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장비소개

High Resolution FE-SEM-Ⅱ (JSM 7800F PRIME with Dual EDS)

장비명(영문) :  High Resolution FE-SEM-Ⅱ (JSM 7800F PRIME with Dual EDS)

장비명(국문) :  전계 방출형 주사전자현미경

제조사 :  JEOL Ltd.

모델 :  JSM-7800F Prime

사양 :  Quad Detector(LED,UED,USD,BED), Super Hybrid Lens, Dual EDS

용도 :   나노재료의 표면 및 형태관찰 및 성분분석, 단면 두께 관찰, BSE image (※ 파우더 및 자성물질 측정시 담당자와 사전협의 후 진행)

키워드 :  SEM, FE-SEM, 주사전자현미경, EDS 분석

(※ 본 장비에서는 파우더 및 자성물질 측정시 담당자와 사전협의 후 진행 하오니 예약 신청 시 참고 바랍니다.)

SE image resolution : 0.7nm guaranteed or better (at 15kV, GB mode)

                                    1.2nm guaranteed or better (at 1kV, GB mode)

                                    0.7nm guaranteed or better (at 1kV, GBSH mode)

                                    3.0nm guaranteed or better (at 5kV, 5nA, WD10mm)

Accelerating voltage : 0.01 to 30 kV (SEM mode & GB mode) or wider

Sample bias voltage : 0 to 5kV

Probe current : pA to 500nA or better

Magnification : x25 to 1,000,000

Electron Gun : In-lens Schottky Plus field emission electron gun

Objective lens : Super Hybrid Lens

Dual EDS Detector System  : LN2 Free SDD type , 150mm2 or larger

Energy resolution : 127eV at 20,000cps, (Mn Ka) or better


장비사용료 용도 이용료부과기준 이용수가(원) 비고
기본료 직접사용 서비스
나노재료의 표면 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ BEI/ EDS (파우더 및 자성체 측정시 담당자와 사전협의 후 진행) 1시간 0 0 100,000 내부:85000 (할인율 적용), 외부: 100000 (EDS,Pt 재료비 별도)
  • 장비예약 취소를 원할 경우 예약일 전일 까지 장비담당자에게 요청하시기 바랍니다.
  • 예약 당일에 취소할 경우 불이익을 받을 수 있습니다. (특성평가 장비는 장비 예약시간의 50% 취소 수수료 부과 청구)
  • 장비이용 후 청구담당자가 다음 월에 이용료 결제를 요청합니다. (부과세 별도 적용 / 포스텍 비적용)

  • <장비 이용료 할인 안내>
    1) 포항공과대학교 내 이용자(입주기업 포함)는 이용료의 10%를 할인율 적용합니다.
    2) 장비 운영 라이선스 취득 후 심야시간대(당일 18:00 ~ 익일 09:00) 직접이용 이용료의 50% 할인율 적용합니다.
       *특성평가팀 특정장비 심야할인 별도 적용되는 경우 있으니 사전에 담당자에게 문의바랍니다.
    3) 전년도 이용 실적 5천만원 이상 이용자는  5~20% 특별 할인 적용합니다.
        * 포항공과대학교 내 이용자는 특별 할인 추가됩니다.

장비담당자

장비담당자 전화번호 이메일
백경흠 054-279-0235 kyonghum@postech.ac.kr

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