시 12시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2308 2021-08-03 14시 16시 Si-P,As 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2309 2021-08-10 13시 15시 Si-P,As분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2310 2021-08-11 10시 12시 P-i-N SiC Doping concentration Depth Profile
- P-type a-SiC/ intrinsic a-SiC/n-type a-SiC/Glass 구조입니다.
- 각 경계면 형성 및 상태 확인을 위한 분석 입니다.
- 분석 시편은 1개 입니다.		 주식회사 아르케 제조개발센터 사공성환 300,000원
2311 2021-08-12 9시 18시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,350,000원
2312 2021-08-19 10시 16시 Si-P refence sample 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2313 2021-08-23 10시 11시 AlO/Si 분석 Outermost Technology General manager 이상민 150,000원
2314 2021-08-23 13시 18시 GaO 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 750,000원
2315 2021-08-24 10시 18시 SiN/SiO/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,200,000원
2316 2021-08-25 10시 18시 SiN/SiO/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,200,000원
2317 2021-08-26 10시 18시 SiN/SiO/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,200,000원
2318 2021-08-27 10시 18시 SiN/SiO2/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,200,000원
2319 2021-08-30 11시 16시 SiN/SiO2/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 750,000원
2320 2021-08-31 12시 16시 TiN/Ti/TiO2/Si 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 이동훈 480,000원
2321 2021-09-03 13시 14시 W/WOx/HfOx/WOx/SiO2
구조에대한 SIMS 분석을 진행하고자 합니다.		 포항공과대학교 신소재공학과 이철준 135,000원
2322 2021-09-13 10시 12시 Si, O, Sn, I, Na, Au 분석 포항공과대학교 대학원 화학공학과 고지영 270,000원
2323 2021-09-14 14시 18시 SI-B reference sample 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2324 2021-09-14 9시 13시 TiN/Al2O3 분석 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 600,000원
2325 2021-09-17 10시 16시 Si- P reference sample 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2326 2021-09-24 10시 14시 Si-P, B 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2327 2021-10-01 11시 13시 Ni & Cu on sapphire wafer 포항공과대학교 기계공학부 서정보 270,000원
2328 2021-10-12 9시 18시 TiN, a-Si 분석 포항공과대학교 기계공학과 양영환 1,147,500원
2329 2021-10-13 9시 12시 전자전기공학과, 윤주영(010-2768-0418) 포항공과대학교 전자전기공학과 윤주영 405,000원
2330 2021-10-14 14시 16시 시료당 분석 원소는

Sn, Ga, O, Cl 이렇게 4개로 부탁드립니다.		 경북대학교 신소재공학과 전자재료전공 강하영 300,000원
2331 2021-10-18 14시 17시 GaN LD 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 450,000원
2332 2021-10-19 10시 16시 나노선 Boron / Phosphorus 도핑농도 확인 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 765,000원
2333 2021-10-20 10시 11시 안녕하세요.
포항공대 노준석 교수님 실험실에 양영환입니다.
이전에 TiN 시편 분석 의뢰를 했었는데, 비슷한 방식으로 한번 더 TiN 의뢰를 하려고 합니다 .
저번과 달라진점은 기판이 Silicon으로 변경된 점과, 증착은 NINT에서 ALD로 진행되었다는 점입니다.
분석을 요하는 원소는 Ti와 N이며, 이전에 의뢰했던 sputter로 증착된 TIN과 비교하는것이 목적입니다.

시편은 10월 19일 저녁에 시편보관함 안에 넣어두겠습니다.
추가적으로 필요하신 정보 있으면 연락부탁드립니다.
감사합니다.
포항공과대학교 기계공학과 양영환 127,500원
2334 2021-10-20 15시 17시 전화로 문의드렸던 서울대학교 전기정보공학부 박사과정 황성민입니다.

연구비 지출이 인하대학교로 해야하는 상황이라 인하대학교 김형진 교수님 계정으로 의뢰신청합니다.

패터닝이 되어 있는 샘플이라 depth 분석을 위한 부분은 이메일로 첨부해드리겠습니다.

감사합니다.
 인하대학교 전자공학과 김형진 300,000원
2335 2021-10-20 9시 10시 source drain implantation 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이순형 135,000원
2336 2021-10-25 10시 16시 Si-P, B 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 810,000원
2337 2021-10-26 10시 14시 Al/HfO/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 540,000원
2338 2021-10-27 10시 14시 실리콘 도핑농도 측정 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 510,000원
2339 2021-11-01 13시 23시 암석 S 분석 포항공과대학교 IBB 최지민 1,350,000원
2340 2021-11-04 15시 17시 CaCO3에서 S분석 포항공과대학교 IBB 최지민 270,000원
2341 2021-11-04 9시 14시 Cu2ZnSnS4 박막의 깊이에 따른 원소함량 분석

Cu, Zn, Sn, S, Na		 대구대학교 물리교육과 홍성욱 750,000원
2342 2021-11-05 9시 19시 PZT분석
나노융합 기반 고도화 사업		 나노콘 나노콘연구소 조윤빈 1,500,000원
2343 2021-11-08 9시 11시 GaN-LD 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2344 2021-11-09 9시 19시 압력센서 분석

나노융합 기반 고도화 사업		 나노콘 나노콘연구소 조윤빈 1,500,000원
2345 2021-11-10 15시 18시 - 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 382,500원
2346 2021-11-10 18시 20시 전자과 박혁,윤주영

0.5 nm/point로 Al, O, C, In, Ga, Zn 분석 부탁드립니다.		 포항공과대학교 전자전기공학과 성수원 270,000원
2347 2021-11-10 9시 15시 Si-GaO/Fe-GaO 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 900,000원
2348 2021-11-11 9시 19시 압력센서 분석
나노융합 기반 고도화 사업		 나노콘 나노콘연구소 조윤빈 1,500,000원
2349 2021-11-12 9시 19시 Al/SiN/SiO2/Si 불순물 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2350 2021-11-13 9시 19시 Al/SiN/SiO2/Si 불순물 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2351 2021-11-14 14시 17시 Si-P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 382,500원
2352 2021-11-15 9시 19시 SiC-N 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 1,200,000원
2353 2021-11-16 10시 14시 [나노인프라 활용 중소기업 나노기술 응용제품 제작지원사업], 전자과 이동훈(010.6763.7749) 포항공과대학교 전자전기공학과 이정수 480,000원
2354 2021-11-18 13시 16시 Al/SiN/SiO2/Si 불순물 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 450,000원
2355 2021-11-18 9시 12시 beta-Ga2O3 웨이퍼 기판(10x15 mm 조각)에 Si 이온주입한 샘플입니다.
depth profile 3points(2매) 분석하려 합니다.
타겟 원소는 Ga, O, Fe, Si 입니다.

유선상으로 말씀드린대로 당일 출발시 전화드리도록 하겠습니다.		 한국전자통신연구원 RF/전력부품연구실 류희중 450,000원
2356 2021-11-19 9시 19시 Al/SiN/SiO2/Si 불순물 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2357 2021-11-20 10시 12시 IGZO/SiO2/Si 분석 포항공과대학교 전자과 서태원 270,000원
2358 2021-11-20 13시 19시 Pt, B 분석 KEC FAB공정기술P 윤재명 900,000원
2359 2021-11-21 11시 17시 Pt, B 분석 KEC FAB공정기술P 윤재명 900,000원
2360 2021-11-21 18시 20시 IGZO -H 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 윤주영 270,000원
2361 2021-11-22 9시 19시 Al/SiN/SiO2/Si 불순물 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2362 2021-11-23 9시 19시 SiN/SiO2/Si 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2363 2021-11-24 10시 16시 SIMS 분석 KEC FAB공정기술P 윤재명 900,000원
2364 2021-11-25 10시 16시 PtBSi분석 KEC FAB공정기술P 윤재명 900,000원
2365 2021-11-27 09시 19시 Al/SiN/SiO2/Si 불순물 분석 타이코에이엠피 연구소 홍표환 1,500,000원
2366 2021-12-01 10시 17시 B-Te 박막과 B-Te에 Silicon 도핑한 샘플에 대해서 정량분석하는 목적입니다.
(모든 박막은 30nm 정도 증착되었습니다)
1번 부터 4번 까지는 Boron함량이 많아지는 방향이고
5번 부터 7번 까지는 Silicon함량이 많아지는 방향입니다.
1. B100/Te7
2. B200/Te7
3. B200/Te6
4. B200/Te5
5. B200/Te7/Si20
6. B200/Te7/Si30
7. B200/Te7/Si40

 포항공과대학교 신소재공학과 반상현 945,000원
2367 2021-12-02 10시 12시 Si-B,P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 255,000원
2368 2021-12-02 15시 17시 sample 정보: 50nm Si / 500nm Ge / Si wafer 분석 목적: Ge 내부 B 농도 , Si 내부 B, P , As, Sb 농도. 국민대학교 신소재공학부 강명군 300,000원
2369 2021-12-06 10시 12시 샘플 2개 SIMS 측정 의뢰드립니다.

샘플 1: Sn, I, F, Si
샘플 2: Sn, I, F, Sb, Si

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 270,000원
2370 2021-12-06 13시 18시 perovskite/TiO2 분석 포항공과대학교 화학공학과 이대환 675,000원
2371 2021-12-07 10시 14시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 600,000원
2372 2021-12-07 17시 19시 1. Split #1

- Stacked : GaN cap(0.5nm) / AlGaN(20.2nm) / GaN channel(150nm) / GaN buffer(?) / SiC sub

- Analyzing Elements : Ga, Al, Si, O, C, down to buffer (~ 1um depth)

2. Split #2

- Stacked : In-situ SiNx(8nm) / GaN cap(3.6nm) / AlGaN(23.7nm) / GaN channel(200nm) / GaN buffer(500nm) / GaN sub

- Analyzing Elements : Ga, Al, Si, O, C, down to buffer (~ 1um depth)		 RFHIC HEXA본부 금동민 300,000원
2373 2021-12-08 12시 18시 1차 분석 : 영역 Mapping 분석
2차 분석 : 영역 Line scan 분석		 (주)심텍 제품개발 FA파트 박영호 900,000원
2374 2021-12-09 10시 19시 GaO분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 1,350,000원
2375 2021-12-10 10시 12시 안녕하세요.
포항공대 노준석 교수님 실험실 양영환입니다.
실리콘 기판위에 a-SI:H가 1um 증착되어 있는 시편의 SIMS를 찍고 싶습니다.

