pGR4wtQ3068tUG2054GQk2145hsC3055hir2405UWJ1716KPVa1o8IJ13ATu3068gOg1742JuP1820GWA3042aOj2288sRV202820Yh

HOME > 장비서비스 > 장비소개
  • 공정기술팀 분야
  • 특성평가팀 분야
  • 무한상상실 분야

High Resolution FE-SEM-I (JSM 7401F)

가동중
기자재관리번호 B0000055-052008-A0001
장비명(영문) High Resolution FE-SEM-I (JSM 7401F)
장비명(국문) 고분해능 전계방출 주사전자현미경
제조사 JEOL
모델 JEOL JSM-7401F
사양 1.0 nm/15kV
용도 나노재료의 표명 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ BEI/EDS
키워드

장비상세설명

<재료비 별도>

1) Pt Coating

2) EDS 성분 분석 시, 액체 질소 필요 (사전문의 바랍니다)

 

 

<현재 코로나-19 확산 방지를 위해 외부인 출입통제를 진행>


방문이 필요할 시 출입 목적에 따라 담당자가 입회하에 들어오실 수 있습니다.

 

장비 담당자가 근무하는 시간(9시~18시)에 장비 이용을 부탁드리겠습니다.

야간 직접사용의 경우, 18시 이전에 방문하시면 출입이 가능합니다!!

추가 문의사항 있으시면 연락주시기 바랍니다.





장비사용료

장비사용료 용도 이용료부과기준 이용수가(원) 비고
직접사용 서비스
나노재료의 표면 및 형태관찰/ 성분분석 SEI/ BEI/ EDS 1시간 50,000 100,000 재료비 별도 (Pt Coating/EDS 성분 분석)
  • 포항공과대학교 및 현금 출자기관 사용자는 장비사용료에서 20% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 이용자협의회 사용자는 장비사용료에서 10% 할인 된 금액으로 청구 됩니다.
  • 장비사용료 청구익월초 일괄 정산합니다. 단, 요청시 당월 발행도 가능합니다.
  • 부가가치세(10%) 별도

장비담당자

장비담당자 전화번호 이메일
김지은 054-279-0289 ji2004@postech.ac.kr
예약신청 목록보기