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HR-[S]TEM-I (2100F with Cs Corrected STEM)

가동중
기자재관리번호 B0000055-061001-A0029
장비명(영문) HR-[S]TEM-I (2100F with Cs Corrected STEM)
장비명(국문) 구면수차보정 투과전자현미경
제조사 JEOL
모델 JEOL JEM-2100F (with Cs Corrector on STEM)
사양 Acceleration Voltage : 200kV TEM point resolution : 0.19 nm
용도 투과전자빔에 의한 나노단위의 구조분석 및 원소분석
키워드 TEM/SADP/STEM/BF/HAADF/EDS/EELS

장비상세설명

장비 규격

 Acceleration Voltage : 200kV

 TEM point resolution : 0.19 nm

 TEM lattice resolution : 0.1 nm

 STEM resolution : < 0.1 nm

 HAADF STEM resolution : 0.096 nm

 (with probe Cs-corrector)

 BF STEM resolution : 1.4 nm

 EDS resolution : 136 eV

 Energy resolution : 0.8 eV

 Electron Gun (Emitter) : ZrO/W(100)

 

장비 응용분야

 ①원자 스케일 수준의 구조 분석 : HR-TEM, STEM-HAADF/BF 

 ②결정학적 분석 : SADP(BF,DF), CBED, NBD 

 ③화학적 조성 분석 : Point, Line-profiling, Mapping by EDS and STEM-EELS 

장비사용료

장비사용료 용도 이용료부과기준 이용수가(원) 비고
직접사용 서비스
투과전자빔에 의한 나노구조/성분분석 TEM/ STEM/ EELS/ EDS/ BF/ HAADF 1시간 250,000 250,000
  • 포항공과대학교 및 현금 출자기관 사용자는 장비사용료에서 20% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 이용자협의회 사용자는 장비사용료에서 10% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 장비사용료 청구익월초 일괄 정산합니다. 단, 요청시 당월 발행도 가능합니다.
  • 부가가치세(10%) 별도

장비담당자

장비담당자 전화번호 이메일
박현웅 054-279-0312 hwpark27@postech.ac.kr
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