저번에 a-Si:H를 하나 찍었었는데, 아래 조건이랑 동일하게 진행을 원합니다.
Cs+ Gun, Impact Energy: 5keV, Current: 40nA, Raster Size: 200㎛×200㎛,
Analysis Area: 33um(Φ), Detected Ion: 12C, 16O, 85Rb, 107Ag, 120Sn, 127I, 133Cs, 208Pb

분석을 원하는 원소의 종류는 1H, 16O, 28Si, 40Ar 입니다.

시편은 시편보관한 안에 \\\\\\\'양영환\\\\\\\'이름으로 넣어두겠습니다.
감사합니다.		 포항공과대학교 기계공학과 양영환 255,000원
2376 2021-12-10 13시 15시 샘플 2개 SIMS 측정 의뢰드립니다.

샘플 1: Bi, S
샘플 2: Bi, S

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 270,000원
2377 2021-12-13 9시 18시 Al2O3분석 국가핵융합연구소 국가핵융합연구소/전류구동연구팀 이현영 1,350,000원
2378 2021-12-14 13시 16시 BrS/Si 분석 POSTCH 화학공학과 박상아 405,000원
2379 2021-12-15 14시 16시 SIMS 원소 분석 의뢰드립니다.

샘플은 2개입니다.

샘플 1: Bi, S, Hf, O
샘플 2: Bi, S, Hf, O

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 270,000원
2380 2021-12-21 10시 18시 나노융합 소자공정 및 측정분석 실습교육과정(4.0021910.01)
나노 소자 공정&측정 일자리 연계교육 		나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,200,000원
2381 2021-12-21 9시 10시 Quartz substrate의 깊이에 따른 원소 분석
(Si, O, Al)		 포항공과대학교 화학과 조혜연 135,000원
2382 2021-12-22 10시 13시 나노융합 소자공정 및 측정분석 실습교육과정(4.0021910.01)
나노 소자 공정&측정 일자리 연계교육 		나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 460,000원
2383 2021-12-24 10시 15시 안녕하세요. 현대자동차 조병규라고 합니다.
SIMS 성분분석장비에 대해 몇가지 문의드립니다.

- 분석 샘플
: 기판/ITO(30nm)/SiO2(100nm)/TiO2(30nm)/SiO2(100nm) 3층 증착 + 불소코팅(30nm)
: 기판/ITO(30nm)/SiO2(500nm)/SiO2(500nm) 2층 + 불소코팅 (30nm)
: 상기 2가지 사양을 증착 조건 별 샘플 (총 6종류)

- 희망 분석내용
: 깊이 별 Si,O,Ti 농도비 분석 (SiOx , TiOx 로 표현 가능한지?)
: 불소코팅 표면 CF 화학결합 성분 비교
→ 증착 조건 별 성분원소 농도비 비교
→ 평가 고품과 신품 간 차이 비교

: SiO2/SiO2 계면에 중간층 형성 여부 확인


- 문의사항
: 증착층 기판으로 실리콘기판 外 유리기판도 가능한지?
: 평가 고품을 현미경으로 관찰한 후, 변색된 영역과 변색되지 않은 영역 간 성분원소 비교 가능한지?
: 성분원소 정량적 분석을 위한 SiO2 등 표준샘플이 있는지?

상기 메일주소는 동료 메일주소이므로, cbk114@hyundai.com으로 회신주시면 감사드리겠습니다.		 현대자동차 전기전자재료개발팀 하재환 750,000원
2384 2021-12-27 10시 14시 FTO기판 위에 SnO2 층을 올려놓은 샘플입니다.

Depth profile 말고 표면에 Sn, O, Cl 위주로 분석 부탁드립니다.		 경희대학교 화학공학과 김종선 600,000원
2385 2021-12-27 15시 16시 SiGe/Si O분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 135,000원
2386 2021-12-28 10시 16시 조각 2개
Ag 표면에 산화된 Ag2O 두께 측정		 포항공과대학교 전자전기공학과 최원영 720,000원
2387 2022-01-10 13시 16시 SiO2 분석 현대자동차 전기전자재료개발팀 조병규 450,000원
2388 2022-01-11 10시 14시 deposited Ni on Cu
4가지 샘플		 포항공과대학교 기계공학과 안주환 540,000원
2389 2022-01-12 10시 12시 SIMS 측정 의뢰드립니다.

샘플은 필름 2개이며 측정 원소는 Sn, I, F, Si, O 총 5개입니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 270,000원
2390 2022-01-13 10시 12시 HfO/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2391 2022-01-14 10시 18시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,200,000원
2392 2022-01-17 10시 15시
1. Split #1

- Stacked : - Stacked : In-situ SiNx (?) / AlGaN(25nm) / GaN channel(300nm) / GaN buffer(1.1um) / SiC sub

- Analyzing Elements : Ga, Al, Si, O, C, down to buffer (~ 1um depth)

2. Split #2

- Stacked : In-situ SiNx(8nm) / GaN cap(3.6nm) / AlGaN(23.7nm) / GaN channel(200nm) / GaN buffer(500nm) / GaN sub

- Analyzing Elements : Ga, Al, Si, O, C, down to buffer (~ 1um depth)

3. Split #3

- Stacked : In-situ SiNx(8nm) / GaN cap(3.6nm) / AlGaN(23.7nm) / GaN channel(200nm) / GaN buffer(500nm) / GaN sub

- Analyzing Elements : Ga, Al, Si, O, C, down to channel (~ 250nm depth)


1,2 번의 경우는 빠른 속도로 Buffer 층까지 보았으면 하고, 3 번의 경우는 2번가 같은 Epi. layer 로 구성되어 있으며, sputtering 속도를 낮추어 Active 영역의 정확도를 높여서 보고자 합니다.		 RFHIC HEXA본부 금동민 750,000원
2393 2022-01-18 10시 15시 안녕하세요. 유선상으로 Single Crystal SIMS 측정 문의드린 화학공학과 노용영교수님 연구실 노유진입니다.

샘플은 총 8개이며 5mm 두께 미만으로 준비하겠습니다.

측정할 원소는 I, Pb, Rb, C, H, N 입니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 675,000원
2394 2022-01-21 13시 14시 Si, O, C, N, Mo 에 대한 sputtering time에 따른 intensity를 보고자 합니다. 에스앤에스텍 EUV Pellicle 개발팀 이승조 150,000원
2395 2022-01-24 10시 14시 Cs e-gun 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2396 2022-01-25 10시 14시 Cs e-gun 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2397 2022-02-17 12시 17시 i would like to measure 5 perovskite samples 포항공과대학교 대학원 Chemical Engineering Abd Rashid 675,000원
2398 2022-02-21 10시 22시 CZTS-He, Ne, Ar 분석 대구대학교 물리교육과 홍성욱 1,800,000원
2399 2022-02-22 11시 14시 CZTS-He, Ne, Ar 분석 대구대학교 물리교육과 홍성욱 450,000원
2400 2022-02-22 14시 22시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 1,200,000원
2401 2022-02-22 9시 11시 Cu side & Cu/Ni side (C, O, Cu, Ni 성분 분석) 포항공과대학교 기계공학과 안주환 270,000원
2402 2022-02-23 10시 14시 1) black TiO2 nanotube 샘플과 2) phenol 이 처리된 black TiO2 nanotube 샘플의 SIMS 분석을 요청 드립니다.
두 샘플 모두 두번씩 분석 부탁드립니다.

두 샘플의 48Ti, 16O, 12C 분석을 하고자 합니다.
참고 데이터는 샘플과 함께 택배로 보내드리겠습니다.
(택배는 성신여대 임종훈 교수님이 보내주실 예정 입니다.)		 충남대학교 에너지과학기술대학원 신혜영 600,000원
2403 2022-02-23 15시 18시 AlN/Al2O3 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 450,000원
2404 2022-02-24 10시 12시 Cu/Ni foil 표면 Ni contenst 및 산화정도 파악 (C, O, Cu, Ni) 포항공과대학교 기계공학과 안주환 270,000원
2405 2022-02-24 13시 17시 1. 측정 목적 :
가. 박막 시료의 표면으로부터 기판까지의 Depth profile 분석
나. Ti layer의 Oxidation 관련 Oxide 분석
2. 측정 시료 : Slide galss위에 3 Layer로 증착 된 박막 (Slide glass / Cu / Ti / Cu)
3. 시료수 : 4개		 (주)AVACO 신기술개발실 신기술그룹 김현동 600,000원
2406 2022-02-25 13시 15시 Co, W, O, P에 대한 depth profiling 부탁드립니다. 포항공과대학교 화학공학과 김도경 270,000원
2407 2022-02-25 9시 11시 Phosphorus 농도 측정 부탁드리겠습니다. 포항공과대학교 창의IT융합공학과 최민근 255,000원
2408 2022-02-28 11시 19시 Si-P 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 1,080,000원
2409 2022-03-02 13시 15시 WO/W Co, P 분석 포항공과대학교 화학공학과 김도경 270,000원
2410 2022-03-07 13시 22시 Si - P 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 1,215,000원
2411 2022-03-08 11시 14시 Si-P 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 405,000원
2412 2022-03-11 15시 17시 Ni/GaO 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2413 2022-03-15 13시 17시 Ni/GaO 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2414 2022-04-06 11시 17시 GaAs 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 900,000원
2415 2022-04-07 10시 14시 GaN LED 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2416 2022-04-07 16시 17시 AlGaN/AlN/Al2O3 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 150,000원
2417 2022-04-11 13시 17시 GaAs/InGaAs 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2418 2022-04-12 10시 14시 TiN/Al2O3/Al 분석 포항공과대학교 화학공학과 고명철 540,000원
2419 2022-04-12 15시 16시 Si-B 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 135,000원
2420 2022-04-13 14시 16시 ITO/SiTeAsGe/W 분석 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이장섭 270,000원
2421 2022-04-19 12시 16시 GaN 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2422 2022-04-25 9시 19시 Si-B, Al 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 1,350,000원
2423 2022-04-26 9시 19시 Si-B, Al 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 1,350,000원
2424 2022-04-28 9시 19시 Si-P, As 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 1,350,000원
2425 2022-04-29 10시 16시 NiAl/SiC 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 810,000원
2426 2022-05-03 9시 19시 Si-P, As 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 1,350,000원
2427 2022-05-09 11시 13시 NiCu 분석 포항공과대학교 기계공학과 안주환 255,000원
2428 2022-05-11 10시 14시 GaAs 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2429 2022-05-20 12시 14시 phosphorus doping한 Si 시편 입니다. (조각웨이퍼 1x1 size)

표준시료를 통해서
depth vs concentration 정량 평가를 요청드립니다.
연세대학교 물리학과 성연우 300,000원
2430 2022-05-23 13시 14시 시편은 P-type SOI 기판에 P 이온 주입이 되어있는 상태라 depth profile을 얻길 원합니다.

