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High Resolution FE-SEM-Ⅱ (JSM 7800F PRIME with Dual EDS)

가동중
기자재관리번호 00000000000000
장비명(영문) High Resolution FE-SEM-Ⅱ (JSM 7800F PRIME with Dual EDS)
장비명(국문) 전계 방출형 주사전자현미경
제조사 JEOL Ltd.
모델 JSM-7800F Prime
사양 Quad Detector(LED,UED,USD,BED), Super Hybrid Lens, Dual EDS
용도 나노재료의 표면 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ BEI/ EDS (※ 파우더 및 자성물질 측정시 담당자와 사전협의 후 진행)
키워드 FE-SEM, EDS, Dual EDS

장비상세설명

(※ 본 장비에서는 파우더 및 자성물질 측정시 담당자와 사전협의 후 진행 하오니 예약 신청 시 참고 바랍니다.)

SE image resolution : 0.7nm guaranteed or better (at 15kV, GB mode)

                                    1.2nm guaranteed or better (at 1kV, GB mode)

                                    0.7nm guaranteed or better (at 1kV, GBSH mode)

                                    3.0nm guaranteed or better (at 5kV, 5nA, WD10mm)

Accelerating voltage : 0.01 to 30 kV (SEM mode & GB mode) or wider

Sample bias voltage : 0 to 5kV

Probe current : pA to 500nA or better

Magnification : x25 to 1,000,000

Electron Gun : In-lens Schottky Plus field emission electron gun

Objective lens : Super Hybrid Lens

Dual EDS Detector System  : LN2 Free SDD type , 150mm2 or larger

Energy resolution : 127eV at 20,000cps, (Mn Ka) or better

장비사용료

장비사용료 용도 이용료부과기준 이용수가(원) 비고
직접사용 서비스
나노재료의 표면 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ BEI/ EDS (파우더 및 자성체 측정시 담당자와 사전협의 후 진행) 1시간 0 100,000 내부:85000 (할인율 적용), 외부: 100000 (EDS,Pt 재료비 별도)
  • 포항공과대학교 및 현금 출자기관 사용자는 장비사용료에서 20% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 이용자협의회 사용자는 장비사용료에서 10% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 장비사용료 청구익월초 일괄 정산합니다. 단, 요청시 당월 발행도 가능합니다.
  • 부가가치세(10%) 별도

장비담당자

장비담당자 전화번호 이메일
백경흠 054-279-0235 kyonghum@postech.ac.kr
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