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장비소개

HR-[S]TEM-I (2100F with Cs Corrected STEM)

장비명(영문) :  HR-[S]TEM-I (2100F with Cs Corrected STEM)

장비명(국문) :  구면수차보정 투과전자현미경

제조사 :  JEOL

모델 :  JEOL JEM-2100F (with Cs Corrector on STEM)

사양 :  Acceleration Voltage : 200kV TEM point resolution : 0.19 nm

용도 :  투과전자빔에 의한 나노단위의 구조분석 및 원소분석

키워드 :  TEM/SADP/STEM/BF/HAADF/EDS

장비 규격

 Acceleration Voltage : 200kV

 TEM point resolution : 0.19 nm

 TEM lattice resolution : 0.1 nm

 STEM resolution : < 0.1 nm

 HAADF STEM resolution : 0.096 nm

 (with probe Cs-corrector)

 BF STEM resolution : 1.4 nm

 EDS resolution : 136 eV

 Energy resolution : 0.8 eV

 Electron Gun (Emitter) : ZrO/W(100)

 

장비 응용분야

 ①원자 스케일 수준의 구조 분석 : HR-TEM, STEM-HAADF/BF 

 ②결정학적 분석 : SADP(BF,DF), CBED, NBD 

 ③화학적 조성 분석 : Point, Line-profiling, Mapping by EDS


장비사용료 용도 이용료부과기준 이용수가(원) 비고
기본료 직접사용 서비스
투과전자빔에 의한 나노구조/성분분석 TEM/ STEM/ EDS/ BF/ HAADF 1시간 0 250,000 250,000
  • 장비예약 취소를 원할 경우 예약일 전일 까지 장비담당자에게 요청하시기 바랍니다.
  • 예약 당일에 취소할 경우 불이익을 받을 수 있습니다. (특성평가 장비는 장비 예약시간의 50% 취소 수수료 부과 청구)
  • 장비이용 후 청구담당자가 다음 월에 이용료 결제를 요청합니다. (부과세 별도 적용 / 포스텍 비적용)

  • <장비 이용료 할인 안내>
    1) 포항공과대학교 내 이용자(입주기업 포함)는 이용료의 10%를 할인율 적용합니다.
    2) 장비 운영 라이선스 취득 후 심야시간대(당일 18:00 ~ 익일 09:00) 직접이용 이용료의 50% 할인율 적용합니다.
       *특성평가팀 특정장비 심야할인 별도 적용되는 경우 있으니 사전에 담당자에게 문의바랍니다.
    3) 전년도 이용 실적 5천만원 이상 이용자는  5~20% 특별 할인 적용합니다.
        * 포항공과대학교 내 이용자는 특별 할인 추가됩니다.

장비담당자

장비담당자 전화번호 이메일
박현웅 054-279-0312 hwpark27@postech.ac.kr
박현웅 010-2879-5515 hwpark27@postech.ac.kr

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