Size: SOI 조각(1cmx1cm): Si(4.5um)/SiO2 (400nm)/Si (500um)
수량 1매 입니다		 숭실대학교 전자공학과 이찬호 150,000원
2431 2022-05-23 14시 17시 . 포항공과대학교 화학과 조혜연 405,000원
2432 2022-05-27 12시 14시 G+P 분석 포항공과대학교 기계공학과 양희찬 255,000원
2433 2022-05-27 9시 11시 PZT 분석 포항공과대학교 대외협력팀 김인철 270,000원
2434 2022-05-30 10시 14시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
2435 2022-05-31 17시 19시 PZT 분석 포항공과대학교 대외협력팀 김인철 270,000원
2436 2022-05-31 9시 17시 포항공과대학교 창의IT융합공학과 최민근 1,020,000원
2437 2022-06-03 13시 17시 High aspect ratio의 Al2O3 nanoporous구조에 TiN을 ALD하였습니다.
15 um까지 분석 의뢰드립니다.
성분의 경우 Ti, N, Al, O 이렇게 4개입니다.


감사드립니다.		 포항공과대학교 화학공학과 고명철 540,000원
2438 2022-06-07 10시 18시 Al/Si B, P, As분석 KEC FAB공정기술P 윤재명 1,200,000원
2439 2022-06-08 9시 17시 P2O5 Wafer 산포 SIMS 분석 KEC FAB공정기술P 윤재명 1,200,000원
2440 2022-06-14 9시 19시 시편 2개

Y2O3 on Al2O3 substrate

기판까지 Profile , 확인 성분 : Y, O, F, Al		 (주)코미코 AD코팅개발팀 최찬호 1,500,000원
2441 2022-06-15 10시 19시 NiO/Ti, Pt/Al2O3, Pt/TiO2 분석 포항공과대학교 신소재공학과 황인용 1,215,000원
2442 2022-06-21 11시 12시 UO2F2 시료 성분 분석 (U, O, F, UO2F2) 한국원자력연구원 하나로이용부 권진형 150,000원
2443 2022-06-22 10시 12시 Steel image 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2444 2022-06-22 13시 15시 steel image scan (주)포스코(포스코기술연구원) 친환경차용NO개발그룹 김재훈 300,000원
2445 2022-06-23 16시 17시 Pt/Ta/Ti/SiO2 분석 (주)이너센서 경영, 연구소 강문식 120,000원
2446 2022-06-24 10시 15시 3매 모두 Ga2O3 기판 조각샘플입니다.
Si 이온주입 공정이 진행되었습니다.
위에 증착된 SiO2 또는 SiN이 증착된 조건에 따라 실제 들어간 Si의 프로파일 및 농도를 확인하려합니다.

자세한 정보는 이메일로 다시 한번 연락드리겠습니다.		 한국전자통신연구원 RF/전력부품연구실 류희중 750,000원
2447 2022-06-27 11시 12시 [나노융합기반 고도화사업]
Pt/Ta/Ti/SiO2 분석

※ 22.06.27 / 11:00~12:00 / 120,000원 : 나노융합기반 고도화사업 청구를 위해 분할 신청 및 청구를 진행함 (84,000 + 36,000)
=>36,000원은 일반청구 진행		 (주) 이너센서 이너센서 강문식 84,000원
2448 2022-06-27 11시 12시 [나노융합기반 고도화사업]
Pt/Ta/Ti/SiO2 분석

※ 22.06.27 / 11:00~12:00 / 120,000원 : 나노융합기반 고도화사업 청구를 위해 분할 신청 및 청구를 진행함 (84,000 + 36,000)
=>36,000원은 일반청구 진행		 (주) 이너센서 이너센서 강문식 36,000원
2449 2022-06-27 11시 12시 Pt/Ta/Ti/SiO2 분석 (주)이너센서 경영, 연구소 강문식 120,000원
2450 2022-06-27 14시 16시 Pt, K, C, Al 원소 분석 (Depth profiling) 포항공과대학교 환경공학부 한승목 270,000원
2451 2022-06-29 12시 16시 LED 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2452 2022-07-04 13시 14시 Depth profile analysis 한국원자력연구원 하나로이용부 권진형 150,000원
2453 2022-07-05 11시 15시 Steel 이미지 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 540,000원
2454 2022-07-06 13시 15시 Semi-insulating GaN 기판의 C, N, Ga, O 성분 분석 (C 성분은 무조건 해야합니다)

* 한번에 측정이 불가능한 성분이 있으면 알려주시기 바랍니다.
* 측정시료는 2개~3개 (2개로 예상되지만 1개가 추가로 갈 수 있습니다)		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2455 2022-07-13 11시 15시 steel 이미지 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 540,000원
2456 2022-07-14 10시 16시 Si-B, Ni 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 권민규 765,000원
2457 2022-07-14 16시 18시 Al2O3-Zr,Ce 분석 포항공과대학교 신소재공학과 황인용 270,000원
2458 2022-07-15 15시 16시 69Ga14N, 12C, 27Al, 28Si 성분분석 요청

지난 5월에 전성란 박사님께서 의뢰하신 구조와 동일 구조입니다.

참조하시어 분석 진행 부탁드립니다. 		주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 150,000원
2459 2022-07-18 9시 19시 총 샘플 8개 (4개 x 2가지 조건)

분석 성분 : Si, P, B, As, Ni
각 샘플당 2 point씩

측정 위치는 방문하여 말씀드리겠습니다.		 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 권민규 1,275,000원
2460 2022-07-19 10시 14시 NiSi/N-well/Si 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 권민규 510,000원
2461 2022-07-19 14시 18시 Steel image scan (주)포스코(포스코기술연구원) 강재연구소 열연선재연구그룹 김대환 600,000원
2462 2022-07-20 14시 16시 69 Ga, 69Ga14N, 12C, 18O 4개의 성분분석 요청

- 시료 2개
(시료명을 분석 후에 잘 적어주시기 바랍니다. 런번호)
 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2463 2022-07-21 9시 15시 Si 불순물 분석 나노융합기술원 공정지원팀 김동은 720,000원
2464 2022-07-25 13시 16시 Detecting 원소: Cu, Ni, Mo, Si, O 포항공과대학교 화학과 조혜연 405,000원
2465 2022-07-26 14시 19시 SiGe/Si 산화층 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 675,000원
2466 2022-07-28 10시 16시 GaN LED분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 900,000원
2467 2022-07-29 10시 12시 * Epi Wafer 정보 : GaN LED

* Al, In, Ga, N, Mg, Si, O 분석 진행 부탁드립니다.		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2468 2022-07-29 14시 18시 총4개 sample
#2,#3 : 300nm Ge / Si sub
Ge내부 P 농도 측정

#4,#5: 400nm PSG(phosphosilicate glass) / 300nm Ge / Si sub
PSG, Ge 내부 P 농도 측정		 국민대학교 신소재공학부 강명군 600,000원
2469 2022-08-01 13시 16시 ZnO/TiN/FTO 분석 포항가속기연구소 빔라인부 성낙언 405,000원
2470 2022-08-03 10시 12시 sampe 정보:
300nm Ge / n+ Si wafer

Ge내 P, O 농도 측정 부탁드립니다.		 국민대학교 신소재공학부 강명군 300,000원
2471 2022-08-04 10시 12시 SIMS 측정 의뢰드립니다.

