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Sample Preparation System

가동중
기자재관리번호 B0000055-061005-A0023
장비명(영문) Sample Preparation System
장비명(국문) TEM, AP 샘플준비
제조사
모델
사양
용도 Cutting/Grinding/Polishi/Gentle Mill/Ion Beam Thinner
키워드

장비상세설명

< Replica >

TEM으로 표면의 석출물 관찰시 레플리카법 사용

 

** Replica의 경우, 탄소증착을 위해 Carbon Coater 1회 별도 청구

** 재료비 : TEM GRID (재질에 따라 비용 다름)


** Replica 진행하고자 하신다면 하기의 사항에 대해 먼저 확인이 필요합니다.

-. 분석소재의 종류 : 철강, 비철금속

-. 분석시편의 갯수

-. 분석하고자 하는 목적

-, 샘플 조성, 조직 크기

-, 석출물 사이즈, 어떤 원소가 있는지(Li 등)

 

 

 < EBSD Sample Prep. >

** EBSD관련 시편에 대한 직접 Polishing 후, FIB 장비를 이용하여 관찰.

**시편준비실은 시편 Mechanical Polishing(Water Base)후, Colloidal Silica 까지 진행합니다. (※FIB를 이용한 관찰은 별도 문의)

** EBSD 분석을 진행하고자 하신다면 하기의 사항에 대해 먼저 확인이 필요합니다.

-. 분석소재의 종류 : 철강, 비철금속

-. 분석시편의 갯수

-. 분석하고자 하는 목적

-, 샘플 조성, 조직 크기

 

 

 

 

 

장비사용료

장비사용료 용도 이용료부과기준 이용수가(원) 비고
직접사용 서비스
Sample Preparation System(Si - TEM 제작) 회/매 0 100,000 시료당 4hr, 재료비별도
Sample Preparation System(Replica) 회/매 0 100,000 시료당 4hr, 재료비별도
Sample Preparation System(EBSD/steel-TEM) 회/매 0 100,000 시료당 4hr, 재료비별도
TEM GRID 회/매 10,000 15,000 재료비별도
  • 포항공과대학교 및 현금 출자기관 사용자는 장비사용료에서 20% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 이용자협의회 사용자는 장비사용료에서 10% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 장비사용료 청구익월초 일괄 정산합니다. 단, 요청시 당월 발행도 가능합니다.
  • 부가가치세(10%) 별도

장비담당자

장비담당자 전화번호 이메일
백보경 054-279-0323 bkbaek@postech.ac.kr
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