샘플은 필름 2개이며 측정 원소는 Te, O, Se, Si 총 4개입니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 270,000원
2472 2022-08-09 12시 16시 Al2O3 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2473 2022-08-10 10시 16시 UO 필터 분석 한국원자력연구원 하나로이용부 권진형 900,000원
2474 2022-08-16 13시 17시 GaO 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2475 2022-08-17 16시 17시 UO 분석 한국원자력연구원 하나로이용부 권진형 150,000원
2476 2022-08-18 13시 17시 GaO 분석 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2477 2022-08-22 9시 24시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 2,250,000원
2478 2022-08-23 19시 20시 측정 후 wo125@postech.ac.kr으로 자료 요청 부탁드립니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 신소재공학과 우승준 135,000원
2479 2022-08-23 4시 19시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 2,250,000원
2480 2022-08-24 19시 20시 정량분석, Carbon, Copper, Oxygen 포항공과대학교 화학과 최명근 135,000원
2481 2022-08-24 9시 19시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2482 2022-08-25 19시 21시 Si-B,P 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 255,000원
2483 2022-08-25 9시 19시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2484 2022-08-26 19시 20시 SiO2 기판위 약 80 nm 두께의 ZnO 박막에 대해 SIMS 분석을 요청드립니다.
ZnO film 내 Te 성분이 존재하는지 확인하고자 합니다. 		포항공과대학교 신소재공학과 이철준 135,000원
2485 2022-08-26 20시 21시 - 기판 : 실리콘
- 분석 원소 : Ga, N
- 예상 두께 : ~30A
- 분석 내용 : GaN 물질이 형성되었는지 확인하고자 함. 		주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 150,000원
2486 2022-08-26 9시 19시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2487 2022-08-29 9시 19시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 1,500,000원
2488 2022-08-31 15시 17시 InP/InGaAs/InP 분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 300,000원
2489 2022-09-01 10시 12시 Steel image 분석 (주)포스코(포스코기술연구원) 친환경차용NO개발그룹 김재훈 300,000원
2490 2022-09-01 15시 16시 Li, Si, Ge, P, O, C에 대하여 3um 측정을 부탁드립니다.
 포항공과대학교 신소재공학과 우승준 135,000원
2491 2022-09-02 10시 14시 HZO 박막 SIMS 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 김승모 510,000원
2492 2022-09-06 13시 14시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 150,000원
2493 2022-09-06 14시 18시 Pt 패턴 부분부터 측정을 의뢰드리겠습니다. 저번과 같이 HZO 박막이고, PPT자료를 메일로 보내드렸습니다. 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 김승모 510,000원
2494 2022-09-07 13시 17시 SIMS 측정: Sample수는 조금 더 추가 될 수 있을 것 같습니다. 아주대학교 전자공학과 문성현 600,000원
2495 2022-09-08 14시 18시 HZO 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 김승모 510,000원
2496 2022-09-13 10시 12시 Si-P, B 분석 포항공과대학교 창의IT융합공학과 유형석 255,000원
2497 2022-09-13 15시 16시 SI-P 분석 아주대학교 전자공학과 문성현 150,000원
2498 2022-10-04 11시 13시 분석원소 : Mg, In, Al, Ga, N, Si 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2499 2022-10-04 13시 18시 Analyzing Elements : Ga, Al, Si, O, C, down to Substrate (~ 2um depth) RFHIC HEXA본부 금동민 750,000원
2500 2022-10-04 9시 11시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2501 2022-10-05 10시 14시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 600,000원
2502 2022-10-05 15시 17시 2개의 CuI doped perovskite film 간의 비교분석.
표면의 Cu의 concentration이 어떻게 다른가가 주요 관점		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노태완 270,000원
2503 2022-10-06 10시 16시 Pt/HfZrO/SiO2 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 김승모 765,000원
2504 2022-10-07 10시 16시 SiGe/Si 산화층 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 서경민 810,000원
2505 2022-10-11 10시 16시 GaAs-Zn, InP-Zn 분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 900,000원
2506 2022-10-12 10시 14시 Steel image scan 포항공과대학교 물리분석팀 김성규 540,000원
2507 2022-10-14 8시 18시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2508 2022-10-17 10시 18시 SiC 분석 주식회사 아르케 연구소 박준용 1,200,000원
2509 2022-10-18 10시 20시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2510 2022-10-18 8시 10시 . 포항공과대학교 화학과 조혜연 270,000원
2511 2022-10-19 11시 20시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,350,000원
2512 2022-10-19 8시 11시 SiC - N 분석 에스티아이 에스티아이 최규채 450,000원
2513 2022-10-20 11시 20시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,350,000원
2514 2022-10-20 8시 11시 sampe 총 5개
#1-1 , #2-1
sample 구조: 70nm SiO2/ 400nm PSG/ 300nm Ge / Si wafer
분석: PSG내 P, O 농도 측정

#1-2. #2-2, #3
sample 구조: 300nm Ge / Si wafer
분석: Ge 내 P, O농도 측정		 국민대학교 신소재공학부 강명군 450,000원
2515 2022-10-21 18시 23시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 800,000원
2516 2022-10-21 8시 19시 Sims의뢰시편 등기 보냈습니다. 1~2일 내로 도착예정입니다.
시편 구성은 총 11개로 다음과같습니다.

1-a,1-b/2-a,2-b/3-a,3-b/4-a,4-b/5/6-a,6-b
(a는 열처리 전, b는 열처리 후)

시편이 많고 샘플의 순서가 섞이면 안됩니다..

depth 방향의 phosphorus dopant concentration 평가를 요청드립니다.(표준시료를 통하여)
감사합니다.

성연우 드림. 		연세대학교 물리학과 성연우 1,650,000원
2517 2022-10-24 13시 17시 MCs+ 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 540,000원
2518 2022-10-25 9시 19시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2519 2022-10-26 9시 19시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2520 2022-10-27 9시 19시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2521 2022-10-31 10시 12시 저번과 같은 HZO 입니다. 12nm 정도되고 하나는 450도 나머지하나는 550도 어닐한 샘플입니다 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 김승모 255,000원
2522 2022-10-31 14시 16시 LED Sample 성분분석

* C, N, Ga, In, Al, Si, Mg		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2523 2022-11-02 10시 12시 C,H,F에 대한 깊이에 따른 성분원소 분석을 하고 싶습니다 포항공과대학교 화학과 박윤주 270,000원
2524 2022-11-07 10시 15시 UOF분석 한국원자력연구원 하나로이용부 권진형 750,000원
2525 2022-11-09 9시 17시 NiO/Ti N, Co 분석 포항공과대학교 신소재공학과 김재림 1,080,000원
2526 2022-11-14 10시 15시 Al2O3/Si 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 675,000원
2527 2022-11-15 10시 12시 SiO2/PSG/Ge/Si 분석 국민대학교 신소재공학부 강명군 300,000원
2528 2022-11-15 13시 14시 FeCoN 분석 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 구강희 135,000원
2529 2022-11-15 14시 17시 perovskite/Si 분석 포항공과대학교 대학원 화학공학과 박건웅 405,000원
2530 2022-11-16 16시 22시 샘플은 총 6개입니다.

1-1/1-2, 2-1/2-2, 3-1/3-2 로
phosphorus refernece시편을 이용해, depth 방향의 dopant concentration을 평가하고자합니다.

감사합니다.

성연우 드림. 		연세대학교 물리학과 성연우 900,000원
2531 2022-11-16 6시 16시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 1,500,000원
2532 2022-11-17 11시 13시 N3, DNA 분석 포항공과대학교 대학원 시스템생명공학부 김찬슬 270,000원
2533 2022-11-17 9시 11시 Al2O3/Si분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 270,000원
2534 2022-11-21 9시 19시 <샘플 정보>
25keV R 10% G 25% B 15%
35keV R 10% G 25% B 15%
45keV R 10% G 25% B 15%

시편 9개 Si, P 검출 부탁드리옵고, 9개 중 하나만 sub doping인 B 검출 부탁드립니다. ( 총 10번 측정)
 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 김승모 1,275,000원
2535 2022-11-22 10시 12시 GaN-LD 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2536 2022-11-25 15시 17시 C,H,F에 대한 깊이에 따른 성분원소 분석을 하고 싶습니 포항공과대학교 화학과 박윤주 270,000원
2537 2022-12-02 9시 13시 분석을 맡기고자 하는 샘플은 SiO2 위에 50nm정도 증착한 ZnO 박막입니다.

분석 하고자하는 샘플은 총 4개입니다.

1. ZnO 박막 / 2. ZnO 박막 + 고압수소열처리(10atm) / 3. ZnO 박막 + 고압수소열처리(20atm) / 4. ZnO 박막 + 고압수소열처리 (30atm)

깊이 방향으로 각각 샘플의 ZnO의 oxygen의 양을 정량적으로 분석하고자 합니다.

 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 김영동 540,000원
2538 2022-12-07 10시 18시 Diamond 내 B, Se, O, N 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 1,200,000원
2539 2022-12-07 18시 19시 Zn doped CuI Film을 찍으려고 합니다.
샘플 두께는 60~90nm 정도 되구요 샘플 2~3개 정도 찍으려고 합니다.
기판 정보는 Bare Si - HfO2 20nm - ZnCuI 60-90nm 이며 크기는 1.5x1.5cm2 입니다.
SIMS 찍어본 적이 없어서 제가 준비 해야 하는 사항이 있으면 알려주시기 바랍니다.
010-3822-7972로 연락주셔도 괜찮습니다.
감사합니다.		 포항공과대학교 화학공학과 송승인 135,000원
2540 2022-12-12 12시 17시 TiO2 on Si 시편 5종 한국표준과학연구원 나노구조측정센터 홍성웅 750,000원
2541 2022-12-13 9시 12시 안녕하세요 선생님
저번에 말씀주셨던 대로 두께 5배를 하여 샘플을 준비하였습다.
샘플은 총 3개입니다.
Bare Si 기판 위에
1. Zn doped CuI - Single layer
2. CuI-Zn doped CuI-Bare Si (가열 x) - Double layer
3. CuI-Zn doped CuI-Bare Si (가열 o) - Double layer

기타 말씀 주실 사항 있으면 연락 부탁 드립니다.		 포항공과대학교 화학공학과 송승인 405,000원
2542 2022-12-14 14시 15시 실리콘 조각 시편에 Boron 도핑을 진행한 후 depth profile을 얻고자 합니다. 포항공과대학교 기계공학과 이상엽 135,000원
2543 2022-12-15 10시 18시 Cu2ZnSnS4 (CZTS) Ar, Ne, He 분석 대구대학교 물리교육과 홍성욱 1,200,000원
2544 2022-12-21 10시 12시 Ni/Cu C 분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 270,000원
2545 2022-12-21 13시 15시 Ar 분석 한국표준과학연구원 나노구조측정센터 홍성웅 300,000원
2546 2022-12-22 11시 13시 Ni/Cu C분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 270,000원
2547 2022-12-27 10시 14시 ZnO/TiN/FTO 분석 포항가속기연구소 빔라인부 성낙언 540,000원
2548 2022-12-29 10시 14시 분석 시료 : 2개

SIMS 분석 : Mg, Si, C, O, Al, Ga, H

* 분석 시 저희가 보낸 시료명을 꼭 기입을 부탁합니다.		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 600,000원
2549 2023-01-02 9시 19시 전문인력양성사업 나노 소자공정&측정 일자리연계 교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2550 2023-01-03 9시 19시 전문인력양성사업 나노 소자공정&측정 일자리연계 교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2551 2023-01-04 9시 19시 전문인력양성사업 나노 소자공정&측정 일자리연계 교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,500,000원
2552 2023-01-05 11시 13시 전문인력양성사업 나노 소자공정&측정 일자리연계 교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 380,000원
2553 2023-01-05 9시 11시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 300,000원
2554 2023-01-09 13시 15시 Ni/Cu C분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 270,000원
2555 2023-01-10 12시 16시 SiC 분석 포항공과대학교 NINT 김성규 540,000원
2556 2023-01-11 14시 16시 Depth Profile 측정 목적입니다.
Si/SiO2 기판 위에 증착 된 films 입니다.
Detail한 Stack 구조는 다음과 같습니다.
(하부 stack 부터 상부 stack 순서 입니다)
샘플 A : Tungsten (200 A) - HfO2 (6A) - InTe (300A) - Carbon (60A) - Tungsten (200A)
샘플 B : Tungsten (200 A) - HfO2 (12A) - InTe (300A) - Carbon (60A) - Tungsten (200A)

** HfO2가 샘플 A와 B에서 각각 6Å과 12Å인데 HfO2 신호가 반드시 나와야 합니다.
 포항공과대학교 신소재공학과 반상현 270,000원
2557 2023-01-16 14시 18시 - Sample : 2개
- Sample 두께 : 7um
=> 모든 층을 다 확인하고자 합니다.
- SIMS 분석 원소 : Mg, Si, C, O, In, Al, Ga, H

- 각 시료명을 데이타 송부 시 표기 부탁드립니다. (Type A, Type B)


주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 600,000원
2558 2023-01-17 13시 17시 SIMS 분석을 통해 수소 이온과 산소 이온의 조성비를 확인하고 싶습니다. 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 한건희 540,000원
2559 2023-01-17 9시 13시 - Sample 수량 : 1개
- Sample 두께 : 11um
=> 전체 두께에 대한 분석이 필요합니다
- SIMS 분석 : Mg, Si, C, O, Al, Ga, H		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 600,000원
2560 2023-01-19 9시 21시 안녕하세요 선생님
한양대 신소재공학과 최창환교수님 연구실 석사과정 김세진 입니다.
정량분석 및 깊이분석 데이터가 필요해 SIMS 신청합니다.

어제 유선으로 말씀드렸던 내용을 적어보면

P-bare Si/ thermal SiO2(5nm)/ Si3N4(6nm)/ LPCVD SiO2(8nm) 구조의 소자 입니다.
1~12 번 소자는 각각 열처리 온도 및 조건을 다르게 한 소자 입니다.

정량분석 시 보고 싶은 원소는 H, C, Cl, O, Si, N 로 박막 내 bulk, interface에 각각의 원소 content를 보려고 합니다.

1.5cm*1.5cm 크기의 샘플은 표준시료로
차례로, thermal SiO2 10nm, LPCVD SiO2 10nm, LPCVD Si3N4 300nm 두께로 증착된 박막입니다.
표준시료 데이터(ERD) 필요하다면 메일로 보내겠습니다.

다른 문의사항이 있다면 아래 연락처로 연락 부탁드리겠습니다
감사합니다.

김세진 드림
ksj000402@hanyang.ac.kr
010-4629-318		 한양대학교 신소재공학과 김세진 1,800,000원
2561 2023-01-26 10시 14시 CN- 이온 측정 부탁드립니다.
총 샘플은 6개 입니다.		 POSTCH 화학공학과 박상아 540,000원
2562 2023-02-06 11시 13시 CuNi-C 분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 270,000원
2563 2023-02-06 13시 17시 1. Green LED 구조 -1

- Sample : G1-1600-4

- 분석 원소 : Mg, Si, C, O, In, Al, Ga, H

=> SIMS 측정 두께 : 3um (기본 측정 시간 적용)

2. Blu2 LED 구조 -2

- Sample : Type A

- 분석 원소 : Mg, Si, C, O, In, Al, Ga, H

=> SIMS 측정 두께 : 3um (기본 측정 시간 적용)		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 600,000원
2564 2023-02-06 17시 19시 GaN 분석 RFHIC HEXA본부 금동민 300,000원
2565 2023-02-06 19시 20시 실리콘 웨이퍼 조각으로, Arsenic, 2e15 cm-2, 60 keV, 7° tilt로 공정 진행한 샘플입니다. 포항공과대학교 기계공학과 이상엽 135,000원
2566 2023-02-06 9시 11시 SIMS 장비를 이용하여 시편 2개의 depth profile을 분석
각각 Au/Ti/Si 구조와, Au/Ni/Ti/Si 구조		 전북대학교 전자공학부 오세인 300,000원
2567 2023-02-07 11시 19시 Si-P, B 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 1,080,000원
2568 2023-02-07 9시 11시 시료의 depth profile 분석을 통해 Ge 박막 내의 oxygen 함량의 정량화를 하고자 합니다.

1. 시료정보: 패턴이 없는 시료 2개 (크기: 2cm/2cm)
-시료 1: Ge(50nm) -Si substrate (Si 기판에 Ge 증착(E-beam evaporator))
-시료 2:Ge(50nm)-SiO2(100nm)-Si substrate (dry oxidation SiO2 wafer에 Ge 증착(E-beam evaporator))

2. depth profile(~80nm) 분석 component: Ge, Si, O(oxygen)		 한국과학기술연구원 차세대지능형반도체기술개발 백종화 300,000원
2569 2023-02-15 13시 15시 SiO2 내 F 분석 (주)코미코 ALD개발팀 연제민 300,000원
2570 2023-02-17 14시 16시 GaN 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2571 2023-02-20 13시 16시 UOF 분석 한국원자력연구원 하나로이용부 권진형 450,000원
2572 2023-02-21 14시 16시 * 시료명 : G1-1693
* 시료두께 : 11um
* 측정두께 : 6um
* 측정원소 : C, O, 69Ga, Al, Si, H		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2573 2023-02-22 10시 14시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
2574 2023-02-22 14시 18시 GaN 분석 한국광기술원 LED소자연구센터 정태훈 600,000원
2575 2023-02-23 11시 15시 GaN/SiC 분석 RFHIC DI팀 엄지훈 600,000원
2576 2023-02-24 11시 16시 CuNi-C 분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 675,000원
2577 2023-02-27 1시 19시 N-type wafer (Boron-implant, 10 keV): 5개, Arsenic, Boron 검출
P-type wafer (Phosphorus-implant, 25 keV): 5개, Boron, Phosphorus 검출
P-type wafer (Phosphorus-implant, 35 keV): 5개, Boron, Phosphorus 검출 		포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 김승모 1,912,500원
2578 2023-02-28 15시 16시 안녕하세요.
포항공대 노준석 교수님 실험실 양영환입니다.

Glass위에 PECVD로 증착된 a-Si:H의 SIMS분석의뢰를 하려고 합니다.
분석 하고 싶은 원자는 Si, O, H, N이며, a-Si:H 증착중 생길 수 있는 N, O의 분순물이 있는지 알아보려고 합니다.
추가 문의사항은 010-3456-9120으로 부탁드리며, 시편은 시편 보관함 안에 넣어두겠습니다.
감사합니다.
포항공과대학교 기계공학과 양영환 127,500원
2579 2023-03-02 10시 12시 Blend 분석 포항공과대학교 화학공학과 최예림 270,000원
2580 2023-03-02 13시 15시 GaAs 분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 300,000원
2581 2023-03-06 10시 15시 CuNi-C 분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 675,000원
2582 2023-03-07 10시 14시 Ag분석 포항공과대학교 대학원 기계공확과 김상목 540,000원
2583 2023-03-08 10시 13시 Ag/Glass 분석 포항공과대학교 대학원 기계공확과 김상목 405,000원
2584 2023-03-09 12시 16시 CuNi-C 분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 540,000원
2585 2023-03-13 10시 18시 안녕하세요.

국민대학교 화학과 도영락 교수님 연구실의 이승제 입니다.

메일에 요청 드렸던 건 대로 SIMS Depth profile 요청 드리며, 시료는 오늘 송부하였습니다.

시료의 수는 총 4개 입니다.

원소 분석의 경우, 메일에 추가적으로 요청 드리려 하는데,

Mg, Al, In, Ga , Si, O, N 총 7종 요청 드립니다.

감사합니다.

이승제 드림 		국민대학교 화학과 고민지 1,200,000원
2586 2023-03-21 13시 15시 Si, B, Al 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2587 2023-03-21 15시 16시 CuNi 분석 포항공과대학교 화학과 조혜연 135,000원
2588 2023-03-23 12시 17시 Sn, Pt 이미지분석 포항공과대학교 대학원 철강대학원 김동현 675,000원
2589 2023-03-27 13시 15시 8nm HfO2 내의 미량 불순 원소들을 확인하고 싶습니다. (C, N)

mass spectrum을 통해 sample 두개에서 불순물의 조성 변화를 확인하고자 합니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이순형 270,000원
2590 2023-03-31 10시 12시 GaN 분석 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2591 2023-03-31 13시 17시 GaN LD 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
2592 2023-04-04 10시 17시 SiN/GaN 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 945,000원
2593 2023-04-05 14시 17시 SiC-B, Al 분석 포항공과대학교 선행기술팀 박범성 405,000원
2594 2023-04-06 10시 13시 안녕하세요. 지난 주에 부탁드렸던 것과 같게
HfO2(8nm)/ Si에서 HfO2에서 C,N 의 변화를 SIMS를 통해 확인하고 싶습니다.
(조건은 3가지입니다.)		 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이순형 405,000원
2595 2023-04-12 15시 17시 GaN 분석 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2596 2023-04-13 9시 17시 SiO2-F 분석 (주)코미코 ALD개발팀 연제민 1,200,000원
2597 2023-04-18 10시 11시 depth profiling

Pt, K, Al, O		 포항공과대학교 환경공학부 한승목 135,000원
2598 2023-04-19 14시 18시 Si-P, B 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 480,000원
2599 2023-04-20 10시 11시 나노융합기반 고도화사업, 전자과 손종민 (010-9766-0039) 포항공과대학교 전자전기공학과 이정수 135,000원
2600 2023-04-20 14시 16시 SiC 분석 포항공과대학교 선행기술팀 박범성 270,000원
2601 2023-04-20 9시 10시 HfO2(8nm)/Si 에서 HfO2내의 C, N의 SIMS profile을 확인하고 싶습니다. 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이순형 135,000원
2602 2023-04-26 13시 16시 InP-Zn분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 450,000원
2603 2023-05-03 14시 16시 GaN-C 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2604 2023-05-04 13시 14시 아까 샘플 전달드렸습니다
Ti, Al, O, N 측정 부탁드립니다.

감사드립니다.		 포항공과대학교 화학공학과 고명철 135,000원
2605 2023-05-10 13시 15시 Si 패턴 이미지 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2606 2023-05-12 10시 14시 포항공대 노준석 교수님 연구실입니다.

2 by 2 silicon substrate 위에 증착된 hydrogenated amorphous silicon 박막 분석 부탁드립니다.

트레이에 번호 별로 시편을 넣어뒀는데, 해당 번호들로 결과 알려주시면 감사하겠습니다.

금일(5월 9일) 저녁에 시편 맡기는 곳에 두겠습니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 기계공학과 이도현 480,000원
2607 2023-05-15 14시 16시 Ni(top)/a-Si/SiO2(bottom) 구조입니다. Ni은 약 3~5nm 증착되었고 a-Si은 100nm입니다.
Ni이 diffusion 되는 정도를 정성적으로 분석하려고 합니다.		 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 이순형 270,000원
2608 2023-05-17 14시 16시 철강시료 이미지 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2609 2023-05-18 10시 11시 포항공대 노준석 교수님 연구실입니다.

2 by 2 glass substrate 위에 있는 hydrogenated amorphous silicon 박막 분석 부탁드립니다.

실리콘/수소/산소/질소 분석해주시면 감사하겠습니다.

명일(5월 16일) 저녁에 시편 맡기는 곳에 두도록 하겠습니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 기계공학과 이도현 120,000원
2610 2023-05-18 11시 12시 GaN 분석 RFHIC HEXA본부 금동민 150,000원
2611 2023-05-22 10시 18시 Si-B, P 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 960,000원
2612 2023-05-23 16시 18시 sn doped Ga2O3 ~250nm on c-sapphire sample입니다.

G표시가 똑바로 되어있는 부분이 뒷면입니다. 즉, Ga2O3가 증착된 앞면 분석 부탁드리겠습니다.

분석 원소로는 Ga, Sn, O, C, Fe 입니다.

최종적으로는 Sn이 doping이 되었는지 확인하기 위해 분석 의뢰 드립니다.

현재 필름의 전도성이 없으므로 부도체로 판단됩니다.

감사합니다.		 경북대학교 전자재료공학 최윤호 300,000원
2613 2023-05-24 10시 14시 Si-B,P분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 480,000원
2614 2023-05-26 10시 16시 Si-B,P분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 720,000원
2615 2023-05-30 10시 18시 GaN 분석 한국광기술원 마이크로LED연구센터 정태훈 1,200,000원
2616 2023-05-31 16시 18시 Si-P 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 강보현 240,000원
2617 2023-06-01 15시 17시 유기막내 K 분석 한국다우코닝 한국듀폰코리아 DM 김지웅 300,000원
2618 2023-06-05 10시 16시 10mm x 10mm 시편 10개입니다.

depth profile 측정 부탁드리며, 보고자 하는 원소는 H, OH, O, Si, Hf, Al, In, Ga, Zn, C 입니다.

샘플 구조는 총 4가이 타입이며 아래와 같이 구성되어 있습니다.
- Si/SiO2(20nm)/IGZO(40nm)/SiO2(300nm)
- Si/SiO2(20nm)/IGZO(40nm)/SiO2(20nm)/SiO2(300nm)
- Si/SiO2(20nm)/IGZO(40nm)/SiO2(5nm)/HfO2(10nm)/SiO2(5nm)/SiO2(300nm)
- Si/SiO2(20nm)/IGZO(40nm)/Al2O3(5nm)/HfO2(10nm)/Al2O3(5nm)/SiO2(300nm)		 한양대학교 전자공학과 이태호 900,000원
2619 2023-06-07 11시 17시 poly-Si /Glass 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 손종민 810,000원
2620 2023-06-08 10시 11시 60 nm Phosphorus doped polysilicon 시편 입니다.
예상 농도가 10^21 cm−3입니다.		 포항공과대학교 기계공학과 이상엽 135,000원
2621 2023-06-08 13시 15시 Ga2O3 ~500nm on c-sapphire sample입니다.

G표시가 똑바로 되어있는 부분이 뒷면입니다. 즉, Ga2O3가 증착된 앞면 분석 부탁드리겠습니다.

분석 원소로는 Ga, Sn, O, C, Fe 입니다.

현재 필름의 전도성이 없으므로 부도체로 판단됩니다.

감사합니다.		 경북대학교 전자재료공학 최윤호 300,000원
2622 2023-06-08 15시 17시 Depth profile
positive mode
K+		 한국다우코닝 한국듀폰코리아 DM 김지웅 300,000원
2623 2023-06-09 10시 14시 GaN 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 540,000원
2624 2023-06-12 14시 16시 AlGaAs분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 300,000원
2625 2023-06-12 9시 14시 SIMS 측정 의뢰드립니다. 총 5개 박막 샘플이며 각 샘플 당 측정 원소는 다음과 같습니다.

1. MoS2
Elements: Mo, S
2. WS2
Elements: W, S
3. MoSe2
Elements: Mo, Se
4. WSe2
Elements: W, Se
5. MoS2/WSe2 mixed
Elements: Mo, S, W, Se

감사합니다.

월요일 아침에 샘플 전달 드리겠습니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노유진 675,000원
2626 2023-06-13 7시 22시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 2,250,000원
2627 2023-06-14 7시 22시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 2,250,000원
2628 2023-06-15 7시 22시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 2,250,000원
2629 2023-06-16 10시 14시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 604,000원
2630 2023-06-19 14시 16시 1. LED 구조

- Sample 1개

- 분석 원소 : Mg, Si, C, O, In, Al, Ga, H

- Sample 두께 : 3um

주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2631 2023-06-21 15시 18시 Ga2O3 ~250nm on c-sapphire sample입니다.
Ga2O3에 Sn 도핑을 시도하였지만 전도성이 나오지 않아 Sn이 제대로 들어갔는지 확인하기 위해 분석 의뢰 드립니다.
두께가 얇으니 slow scan으로 부탁드리겠습니다.
또한 Gun은 O2+ Gun을 사용하는지 알려주시면 감사하겠습니다.

G표시가 똑바로 되어있는 부분이 뒷면입니다. 즉, Ga2O3가 증착된 앞면 분석 부탁드리겠습니다.

분석 원소로는 Ga, Sn, O, Si, Fe, Al 입니다.

현재 필름의 전도성이 없으므로 부도체로 판단됩니다.

감사합니다.		 경북대학교 전자재료공학 최윤호 450,000원
2632 2023-06-22 13시 16시 조사시료:
sample 1. test 12-InGaP/GaAs Sub.
sample 2. test13-InGaP/GaAs Sub.
sample 3. GaAs bonding on Si Sub.

조사목적 :
sample 1, 2 :InGaP의 성장두께별 물질 변화를 조사하고자 함.
sample 3 : Wafer bonding 계면 물질 변화를 조사하고자 함.

조사내용 :

Depth : 2μm
Resolution : 0.05 μm
Material:
In, Ga, As, O, C, P, Si


Depth : 0.2μm
Resolution : 0.05 μm
Depth : 0.2~0.7μm
Resolution : 0.005 μm
Material:
Ga, As, O, Si, C

 한국광기술원 광융합에너지소재연구센터 김효진 450,000원
2633 2023-06-26 13시 14시 W/Ti/SiO2/Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 135,000원
2634 2023-06-27 13시 16시 Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 405,000원
2635 2023-06-28 13시 17시 Si 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 540,000원
2636 2023-06-29 9시 19시 ELLZO 이미지 분석 포항공과대학교 신소재공학과 김아빈 1,350,000원
2637 2023-07-06 14시 15시 8인치 웨이퍼 일부만 잘라서 측정 전북대학교 전자공학부 설유진 150,000원
2638 2023-07-10 9시 10시 Ga2O3 ~250nm on c-sapphire sample입니다.
Ga2O3에 Sn 도핑을 시도하였지만 전도성이 나오지 않아 Sn이 제대로 들어갔는지 확인하기 위해 분석 의뢰 드립니다.
두께가 얇으니 slow scan으로 부탁드리겠습니다.
또한 Gun은 O2+ Gun을 사용하는지 알려주시면 감사하겠습니다.

G표시가 똑바로 되어있는 부분이 뒷면입니다. 즉, Ga2O3가 증착된 앞면 분석 부탁드리겠습니다.

분석 원소로는 Ga, Sn, O, Si, Fe, Al 입니다.

현재 필름의 전도성이 없으므로 부도체로 판단됩니다.

감사합니다.		 경북대학교 전자재료공학 최윤호 150,000원
2639 2023-07-11 9시 13시 ITO Sn 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 600,000원
2640 2023-07-12 10시 18시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,080,000원
2641 2023-07-13 10시 18시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,080,000원
2642 2023-07-14 10시 13시 전문인력양성사업 나노현미경학 실습교육 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 504,000원
2643 2023-07-18 15시 17시 Li-S,P 복합물 분석 포항공과대학교 화학과 이형석 270,000원
2644 2023-07-21 10시 12시 Li-S,P,O, F분석 포항공과대학교 화학과 이형석 270,000원
2645 2023-07-24 13시 17시 GaAs/Si 분석 한국광기술원 광융합에너지소재연구센터 김효진 600,000원
2646 2023-07-25 13시 15시 LPSCl, ZnO 분석 포항공과대학교 대학원 화학과 최현빈 270,000원
2647 2023-07-26 9시 10시 60 nm Phosphorus doped polysilicon 시편 입니다.
두께는 다를 수 있을 것 같습니다.
예상 농도가 10^21 cm−3입니다.		 포항공과대학교 기계공학과 이상엽 135,000원
2648 2023-07-31 12시 18시 VO/SiN/Si분석 주식회사 보다 연구개발 김형원 765,000원
2649 2023-07-31 9시 11시 1. 샘플갯수 : 1개
2. 표면에서 0.5um 까지만 분석 ( 분석시에 Etch Rate 최대한 천천히 측정 요청 드립니다.)
- 분석원소 : Mg, Si, Ga, Al, In, O, C, H		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 300,000원
2650 2023-08-07 14시 16시 Si-GaN 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2651 2023-08-09 10시 13시 Ga2O3 ~250nm on c-sapphire sample입니다.
Ga2O3에 Sn 도핑을 시도하였지만 전도성이 나오지 않아 Sn이 제대로 들어갔는지 확인하기 위해 분석 의뢰 드립니다.
두께가 얇으니 slow scan으로 부탁드리겠습니다.
또한 Gun은 O2+ Gun을 사용하는지 알려주시면 감사하겠습니다.

G표시가 똑바로 되어있는 부분이 뒷면입니다. 즉, Ga2O3가 증착된 앞면 분석 부탁드리겠습니다.

분석 원소로는 Ga, Sn, O, Si, Fe, Al, F 입니다.

현재 필름의 전도성이 없으므로 부도체로 판단됩니다.

감사합니다.		 경북대학교 전자재료공학 최윤호 450,000원
2652 2023-08-10 10시 17시 GaN back side 분석 (주)키파운드리 SRT팀 오종혁 1,050,000원
2653 2023-08-11 10시 14시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
2654 2023-08-21 13시 17시 InP-Fe 분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 600,000원
2655 2023-08-22 10시 16시 GaN 분석 한국광기술원 마이크로LED연구센터 정태훈 900,000원
2656 2023-08-23 10시 12시 Si-As분석 포항공과대학교 전자전기공학과 손종민 270,000원
2657 2023-08-23 15시 16시 SiC-N분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 135,000원
2658 2023-08-23 9시 10시 SOI 웨이퍼 위에 60 nm Phosphorus doped polysilicon 증착된 시편 입니다.
두께는 다를 수 있을 것 같습니다.
예상 농도가 10^21 cm−3입니다.
 포항공과대학교 기계공학과 이상엽 135,000원
2659 2023-08-24 10시 12시 F-doped Ga2O3 on c-sapphire sample입니다.

sapphire위 하얗게 뜬 부분 분석 부탁드리겠습니다.

두께가 얇으니 slow scan으로 부탁드리겠습니다.

G표시가 똑바로 되어있는 부분이 뒷면입니다. 즉, Ga2O3가 증착된 앞면 분석 부탁드리겠습니다.

분석 원소로는 Ga, Sn, O, Si, Fe, Al, F 입니다.

현재 필름의 전도성이 없으므로 부도체로 판단됩니다.

감사합니다.		 경북대학교 전자재료공학 최윤호 300,000원
2660 2023-08-25 9시 11시 Depth profile 측정 부탁드립니다.
샘플은 총 2개이며, 샘플 크기는 1cm x 1cm 입니다.

샘플 구조는 Si/ SiO2 (20nm)/ IGZO(30nm)/ SiO2 (7nm)/ HfO2 (10nm)/ SiO2 (7nm) / SiO2 (300nm)입니다.

보고자 하는 원소는 H, OH, O, Si, Hf, In, Ga, Zn, InO, C 입니다.		 한양대학교 전자공학과 이태호 300,000원
2661 2023-08-30 14시 18시 CsBiI - NH3 분석 한국재료연구원 나노표면재료연구본부 송명관 600,000원
2662 2023-09-08 10시 12시 Cu 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 270,000원
2663 2023-09-08 14시 16시 GaN 분석 한국광기술원 마이크로LED연구센터 정태훈 300,000원
2664 2023-09-15 10시 12시 BiSe 분석 한국전자통신연구원 차세대태양광연구부 조대형 300,000원
2665 2023-09-15 13시 17시 BiCsI 분석 한국재료연구원 나노표면재료연구본부 송명관 600,000원
2666 2023-09-18 10시 11시 Si- Ga 분석 포항공과대학교 대학원 기계공학과 백종현 127,500원
2667 2023-09-19 10시 13시 유기물 분석 포항공과대학교 대학원 화학공학과 박건웅 405,000원
2668 2023-09-21 10시 12시 NiFeMnW분석 포항공과대학교 대학원 화학공학과 오세훈 270,000원
2669 2023-09-25 9시 12시 시료수: 3ea
예상 두께: 2.0 um 및 3.8um
시료 정보: Amorphous Carbon Layer on Si wafer
의뢰 내용: Carbon 내 H 함량 분석 요청 드립니다. (etch 두께: 1.5um)		 (주)테스 부설연구소 김혜옥 450,000원
2670 2023-09-26 9시 19시 포항공대 노준석 교수님 연구실입니다.

2cm by 2cm 실리콘 기판 위의 hydrogenated amorphous silicon 박막 분석 부탁드립니다.

실리콘/수소/산소/질소 분석해주시면 감사하겠습니다.

총 10 개의 샘플이 있고 번호를 적어두었는데, 결과는 샘플 번호별로 구분해서 보내주시면 감사하겠습니다.

금일(9월 22일) 저녁에 시편 맡기는 곳에 두도록 하겠습니다.

감사합니다.		 포항공과대학교 대학원 기계공학과 이도현 1,200,000원
2671 2023-09-27 10시 12시 Si-Ga 분석 포항공과대학교 대학원 기계공학과 백종현 255,000원
2672 2023-09-27 14시 17시 3x3 캐리어중에서 가운데 표시해놓은 3개의 소자 분석을 부탁드립니다.
소자구조, 분석목적을 설명드리기 위해서 첨부파일을 연구원님 email로 오늘까지 보내드리겠습니다.
감사합니다. 		전북대학교 전자정보공학부 허찬 450,000원
2673 2023-10-11 9시 10시 시료수 : 1
공정내용 : ON 200stack Layer on None-pattern Silicon Wafer
필름두께 : 약7.2um
필요조성 : Si, C, O, N, F, H
*시험성적서와 유사한 양식의 시험결과서로 작성 요청드립니다.*
(목표 Spec.은 표면 Fluorine < 5.0 E+03 입니다.)		 (주)테스 부설연구소 김광기 150,000원
2674 2023-10-12 10시 14시 InP/InGaAs/InP 분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 600,000원
2675 2023-10-16 14시 17시 SiC-N 분석 포항공과대학교 기술지원팀 김성준 405,000원
2676 2023-10-16 17시 18시 SiN/SiO ㅡmultilayer 분석 (주)테스 부설연구소 김광기 200,000원
2677 2023-10-17 14시 17시 Si wafer 상 YAlO / Y2O3 / SiN 코팅 시편 (총 3ea, 각 size 20mm*20mm, 두께 0.7um) 에 대하여

코팅막 내부의 6개 금속 불순물 (Al, Cr, Fe, As, Y, Sn) 의 유무 및 분포에 대한 분석을 의뢰 드립니다.		 (주)밸류엔지니어링 C&S(연구개발)팀 도의현 600,000원
2678 2023-10-17 9시 12시 Si-P 분석 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 이규빈 405,000원
2679 2023-10-18 13시 17시 GaN 분석 한국광기술원 마이크로LED연구센터 정태훈 600,000원
2680 2023-10-19 10시 13시 Si-O,P 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 손종민 405,000원
2681 2023-10-19 16시 17시 GaO-Si 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 150,000원
2682 2023-10-24 14시 17시 YO 분석 (주)밸류엔지니어링 C&S(연구개발)팀 도의현 600,000원
2683 2023-10-25 10시 12시 GaO/GaN 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 300,000원
2684 2023-10-25 13시 17시 GaN 분석 한국광기술원 마이크로LED연구센터 정태훈 600,000원
2685 2023-10-30 13시 14시 GaO 산화물 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 200,000원
2686 2023-10-31 13시 17시 GaO 분석 나노융합기술원 기술사업부 특성평가팀 최현정 800,000원
2687 2023-11-02 13시 15시 GaO 분석 한국세라믹기술원 광디스플레이소재센터 전대우 400,000원
2688 2023-11-03 10시 11시 자세한 인폼은 메일로 전달드리겠습니다.
유선상 말씀드린 건입니다.		 큐얄티(QRT) 종합분석BU 박혜민 150,000원
2689 2023-11-06 13시 17시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
2690 2023-11-07 15시 17시 Cu-B 분석 포항공과대학교 첨단재료과학부 노준혁 270,000원
2691 2023-11-08 10시 13시 Si-B,P 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 전길수 405,000원
2692 2023-11-09 9시 11시 샘플 구조는 Si/SiO2 (15nm)/ IGZO (20nm)/ SiO2 (7 nm)/ HfO2 (7 nm)/ SiO2 (107 nm) 이며,

샘플 수는 총 2개이며 depth profile 측정 부탁드립니다.

보고자 하는 원소는 H, OH, O, Si, Hf, In, Ga, Zn, C, N 입니다.		 한양대학교 전자공학과 이태호 400,000원
2693 2023-11-15 13시 15시 Si-P,O 분석 포항공과대학교 전자전기공학과 손종민 270,000원
2694 2023-11-15 15시 17시 이미지 분석 포항공과대학교 대학원 화학과 최현빈 270,000원
2695 2023-11-23 14시 16시 InGaAsP분석 한국광기술원 레이저 연구센터 김홍혁 300,000원
2696 2023-11-24 10시 16시 Nitrogen ion implanted NiO film 샘플로, NiO film 표면 및 내부에 존재하는 Nitrogen 의 조성을 알고자 합니다.
표면을 포함한 깊이 방향으로의 Depth profile 부탁 드립니다.
Ti foil 내부에 대한 조성은 알고자 하는 정보가 아닙니다.
주로 얻고자 하는 정보는 200 nm 및 50 nm 두께의 NiO film 표면과, 내부에 존재하는 Nitrogen, Oxygen, Nickel 원소에 대한 조성입니다.

샘플 정보는 아래와 같습니다.
S1~S4 는 200 nm 두께의 NiO film 이고, S5 ~ S6 는 50 nm 두께의 NiO film 입니다.

Nitrogen doped NiO film (200 nm & 50 nm thick.) on Ti foil

Sample 1: 200 nm thick NiO film on Ti foil
Sample 2: N14-doped NiO film on Ti foil
Sample 3: N15-doped NiO film on Ti foil
Sample 4: N16-doped NiO film on Ti foil

Sample 5: 50 nm thick NiO film on Ti foil
Sample 6: N15-doped NiO film (50 nm thick.) on Ti foil

위 샘플들을 특성평가팀 맡기는 시편 사물함에 넣어뒀으니, 확인하시어 측정 진행 부탁드립니다. 감사합니다.

 포항공과대학교 신소재공학과 김재림 810,000원
2697 2023-11-25 10시 14시 증착 시간을 다르게한 Phosphorus n-doped poly-Si이 SOI 웨이퍼 위에 증착되어있습니다.
총 4개의 샘플이 있으며, 각 샘플의 poly-Si의 두께 확인 및 농도를 확인하고자 합니다.
예상 농도는 4종류 모두 10^21 cm−3 입니다.		 포항공과대학교 기계공학과 이상엽 540,000원
2698 2023-11-28 13시 16시 Cu 분석 포항공과대학교 첨단재료과학부 노준혁 405,000원
2699 2023-11-29 13시 17시 철강소재분석 포스코 기술연구원 자동차소재연구소 자동차소재연구그룹 최용훈 600,000원
2700 2023-11-30 15시 17시 필터분석 한국원자력연구원 하나로이용부 권진형 300,000원
2701 2023-11-30 9시 15시 Ga2O3 ~1um on c-sapphire sample입니다.

dopant와 불순물을 분석하기위해 slow scan으로 부탁드리겠습니다.
또한 Gun은 O2+ Gun을 사용하는지 알려주시면 감사하겠습니다.

G표시가 똑바로 되어있는 부분이 뒷면입니다.(G표시가 없는 sample들은 숫자들이 정자로 똑바로 적혀있는 면이 뒷면입니다.) 즉, Ga2O3가 증착된 앞면 분석 부탁드리겠습니다.
sample 분석 위치는 center부분으로 부탁드립니다.
단, 파란색 \\\'D-2\\\'가 쓰여 있는 \\\'NH4F 28 550도 30min an\\\' sample의 측정 위치는 sample이 들어있는 통에 그림으로 설명한 파란색 점 부분 측정 부탁드립니다.

분석 원소로는 Ga, Sn, O, Si, Fe, Al, F 입니다.

undoped sample은 부도체이며, 23.10.27 sample은 도핑된 Ga2O3 위에 undoped Ga2O3를 증착하였습니다. (이 때문에 장비이용료에 변동이 있으면 메일 주시면 감사하겠습니다.)

감사합니다.		 경북대학교 전자재료공학 최윤호 1,200,000원
2702 2023-12-01 10시 12시 메일로 정리해서 보내드리겠습니다.
 포항공과대학교 신소재공학과 권오혁 270,000원
2703 2023-12-01 15시 16시 - 분석 의뢰자 : 김민호 (010-4516-9583, mhkim20@postech.ac.kr)
- 스테인리스 기판 위에 성장된 SnO2 마이크로 패턴 (하나의 패턴 규격 : 150 um x 150 um) 에서의 리튬이온농도 분포를 이미지화 하고 싶습니다.		 포항공과대학교 대학원 화학공학과 강송규 135,000원
2704 2023-12-01 16시 18시 GaN-GaO분석 한국항공대학교 스마트항공모빌리티학과 김선재 300,000원
2705 2023-12-06 9시 19시 SiC 분석 주식회사 아르케 SIC 생산본부 노병훈 1,350,000원
2706 2023-12-07 10시 14시 철강 이미지 분석 포스코 기술연구원 자동차소재연구소 자동차소재연구그룹 최용훈 750,000원
2707 2023-12-07 16시 17시 SiC 분석 포항공과대학교 선행기술팀 한성웅 135,000원
2708 2023-12-08 10시 18시 철강시료분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 1,440,000원
2709 2023-12-11 10시 18시 철강시료분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 1,440,000원
2710 2023-12-12 10시 18시 GaN 분석 한국광기술원 마이크로LED연구센터 정태훈 1,200,000원
2711 2023-12-13 11시 15시 GaN 분석 한국광기술원 광전반도체연구센터 전성란 600,000원
2712 2023-12-15 10시 14시 요청 내용 : 시편 2개의 성분분석

* 분석 두께 : 0.8um 이내의 Cp2Mg 의 SIMS 분석

* 분석 두께가 얇은 대신 Scan Rate 을 천천히 해서 분석 부탁드립니다.

* 각각의 데이타에 시료명 명시 요청
주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 600,000원
2713 2023-12-19 10시 12시 Si, Ni 분석 필요. 지난번 내용과 동일. 다른 Sample 분석 희망. Pt 코팅 후 분석 요청.

분석 내용 잘 받았습니다. 관련하여 추가 정리하여 연락 드리겠습니다.		 포항공과대학교 신소재공학과 권오혁 360,000원
2714 2024-01-04 9시 14시 샘플 구조는

1. Si/SiO2 (15nm)/ IGZO (30nm)/ SiO2 (300 nm)

2. Si/SiO2 (15nm)/ IGZO (30nm)/ SiO2 (320 nm)

3. Si/SiO2 (15nm)/ IGZO (30nm)/HfO2 (20 nm)/ SiO2 (300 nm)

4.Si/SiO2 (15nm)/ IGZO (30nm)/ SiO2 (6 nm)/ HfO2 (7 nm)/ SiO2 (306 nm)

5.Si/SiO2 (15nm)/ IGZO (30nm)/ SiO2 (6 nm)/ HfO2 (7 nm)/ SiO2 (306 nm)

이며 샘플 수는 총 5개입니다. (4번 5번 샘플은 가장 상단에 있는 SiO2 증착 온도가 다름)

depth profile 측정 부탁드리며

보고자 하는 원소는 H, OH, O, Si, Hf, In, Ga, Zn, C, CO 입니다.		 한양대학교 전자공학과 이태호 1,000,000원
2715 2024-01-09 10시 18시 전문인력양성사업 나노 소자공정&측정 일자리연계 교육(1월) 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,200,000원
2716 2024-01-10 10시 18시 전문인력양성사업 나노 소자공정&측정 일자리연계 교육(1월) 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,200,000원
2717 2024-01-10 9시 10시 * SIMS 측정 의뢰
* Sample 명 : G2-1799-GB (SIMS 데이터에 꼭 샘플명을 표기 부탁합니다)
* Substrate : Double Side Polishing Sapphire (기판이 투명해서 꼭 앞면을 잘 확인 부탁합니다)
* 주 측정 목적 : Si doping Level 확인
* 에피 두께 : 총 에피 두께 ~7um // 측정 두께 ~3um
* 측정 원소 : 28Si, 27Al, 18O, 12C, 1H, 69Ga14N (Cs+ Gun (15keV) 만 진행)		 주식회사 소프트에피 소프트에피 기술연구소 김두수 150,000원
2718 2024-01-11 11시 19시 전문인력양성사업 나노 소자공정&측정 일자리연계 교육(1월) 나노융합기술원 교육홍보팀 김동기 1,298,000원
2719 2024-01-11 9시 11시 ion-implanted SiC 조각/2.5 x 2.5 ㎠/2개/이온 종류 : Al, N 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 최재용 270,000원
2720 2024-01-16 13시 16시 3개의 Sample에서 H양 차이를 보고 싶습니다. 포항공과대학교 대학원 신소재공학과 한건희 405,000원
2721 2024-01-17 10시 12시 - 8um 양자점 박막(Glass 기판 2x2)의 표면 및 2~3um 깊이의 내부 분석
- 분석 원소 (함량): Ag (1%), In (9%), Ga (45%) S (45%) O (N/D)
- 박막 조성: 무기물 20wt% 外 폴리머
- 샘플 수: 2EA
- 기타 (참고 사항): SEM 측정 시 의뢰 샘플 금속 코팅 후 진행.		 희성촉매(주) 신소재사업팀 이시맥 300,000원
2722 2024-01-18 10시 15시 구리 표면 원소성분분석 그래핀스퀘어주식회사 포항사업부 송귀석 675,000원
2723 2024-01-23 10시 12시 Ni foil에 dissolution 된 carbon을 depth profile 하고 싶습니다. 포항공과대학교 대학원 화학과 송지은 270,000원
2724 2024-01-23 13시 16시 SiN-H 분석 포항공과대학교 기술지원팀 최경근 405,000원
2725 2024-01-24 11시 13시 ion-implanted SiC 조각 2개 (이온 종류 : N, Al)
샘플 크기 2.5 x 2.5 ㎠
공정 진행 내역 : furnace activation anneal 진행 완료된 조각입니다.		 포항공과대학교 대학원 전자전기공학과 최재용 270,000원
2726 2024-01-26 13시 15시 일전에 메일로 문의드렸던 것처럼 찍고자합니다. 포항공과대학교 대학원 화학공학과 노태완 270,000원
2727 2024-01-29 15시 17시 Ni foil에 dissoulion된 Carbon 분석하고 싶습니다. 포항공과대학교 대학원 화학과 송지은 270,000원
2728 2024-02-05 10시 12시 Ga2O3 박막 내 원소 분석

요청 원소 (Ga, O, C, Sn, Cl, Si)

샘플개수: 2

 한국항공대학교 스마트항공모빌리티학과 김선재 400,000원